[發明專利]一種導電結構表面多裂紋的渦流檢測探頭及其檢測方法無效
| 申請號: | 201210538929.0 | 申請日: | 2012-12-13 |
| 公開(公告)號: | CN103868987A | 公開(公告)日: | 2014-06-18 |
| 發明(設計)人: | 張思全;劉雨 | 申請(專利權)人: | 上海海事大學 |
| 主分類號: | G01N27/90 | 分類號: | G01N27/90 |
| 代理公司: | 上海三和萬國知識產權代理事務所(普通合伙) 31230 | 代理人: | 張民華 |
| 地址: | 201306 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 導電 結構 表面 裂紋 渦流 檢測 探頭 及其 方法 | ||
1.一種檢測金屬結構表面多裂紋缺陷的渦電流探頭,其特征在于:包括有激勵線圈陣列與檢測線圈陣列;
激勵線圈陣列由與被檢測結構(5)表面平行的平面線圈陣列(1a)、(1b)和與被檢測結構(5)表面垂直的線圈(2a)、(2b)、(2c)組成;
檢測線圈陣列由與被檢測結構(5)表面平行的平面線圈陣列(4a)、(4b)、(4c)、(4d)、(4e)、(4f)、(4g)、(4h)和與被檢測結構(5)表面垂直的線圈陣列(3a)、(3b)、(3c)、(3d)、(3e)、(3f)組成。
2.根據權利要求1所述的檢測導電結構表面多裂紋的探頭,其特征在于:平面激勵線圈(1a)、(1b)呈矩形,且矩形的長與寬之比大于3,平面矩形激勵線圈(1a)與(1b)的尺寸相同,數量至少為兩個,(1a)與(1b)相互之間平行排列。
3.根據權利要求1所述的檢測導電結構表面多裂紋的探頭,其特征在于:垂直方向激勵線圈(2a)、(2b)、(2c)呈矩形,數量至少為三個,各線圈的尺寸相同,都垂直于被檢測結構(5)表面,且相互之間平行排列;
兩個平面激勵線圈(1a)與(1b)位于三個垂直方向激勵線圈(2a)、(2b)、(2c)之間。
4.根據權利要求1所述的檢測導電結構表面多裂紋的探頭,其特征在于:垂直方向檢測線圈(3a)、(3b)、(3c)、(3d)、(3e)、(3f)呈矩形,與平面激勵線圈(1a)、(1b)所在平面相垂直,各垂直方向檢測線圈的尺寸相同,每個平面激勵線圈(1a)或(1b)上方垂直方向檢測線圈的數量至少為4個,各垂直方向檢測線圈之間等間距平行排列。
5.根據權利要求1所述的檢測導電結構表面多裂紋的探頭,其特征在于:平面檢測線圈(4a)、(4b)、(4c)、(4d)、(4e)、(4f)、(4g)、(4h)呈矩形,平行于被檢測結構(5)表面,各平面矩形檢測線圈的尺寸相同,位于等間距排列垂直方向檢測線圈(3a)、(3b)、(3c)、(3d)、(3e)、(3f)與平面激勵線圈(1a)、(1b)的邊框之間。
6.一種金屬結構表面多裂紋缺陷的渦電流檢測方法,其特征在于:激勵線圈陣列(2a)、(2b)、(2c)與(1a)、(1b)分別在被檢測結構(5)表面一個較大的區域產生不同方向的電磁場(9)與渦電流(11),在電磁場(9)與渦電流(11)的通路上,被檢測結構(5)表面裂紋(6)、(7)或(8)的存在將會引起電磁場(9)與渦電流(11)的擾動;
通過平面檢測線圈(4a)、(4b)、(4c)、(4d)、(4e)、(4f)、(4g)、(4h)可感測電磁場(9)的變化;
通過垂直方向檢測線圈(3a)、(3b)、(3c)、(3d)、(3e)、(3f)可感測渦電流(11)的變化;
利用此探頭感測線圈陣列可以同時檢測導電結構(5)表面不同位置鄰近分布多個裂紋(6)、(7)或(8)的存在。可以確定裂紋的數量,并根據獲得裂紋信號(10)的檢測線圈的不同判斷裂紋的不同方向,并根據所獲得缺陷信號(10)的分布及幅度可判斷裂紋的形狀。
7.根據權利要求6所述的檢測導電結構表面多裂紋的方法,其特征在于:在被檢測導電結構(5)表面與垂直方向檢測線圈(3a)、(3b)、(3c)、(3d)、(3e)、(3f)平行的裂紋(6)、(7),可以通過垂直方向檢測線圈對平面激勵線圈(1a)、(1b)產生的渦電流(11)受裂紋(6)或(7)擾動變化引起磁場變化的檢測實現;
平面激勵線圈(1a)、(1b)激發的渦電流(11)在遇到與垂直方向檢測線圈(3a)、(3b)、(3c)、(3d)、(3e)、(3f)相平行的裂紋時將沿裂紋分流,這個被分流的渦電流(11)可以被與該裂紋最近的垂直方向檢測線圈檢測到,體現在該線圈信號(10)的幅值變化最大。據此可知在該線圈附近有與該垂直方向檢測線圈相平行的裂紋。
8.根據權利要求6所述的檢測導電結構表面多裂紋的方法,其特征在于:垂直方向激勵線圈(2a)、(2b)、(2c)激發的與該線圈表面垂直的磁通(9)在遇到與垂直方向檢測線圈(3a)、(3b)、(3c)、(3d)、(3e)、(3f)垂直的裂紋(8)時受到該裂紋的擾動后使磁通方向改變,將有垂直被檢測結構(5)表面的磁通分量產生,這個磁通分量在平面檢測線圈(4a)、(4b)、(4c)、(4d)、(4e)、(4f)、(4g)、(4h)中某一個與該裂紋最近的線圈中產生最大的信號(10)幅度,據此可知在該檢測線圈附近有與垂直方向檢測線圈(3a)、(3b)、(3c)、(3d)、(3e)、(3f)相垂直的裂紋(8)。
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