[發明專利]一種測量TD-LTE終端矢量幅度誤差的方法及裝置

無效

• 申請號: 201210552275.7
• 申請日: 2012-12-18
• 公開（公告）號: CN102970259A
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發明（設計）人: 王丹;彭德義;李小文;陳發堂;王華華;劉宇
• 申請（專利權）人: 重慶郵電大學
• 主分類號: H04L25/02
• 分類號: H04L25/02;H04L27/38
• 代理公司: 北京同恒源知識產權代理有限公司 11275
• 代理人: 趙榮之

技術領域

本發明屬于TD-LTE終端測試領域，涉及一種測量TD-LTE終端矢量幅度誤差的方法和裝置。

背景技術

在進行TD-LTE（Time?Division-Long?Term?Evolution，時分-長期演進）系統上行傳送數據的過程當中，終端根據不同的信道和帶寬分配條件，采用不同的調制方式，特別在上行共享信道傳輸過程中采用多種數字調制方式，包括QPSK（Quadrature?Phase?Shift?Keying，正交相移鍵控）、16QAM（16Quadrature?Amplitude?Modulation，16-正交幅度調制）以及64QAM（64Quadrature?Amplitude?Modulation，64-正交幅度調制）。這些都是非恒定包絡調制方式，由于理想調制波形與實際測得的調制波形在幅度上存在誤差，相位誤差和頻偏已經不能準確地反映終端設備的調制精度。因此，需要一種能夠準確衡量信號幅度偏差的指標，反映信號的損傷程度，于是將矢量幅度誤差EVM（Error?Vector?Magnitude，誤差矢量幅度）指標作為衡量TD-LTE終端調制質量一項重要指標。

在實際的測量過程中，由于IQ信號幅度不平衡、正交調制器相位誤差以及載波泄露等因素的存在，導致EVM計算存在很大的偏差。特別是在終端測試儀器中模擬多普勒頻移信道環境下，使得信號存在很大的頻率漂移，從而使接收的測量信號存在相位漂移，導致EVM的計算結果不夠準確。因此在進行EVM測量之前準確地消除頻偏影響是測試EVM的關鍵。目前消除頻偏的方法都是在FFT（Fast?Fourier?Transform，快速傅里葉變換）之前利用一個SC-FDMA（Single?Carrier-Frequency?Division?Multiple?Access，單載波-頻分多址）符號的循環前綴和該符號的最后一部分樣點做相關估計得到每一個符號的頻偏，這樣對每一個SC-FDMA符號就要計算N（N為FFT點數）個頻偏因子并對其進行頻偏補償。而實際分配給某一個終端的并非是滿帶寬的，這樣的計算必然產生一定量的無效數據，且計算得到的頻偏不夠精確。目前對于參考信號的產生方法，是將采樣信號進行解調、譯碼等處理后，再重新進行調制來得到的，其處理過程耗時相當長，難以滿足對實時信號的測量的要求。

綜上所述，現有的TD-LTE終端測試儀器中缺少一種簡單且精確的EVM測量方法。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種測量TD-LTE終端矢量幅度誤差的方法和裝置，采用該方法和裝置能夠在具備高精確度的矢量幅度誤差值的同時保證較高的算法效率。

為達到上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種測量TD-LTE終端矢量幅度誤差的方法，其步驟為：步驟一：將解調前端模塊輸出的復值序列作為采樣符號序列，對其進行硬判決，找到距離每個采樣符號最近的星座點，作為該采樣符合的參考符號；步驟二：分別求出各采樣符號和對應的參考符號的相位角，并求相位角差，估計各采樣符號的頻偏因子；步驟三：對各采樣符號進行頻偏補償；

步驟四：將頻偏補償后的修正符號與參考符號相減得到該采樣符號的矢量幅度誤差，進而求得所有符號的EVM值。

進一步，步驟一中所述硬判決過程采用區間劃分法，將相鄰兩個星座點的中間值作為區間劃分值md，將第i個采樣符號Sample_symb(i)與區間劃分值md進行比較，從而找到距離該符號最近的星座點符號作為參考符號Reference_symb(i)。

進一步，采用以下公式求取步驟二中所述的頻偏因子：

Δf(i)＝angle(Sample_symb(i))-angle(Reference_symb(i))，其中Sample_symb(i)表示第i個采樣符號，Reference_symb(i)表示其參考符號，angle()表示求相位角，求相位角以調用現有的反正切函數的方式進行。

進一步，步驟三中對各采樣符號進行頻偏補償根據以下公式進行：

Revise_symb(i)＝Sample_symb(i)*exp(-j*Δf(i))，其中Sample_symb(i)表示第i個采樣符號，Revise_symb(i)為經過修正后的該采樣符號，Δf(i)為頻偏因子；進而：

Revise_symb(i)＝Sample_symb(i)*[cos(Δf(i))-sin(Δf(i))]。