[發(fā)明專利]大功率硅瞬態(tài)電壓抑制二極管的制作方法及結(jié)構(gòu)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210544943.1 | 申請日: | 2012-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN103871874A | 公開(公告)日: | 2014-06-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 吳貴松;程勇;楊秀斌;楊輝 | 申請(專利權(quán))人: | 中國振華集團永光電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/329 | 分類號: | H01L21/329;H01L25/07;H01L29/861 |
| 代理公司: | 貴陽中新專利商標(biāo)事務(wù)所 52100 | 代理人: | 劉楠 |
| 地址: | 550018 貴州省*** | 國省代碼: | 貴州;52 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 大功率 瞬態(tài) 電壓 抑制 二極管 制作方法 結(jié)構(gòu) | ||
1.?一種大功率硅瞬態(tài)電壓抑制二極管的制作方法,其特征在于:該方法通過一組芯片串聯(lián)疊加形成芯片組,以提高硅瞬態(tài)電壓抑制二極管的瞬態(tài)脈沖峰值功率。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述制作方法,其特征在于:所述芯片采用熱膨脹系數(shù)約等于6.95×10-6/℃的硅片制成;硅片兩面進行多元金屬化處理,在芯片表面形成鈦—鎳—金或鈦—鎳—銀層,以解決焊接可靠性問題。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述制作方法,其特征在于:所述芯片為正六邊形。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述制作方法,其特征在于:所述芯片組的兩端以及芯片與芯片之間通過焊片焊接,焊片與芯片材料的熱膨脹系數(shù)之差小于0.7×10-6/℃,以解決芯片與焊片之間的熱匹配問題。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述制作方法,其特征在于:所述焊片采用熱膨脹系數(shù)約等于7.6×10-6/℃,熱導(dǎo)率約等于190W/m.K,厚度為0.5mm的鉬銅片,鉬銅片為外切于芯片的圓形。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述制作方法,其特征在于:所述芯片組包括兩個芯片,以承受20KW~30KW瞬態(tài)脈沖峰值功率。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述制作方法,其特征在于:所述芯片組包括三個芯片,以承受35KW~40KW瞬態(tài)脈沖峰值功率。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述制作方法,其特征在于:所述芯片組包括四個芯片,以承受45KW~50KW瞬態(tài)脈沖峰值功率。
9.一種根據(jù)權(quán)利要求1-8任一權(quán)利要求所述制作方法構(gòu)成的大功率硅瞬態(tài)電壓抑制二極管,其特征在于:包括與負極(1)連接的基座(2),基座(2)上設(shè)有一組間隔設(shè)置的鉬銅片(3)和芯片(4);頂部鉬銅片經(jīng)觸絲(5)與正極(6)連接;基座(2)上設(shè)有管殼(7),管殼(7)頂部設(shè)有絕緣密封(8)。
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H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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