[發明專利]一種發光二極管外延片及其制備方法有效
| 申請號: | 201210540920.3 | 申請日: | 2012-12-12 |
| 公開(公告)號: | CN103035805A | 公開(公告)日: | 2013-04-10 |
| 發明(設計)人: | 萬林;魏世禎 | 申請(專利權)人: | 華燦光電股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/32 | 分類號: | H01L33/32;H01L33/00 |
| 代理公司: | 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138 | 代理人: | 徐立 |
| 地址: | 430223 湖北省*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 發光二極管 外延 及其 制備 方法 | ||
1.一種發光二極管外延片,其特征在于,所述外延片包括襯底層、以及依次覆蓋在所述襯底層上的緩沖層、非摻雜的GaN層、N型接觸層、N型擴展層、多量子阱層和P型層;所述N型擴展層是由若干第一子層和若干第二子層交替形成的超晶格結構;所述第一子層采用N型摻雜的AlxGa1-xN作為生長材料,0<x<1;所述第二子層采用N型摻雜的GaN作為生長材料。
2.根據權利要求1所述的外延片,其特征在于,每層所述第一子層中Al的濃度為定值且各層所述第一子層中Al的濃度不同,從所述N型擴展層的靠近所述N型接觸層的一側到所述N型擴展層的靠近所述多量子阱層的一側,所述若干第一子層中Al的濃度有規律地均勻變化。
3.根據權利要求1所述的外延片,其特征在于,所述若干第一子層中Al的濃度是相同的,每層所述第一子層中Al的濃度有規律地均勻變化。
4.根據權利要求2或3所述的外延片,其特征在于,所述Al的濃度有規律地均勻變化為以下變化方式中的一種:均勻增大、均勻減小、均勻增大再均勻減小、均勻減小再均勻增大、均勻增大再均勻減小最后均勻增大、均勻減小再均勻增大最后均勻減小、以先均勻增大再均勻減小為一個變化周期進行均勻變化、以及以先均勻減小再均勻增大為一個變化周期進行均勻變化。
5.根據權利要求1~3所述的外延片,其特征在于,所述第一子層中Al的濃度為1%~30%。
6.根據權利要求1所述的外延片,其特征在于,所述第一子層和所述第二子層的厚度均為1~10nm。
7.一種發光二極管外延片的制備方法,其特征在于,所述方法包括依次在襯底層上生長緩沖層、非摻雜的GaN層、N型接觸層、N型擴展層、多量子阱層和P型層;生長所述N型擴展層為在所述N型接觸層上交替生長若干第一子層和若干第二子層,形成超晶格結構;所述第一子層采用N型摻雜的AlxGa1-xN作為生長材料,0<x<1;所述第二子層采用N型摻雜的GaN作為生長材料。
8.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,每層所述第一子層中Al的濃度為定值且各層所述第一子層中Al的濃度不同,從所述N型擴展層的靠近所述N型接觸層的一側到所述N型擴展層的靠近所述多量子阱層的一側,所述若干第一子層中Al的濃度有規律地均勻變化。
9.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述若干第一子層中Al的濃度是相同的,每層所述第一子層中Al的濃度有規律地均勻變化。
10.根據權利要求8或9所述的方法,其特征在于,所述Al的濃度有規律地均勻變化為以下變化方式中的一種:均勻增大、均勻減小、均勻增大再均勻減小、均勻減小再均勻增大、均勻增大再均勻減小最后均勻增大、均勻減小再均勻增大最后均勻減小、以先均勻增大再均勻減小為一個變化周期進行均勻變化、以及以先均勻減小再均勻增大為一個變化周期進行均勻變化。
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