[發明專利]一種高功率線偏振激光光束性能的測量裝置無效
| 申請號： | 201210544766.7 | 申請日： | 2012-12-13 |
| 公開（公告）號： | CN103063411A | 公開（公告）日： | 2013-04-24 |
| 發明（設計）人： | 楊蔓;左都羅;王新兵;陸培祥;徐勇躍;胡耀文;涂嬪 | 申請（專利權）人： | 華中科技大學 |
| 主分類號： | G01M11/02 | 分類號： | G01M11/02;G01J1/00;G01J11/00 |
| 代理公司： | 華中科技大學專利中心 42201 | 代理人： | 朱仁玲 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 功率 偏振 激光 光束 性能 測量 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種高功率線偏振激光光束性能的測量裝置，其特征在于，包括：第一楔形鏡，第一探測器和第二探測器；
線偏振激光入射至第一楔形鏡的外反射面上，偏振方向在入射面內，經第一楔形鏡的外反射面的反射光由第一探測器進行測量，經第一楔形鏡的內反射面的反射光由第二探測器進行測量。
2.如權利要求1所述的測量裝置，其特征在于，還包括第二楔形鏡，第二楔形鏡的內反射面與第一楔形鏡的外反射面平行且兩楔形鏡的楔角分別在激光光軸的兩邊，線偏振激光依次通過第一楔形鏡和第二楔形鏡后輸出激光光斑。
3.如權利要求2所述的測量裝置，其特征在于，所述第二楔形鏡的外反射面與第一楔形鏡的內反射面之間的間距為4-8cm。
4.如權利要求1或2所述的測量裝置，其特征在于，所述第一探測器為光束質量檢測儀，用于對激光光束的質量進行測量。
5.如權利要求1或2所述的測量裝置，其特征在于，所述第二探測器為光電探測器，用于對激光脈沖的波形進行檢測。
6.如權利要求2所述的測量裝置，其特征在于，所述測量裝置還包括能量計，用于對經第二楔形鏡輸出的激光能量進行測量。
7.如權利要求1所述的測量裝置，其特征在于，所述第一楔形鏡的外反射面與所述線偏振激光的光軸的夾角略偏離布儒斯特角。
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