[發明專利]一種連續場景的稀疏陣列SAR側視三維成像方法有效
| 申請號: | 201210537094.7 | 申請日: | 2012-12-12 |
| 公開(公告)號: | CN103869312A | 公開(公告)日: | 2014-06-18 |
| 發明(設計)人: | 李道京;張清娟;李烈辰 | 申請(專利權)人: | 中國科學院電子學研究所 |
| 主分類號: | G01S13/90 | 分類號: | G01S13/90 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
| 地址: | 100080 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 連續 場景 稀疏 陣列 sar 側視 三維 成像 方法 | ||
1.一種連續場景的稀疏陣列合成孔徑雷達SAR側視三維成像方法,包括:
(1)按照三維成像算法分別對全陣回波信號和參考子陣回波信號進行三維成像,形成全陣三維復圖像S1和參考三維復圖像S2;
(2)信號重構以去掉散射點隨機初相位;
(3)對重構信號進行低通濾波;
(4)在斜平面直角坐標系中重新成像;
(5)將成像結果坐標轉換到傳統直角坐標系中。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于所述三維成像算法是首先對每個子陣的回波信號采用ωK算法進行二維成像,然后用相應的匹配濾波方法對第三維高度方向進行成像。
3.如權利要求2所述的方法,其特征在于,步驟(2)中信號重構包括:利用系統陣列中的三個連續子陣的回波數據作為參考回波數據,對其進行三維成像處理,并設為三維參考復圖像S2;對陣列中全部子陣獲得的回波信號進行三維成像處理,形成全陣三維復圖像S1;以三維參考復圖像S2作為參考,讓全陣三維復圖像S1的相位減去三維參考復圖像S2的相位后,將得到的三維復圖像變換至回波域后形成重構的三維回波信號,經低通濾波后得到重構信號。
4.如權利要求3所述的方法,其特征在于所述三維參考復圖像按照以下方式被構造:假設密集陣型[111111111111111]等間隔稀疏2倍,成為陣型[100100100100100],增設2個子陣形成稀疏陣型[100100111001001],將中間三個連續的子陣的回波信號進行三維成像作為三維參考復圖像。
5.如權利要求1所述的方法,其特征在于所述斜平面直角坐標系為坐標軸建立在順軌向x,距離向r,以及與順軌和距離平面垂直的高度方向s上。
6.如權利要求5所述的方法,其特征在于成像時還需將交軌方向的水平陣列獲取的回波信號投影到與水平方向成θ角的直線上,其中θ為場景中心入射角。
7.如權利要求1所述的方法,其特征在于所述傳統直角坐標系的y軸用斜距表示。
8.如權利要求1所述的方法,其特征在于,在觀測場景具有連續性的情況下,三維成像時陣列天線SAR可以在順軌向和距離向進行降采樣。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學院電子學研究所,未經中國科學院電子學研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210537094.7/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





