[發明專利]一種帶FS層的PT型功率器件的制作方法有效
| 申請號: | 201210543954.8 | 申請日: | 2012-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN103871852B | 公開(公告)日: | 2018-01-30 |
| 發明(設計)人: | 吳振興;朱陽軍;胡愛斌;盧爍今;田曉麗 | 申請(專利權)人: | 中國科學院微電子研究所;江蘇物聯網研究發展中心;江蘇中科君芯科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/205 | 分類號: | H01L21/205;H01L21/265;H01L21/331;H01L21/329 |
| 代理公司: | 北京華沛德權律師事務所11302 | 代理人: | 劉麗君 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 fs pt 功率 器件 制作方法 | ||
1.一種帶FS層的PT型功率器件的制作方法,其特征在于,包括:
步驟一:制備襯底;
步驟二:從所述襯底外延出第一N型FS層;
步驟三:對所述第一N型FS層進行局域壽命控制;
步驟四:重復所述步驟二和所述步驟三,從第一N型FS層外延出多個N型FS層,且N型FS層的摻雜濃度逐層下降,所述局域壽命控制注入的劑量也逐層下降,使N型FS層的缺陷濃度也逐層下降;
步驟五:在N型FS層上外延出N-漂移區;
步驟六:制備PT型功率器件的正面結構,再對所述PT型功率器件的背面減薄,并與金屬層形成歐姆接觸。
2.如權利要求1所述的帶FS層的PT型功率器件的制作方法,其特征在于,在所述步驟一中,制備襯底包括:對于不同的功率器件選擇不同類型的襯底。
3.如權利要求2所述的帶FS層的PT型功率器件的制作方法,其特征在于,所述對于不同的功率器件選擇不同類型的襯底包括:對于FRD,選擇摻雜磷離子的襯底;而對于IGBT,則選擇摻雜硼離子的襯底。
4.如權利要求2或3所述的帶FS層的PT型功率器件的制作方法,其特征在于,所述襯底的厚度在300-500μm之間。
5.如權利要求1所述的帶FS層的PT型功率器件的制作方法,其特征在于,在所述步驟二中,從襯底外延出第一N型FS層包括:采用PECVD外延設備從所述襯底外延出一層N型FS層作為第一N型FS層。
6.如權利要求5所述的帶FS層的PT型功率器件的制作方法,其特征在于,所述第一N型FS層的厚度在5-10μm之間,摻雜濃度在1e15-1e16cm-2之間。
7.如權利要求1所述的帶FS層的PT型功率器件的制作方法,其特征在于,在所述步驟三中,對第一N型FS層進行局域壽命控制包括:對所述第一N型FS層進行氦離子注入進行局域壽命控制,使第一N型FS層形成的缺陷濃度在1e13-5e13cm-2之間。
8.如權利要求1所述的帶FS層的PT型功率器件的制作方法,其特征在于,在所述步驟四中,從所述第一N型FS層外延出的第二N型FS層的厚度在5-10μm之間,摻雜濃度在1e14-1e15cm-2之間,經所述局域壽命控制后形成的缺陷濃度為5e12-1e13cm-2。
9.如權利要求1所述的帶FS層的PT型功率器件的制作方法,其特征在于,在所述步驟四中,從所述第一N型FS層外延出多個N型FS層形成一個厚度在20-30μm之間的總的N型FS層。
10.如權利要求1所述的帶FS層的PT型功率器件的制作方法,其特征在于,在所述步驟六中,對PT型功率器件的背面減薄,并與金屬層形成歐姆接觸包括:通過背面研磨將所述PT型功率器件的背面的襯底層減薄,只保留1-2μm的襯底與所述金屬層形成歐姆接觸,完成器件的制備。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





