[發明專利]透鏡測量設備及測量方法

無效

• 申請號: 201210550807.3
• 申請日: 2012-12-18
• 公開（公告）號: CN103868486A
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發明（設計）人: 郭章緯
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01B21/08
• 分類號: G01B21/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種透鏡厚度測量設備，其特征在于：包括第一基臺、第二基臺、第一定位件、第二定位件及測量器，第一定位件固定安裝于第一基臺上，第二定位件活動安裝于第二基臺上，第一定位件用于抵頂透鏡入光面及出光面中的一個，第二定位件用于朝向透鏡移動而抵頂透鏡入光面及出光面中的另一個，測量器根據第二定位件的移動距離測出透鏡的厚度。

2.如權利要求1所述的透鏡厚度測量設備，其特征在于：第一定位件包括穿設第一基臺的桿件及固定于桿件末端的抵靠部，第二定位件包括穿設第二基臺的桿件及固定于桿件末端的抵靠部。

3.如權利要求2所述的透鏡厚度測量設備，其特征在于：第一定位件的抵靠部及第二定位件的抵靠部均呈球形。

4.如權利要求1所述的透鏡厚度測量設備，其特征在于：還包括固定于第二定位件上的操作段，第二定位件隨著操作段的移動而抵頂透鏡入光面及出光面中的另一個。

5.如權利要求4所述的透鏡厚度測量設備，其特征在于：測量器固定于操作段上。

6.一種透鏡厚度的測量方法，包括：

提供測量設備，測量設備包括第一基臺、第二基臺、第一定位件、第二定位件及測量器，第一定位件固定安裝于第一基臺上，第二定位件活動地安裝于第二基臺上；

將透鏡的入光面及出光面中的一個抵靠在第一定位件上；

朝向透鏡移動第二定位件，使第二定位件抵靠透鏡的出光面及入光面中的另外一個，此時測量器根據第二定位件的移動距離測出透鏡的厚度。

7.如權利要求6所述的測量方法，其特征在于：第一定位件包括抵靠透鏡入光面及出光面其中一個的抵靠部，第二定位件包括抵靠透鏡入光面及出光面其中另一個的抵靠部，透鏡的入光面及出光面均為凹面，第一定位件及第二定位件的抵靠部的曲率半徑小于透鏡入光面及出光面的曲率半徑。

8.如權利要求6所述的測量方法，其特征在于：測量設備還包括第三基臺，在將透鏡的入光面及出光面中的一個抵靠在第一定位件上的過程中還包括將透鏡放置在第三基臺上的步驟，第一基臺、第三基臺及第二基臺依次排列對齊。

9.如權利要求6所述的測量方法，其特征在于：測量設備還包括固定于第二定位件的操作段，第二定位件是通過操作操作段向透鏡移動的。

10.如權利要求9所述的測量方法，其特征在于：測量器固定于操作段上。