[發明專利]一種再布線AAQFN封裝器件的制造方法無效
| 申請號: | 201210548640.7 | 申請日: | 2012-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN103021889A | 公開(公告)日: | 2013-04-03 |
| 發明(設計)人: | 秦飛;夏國峰;安彤;劉程艷;武偉;朱文輝 | 申請(專利權)人: | 北京工業大學 |
| 主分類號: | H01L21/60 | 分類號: | H01L21/60 |
| 代理公司: | 北京思海天達知識產權代理有限公司 11203 | 代理人: | 劉萍 |
| 地址: | 100124 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 布線 aaqfn 封裝 器件 制造 方法 | ||
1.一種再布線AAQFN封裝器件的制造方法,其特征在于,再布線AAQFN封裝器件包括:
多個引腳在封裝器件中呈面陣排列;
絕緣填充材料配置于引腳與引腳之間;
IC芯片通過粘貼材料配置于封裝器件的中心位置;
第一金屬材料層圍繞IC芯片排列;
引腳通過再布線層實現與第一金屬材料層的連接;
第二金屬材料層配置于引腳的下表面;
IC芯片通過金屬導線連接至第一金屬材料層;
塑封材料包覆密封上述IC芯片、粘貼材料、金屬導線、第一金屬材料層和再布線層,僅僅暴露出配置于引腳下表面的第二金屬材料層。
該方法,包括以下步驟:
(a)采用曝光顯影方法,在金屬基材上表面形成具有窗口的掩膜材料層;
(b)以具有窗口的掩膜材料層作為抗蝕層,對金屬基材上表面進行蝕刻,形成引腳和凹槽,或以具有窗口的掩膜材料層作為抗鍍層,對金屬基材上表面進行電鍍,形成引腳和凹槽;
(c)移除配置于金屬基材上表面的掩膜材料層;
(d)采用注塑或者絲網印刷方法在引腳之間的凹槽中配置絕緣填充材料;
(e)采用曝光顯影方法,在絕緣填充材料和引腳的表面位置制作具有窗口的掩膜材料層;
(f)依次采用化學鍍和電鍍方法在掩膜材料層的窗口中制作再布線層;
(g)移除配置于絕緣填充材料和引腳表面的掩膜材料層;
(h)采用電鍍或化學鍍方法在再布線層的表面部分配置第一金屬材料層;
(i)通過粘貼材料將IC芯片配置于封裝器件的中心位置;
(j)IC芯片通過金屬導線連接至第一金屬材料層;
(k)采用注塑方法用塑封材料包覆密封IC芯片、粘貼材料、金屬導線、再布線層和第一金屬材料層,塑封后進行烘烤后固化;
(l)采用機械磨削方法或者蝕刻方法對金屬基材進行減薄,形成獨立的引腳;
(m)采用化學鍍方法在引腳下表面制作第二金屬材料層;
(n)分離形成獨立的單個封裝件。
2.根據權利要求1所述的再布線AAQFN封裝器件的制造方法,其特征在于,經蝕刻方法或者電鍍方法形成的引腳厚度范圍為0.03mm-0.15mm。
3.根據權利要求1所述的再布線AAQFN封裝器件的制造方法,其特征在于,依次采用化學鍍和電鍍方法制作的再布線層的厚度范圍為0.02mm-0.15mm。
4.根據權利要求1所述的再布線AAQFN封裝器件的制造方法,其特征在于,采用刀片切割、激光切割或者水刀切割方法切割分離形成單個封裝件,且僅切割塑封材料和絕緣填充材料。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





