[發明專利]圖片缺陷調整方法及系統

有效

• 申請號: 201210548427.6
• 申請日: 2012-12-17
• 公開（公告）號: CN103871028B
• 公開（公告）日: 2017-12-01
• 發明（設計）人: 蔣興華;余三思
• 申請（專利權）人: 合肥市騰訊信息科技有限公司
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00
• 代理公司: 深圳市深佳知識產權代理事務所(普通合伙)44285
• 代理人: 王仲凱

1.一種圖片缺陷調整方法，適用于數據處理設備，其特征在于，該方法包括步驟：

獲取待調整的圖片，對獲取的圖片進行缺陷增強處理；

對缺陷增強后的圖片進行表面模糊處理，對表面模糊處理前后的圖片進行差值計算，以獲得差值圖片；

對差值圖片進行反相處理，以獲得反相差值圖片，根據反相差值圖片確定一個圖片調整函數，并根據調整函數調整待調整的圖片；其中，所述調整函數為：C＝A+[(A/255)^S–(A/255)]*B，其中，C是調整后的圖片的像素值，A是待調整的圖片的像素值，B是反相差值圖片的像素值，S是調整程度的參數。

2.如權利要求1所述的圖片缺陷調整方法，其特征在于，所述對獲取的圖片進行缺陷增強處理的步驟包括：

提取獲取的圖片中有缺陷的像素塊；

對提取的有缺陷的像素塊進行缺陷增強處理。

3.如權利要求2所述的圖片缺陷調整方法，其特征在于，提取圖片中有缺陷的像素塊的方式為高反差保留方式。

4.如權利要求3所述的圖片缺陷調整方法，其特征在于，所述高反差保留方式包括步驟：

對圖片進行高斯模糊處理；

對高斯模糊處理后的圖片進行反相處理；

對反相處理后的圖片進行線性光融合處理；

對線性光融合處理后的圖片進行透明度處理。

5.如權利要求2所述的圖片缺陷調整方法，其特征在于，對提取的有缺陷的像素塊進行缺陷增強處理的方式為亮光處理方式。

6.一種圖片缺陷調整系統，應用于數據處理設備，其特征在于，該系統包括：

缺陷處理模塊，用于獲取待調整的圖片，對獲取的圖片進行缺陷增強處理；

差值運算模塊，用于對缺陷增強后的圖片進行表面模糊處理，對表面模糊處理前后的圖片進行差值計算，以獲得差值圖片；及

圖片調整模塊，用于對差值圖片進行反相處理，以獲得反相差值圖片，根據反相差值圖片確定一個圖片調整函數，并根據調整函數調整待調整的圖片；其中，所述調整函數為：C＝A+[(A/255)^S–(A/255)]*B，其中，C是調整后的圖片的像素值，A是待調整的圖片的像素值，B是反相差值圖片的像素值，S是調整程度的參數。

7.如權利要求6所述的圖片缺陷調整系統，其特征在于，所述缺陷處理模塊用于：

提取獲取的圖片中有缺陷的像素塊；

對提取的有缺陷的像素塊進行缺陷增強處理。

8.如權利要求7所述的圖片缺陷調整系統，其特征在于，所述缺陷處理模塊提取圖片中有缺陷的像素塊的方式為高反差保留方式。

9.如權利要求8所述的圖片缺陷調整系統，其特征在于，所述高反差保留方式包括步驟：

對圖片進行高斯模糊處理；

對高斯模糊處理后的圖片進行反相處理；

對反相處理后的圖片進行線性光融合處理；

對線性光融合處理后的圖片進行透明度處理。

10.如權利要求7所述的圖片缺陷調整系統，其特征在于，所述缺陷處理模塊對提取的有缺陷的像素塊進行缺陷增強處理的方式為亮光處理方式。