[發明專利]光耦合透鏡檢測系統及其檢測方法

無效

• 申請號: 201210547168.5
• 申請日: 2012-12-17
• 公開（公告）號: CN103868677A
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發明（設計）人: 洪毅
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G02B7/02;G02B7/182
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種光耦合透鏡檢測系統，其包括：

光耦合透鏡，其包括光入射面、與該光入射面垂直的光出射面、與該光入射面及該光出射面均相連且呈45度夾角的反射面、至少一個第一會聚透鏡、至少一個第二會聚透鏡、第一定位柱、第二定位柱、兩個第一對位柱及兩個第二對位柱，該第一定位柱、該兩個第一對位柱及該至少一個第一會聚透鏡相互間隔地設置于該光入射面上，該第二定位柱、該兩個第二對位柱及該至少一個第二會聚透鏡相互間隔地設置于該光出射面上，該至少一個第一會聚透鏡與該至少一個第二會聚透鏡一一對應，該第二定位柱翻轉90度后在該光入射面上的投影的中心與該第一定位柱的中心完全重合，該兩個第一對位柱與該兩個第二對位柱一一對應，各第一會聚透鏡分別相對該兩個第一對位柱的位置與對應的第二會聚透鏡相對對應的第二對位柱的位置一致；及

反射鏡，其一端抵觸于該反射面與該光出射面相交的交線上，另一端遠離該光出射面，該反射鏡與該光出射面之間的夾角為45度，且該反射鏡的鏡面朝向該光出射面。

2.如權利要求1所述的光耦合透鏡檢測系統，其特征在于，該光耦合透鏡檢測系統還包括影像攝取裝置，該影像攝取裝置的光軸垂直該光入射面并用于拍攝包括該光入射面及該反射鏡的圖像。

3.如權利要求2所述的光耦合透鏡檢測系統，其特征在于，該光耦合透鏡還包括分析計算裝置，該分析計算裝置與該影像攝取裝置電性連接，該分析計算裝置用于以該圖像中的第一定位柱及該圖像中的該第二定位柱經該反射鏡所成的像為參考點并依據對稱原則分析該圖像中各第一對位柱的第一中心與對應的第二對位柱經該反射鏡所成的像的第二中心之間是否存在偏差并在存在偏差時計算出偏差量以得出該光耦合透鏡的各第一會聚透鏡的中心與對應的第二會聚透鏡翻轉90度后在該光入射面上的投影的中心之間是否存在偏差及存在偏差時的偏差量。

4.如權利要求1所述的光耦合透鏡檢測系統，其特征在于，該至少一個第一會聚透鏡位于該兩個第一對位柱之間，該至少一個第一會聚透鏡與該兩個第一對位柱排列成一條直線，該至少一個第二會聚透鏡位于該兩個第二對位柱之間，該至少一個第二會聚透鏡與該兩個第二對位柱排列成一條直線。

5.如權利要求1所述的光耦合透鏡檢測系統，其特征在于，該兩個第一對位柱及該兩個第二對位柱為圓柱體，該第一定位柱及該第二定位柱為半圓柱體。

6.一種光耦合透鏡檢測方法，其包括以下步驟：

提供一個光耦合透鏡及一個反射鏡；該光耦合透鏡包括光入射面、與該光入射面垂直的光出射面、與該光入射面及該光出射面均相連且呈45度夾角的反射面、至少一個第一會聚透鏡、至少一個第二會聚透鏡、第一定位柱、第二定位柱、兩個第一對位柱及兩個第二對位柱，該第一定位柱、該兩個第一對位柱及該至少一個第一會聚透鏡相互間隔地設置于該光入射面上，該第二定位柱、該兩個第二對位柱及該至少一個第二會聚透鏡相互間隔地設置于該光出射面上，該至少一個第一會聚透鏡與該至少一個第二會聚透鏡一一對應，該第二定位柱翻轉90度后在該光入射面上的投影的中心與第一定位柱的中心完全重合，該兩個第一對位柱與該兩個第二對位柱一一對應，各第一會聚透鏡分別相對該兩個第一對位柱的位置與對應的第二會聚透鏡相對對應的第二對位柱的位置一致；該反射鏡的一端抵觸于該反射面與該光出射面相交的交線上，另一端遠離該光出射面，該反射鏡與該光出射面之間的夾角為45度，且該反射鏡的鏡面朝向該光出射面；及

在垂直該光入射面的方向觀察該反射鏡及該光入射面，且以該第一定位柱及該第二定位柱經該反射鏡所成的像作為參考點并依據對稱原則判斷各第一對位柱的第一中心與對應的第二對位柱經該反射鏡所成的像的第二中心之間是否存在偏差以得出該光耦合透鏡的各第一會聚透鏡的中心與對應的第二會聚透鏡翻轉90度后在該光入射面上的投影的中心之間是否存在偏差。

7.如權利要求6所述的光耦合透鏡檢測方法，其特征在于，該觀察及判斷步驟包括：

提供一個影像攝取裝置及一個分析計算裝置；

將該影像攝取裝置相對該光入射面放置且使該影像攝取裝置的光軸垂直該光入射面；

使該影像攝取裝置拍攝包括該光入射面及該反射鏡的圖像；

使分析計算裝置以該圖像中的第一定位柱及該圖像中的第二定位柱經該反射鏡所成的像作為參考點并依據對稱原則分析該第一中心與對應的第二中心之間是否存在偏差。