[發明專利]探針檢測裝置

無效

• 申請號: 201210536538.5
• 申請日: 2012-12-13
• 公開（公告）號: CN102998492A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發明（設計）人: 嚴定文
• 申請（專利權）人: 昆山諾瑞信機械設備有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R1/04
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種探針檢測裝置，尤其涉及一種具有扳手避位槽的探針檢測裝置。

背景技術

電子探針(Electron?Microprobe)，全名為電子探針X射線顯微分析儀，又名微區X射線譜分析儀。可對試樣進行微小區域成分分析。除H、He、Li、Be等幾個較輕元素外，都可進行定性和定量分析。

電子探針的大批量是利用經過加速和聚焦的極窄的電子束為探針，激發試樣中某一微小區域，使其發出特征X射線，測定該X射線的波長和強度，即可對該微區的元素作定性或定量分析。將掃描電子顯微鏡和電子探針結合，在顯微鏡下把觀察到的顯微組織和元素成分聯系起來，解決材料顯微不均勻性的問題，成為研究亞微觀結構的有力工具。

電子探針有三種基本工作方式：點分析用于選定點的全譜定性分析或定量分析，以及對其中所含元素進行定量分析；線分析用于顯示元素沿選定直線方向上的濃度變化；面分析用于觀察元素在選定微區內濃度分布。

電子探針又稱微區X射線光譜分析儀、X射線顯微分析儀。其原理是利用聚焦的高能電子束轟擊固體表面，使被轟擊的元素激發出特征X射線，按其波長及強度對固體表面微區進行定性及定量化學分析。

電子探針主要用來分析固體物質表面的細小顆粒或微小區域，最小范圍直徑為1μm左右。分析元素從原子序數3(鋰)至92(鈾)。絕對感量可達10-14至10-15g。近年形成了掃描電鏡-顯微分析儀的聯合裝置，可在觀察微區形貌的同時逐點分析試樣的化學成分及結構。

由于具有以上特點及優點，電子探針廣泛應用于冶金、地質、電子材料、生物、醫學、考古以及其它領域中得到日益廣泛地應用，是礦物測試分析和樣品成分分析的重要工具。

同時，電子探針在產品的裝配檢測方面也發揮了重要作用。請參閱圖1所示，圖1為現有用于USB連接器的探針檢測裝置的立體圖，所述探針檢測裝置9包括絕緣座91、固定在絕緣座內的探針92、設置在絕緣座上的扳手93及開設在絕緣座前端的元件插口94。檢測時，向下按壓扳手自由端930，被檢測元件可以插入元件插口內，此時被檢測元件與探針前端電性接觸，通過探針后端所連接的設備可以檢測被檢測元件的相應指標。然而，現有探針檢測裝置的弊端是顯而易見的：扳手93自由端的操作空間不足，導致按壓操作難度大，操作工時長，生產效率低下。因此，如何克服扳手93自由端操作空間不足以便于操作，進而提高生產效率，便成為業界急需解決的問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種具有扳手避位槽的探針檢測裝置。

為實現上述發明目的，本發明的探針檢測裝置，包括：絕緣座、固定在絕緣座內的探針、設置在絕緣座上的扳手及開設在絕緣座前端的元件插口，所述絕緣座上設有扳手避位槽，檢測時，所述避位槽的存在可以保證很容易地向下按壓扳手自由端，以使被檢測元件插入元件插口內，此時被檢測元件與探針前端電性接觸，通過探針后端所連接的設備可以檢測被檢測元件的相應指標。

作為本發明的進一步改進，所述扳手避位槽設置于扳手自由端的下方。

作為本發明的進一步改進，所述扳手避位槽系由絕緣座后端的上表面下沉而成。

作為本發明的進一步改進，所述避位槽沿絕緣座長度方向貫穿絕緣座后端。

作為本發明的進一步改進，所述扳手的自由端延伸至避位槽上方以便于按壓。

作為本發明的進一步改進，所述扳手的自由端不超過避位槽的長度。

作為本發明的進一步改進，所述扳手的材質為鋁合金。

作為本發明的進一步改進，所述扳手的材質為黃銅。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：所述絕緣座靠近扳手自由端處設有避位槽，從而為扳手的下壓提供了操作空間，可以減少操作難度、縮短操作工時、提升生產效率。

附圖說明

圖1為現有的探針檢測裝置的立體圖；

圖2為本發明的探針檢測裝置的立體圖；

圖3為本發明的探針檢測裝置另一角度的立體圖；

圖4為本發明的探針檢測裝置的扳手的平面圖。

具體實施方式

下面結合附圖所示的各實施方式對本發明進行詳細說明，但應當說明的是，這些實施方式并非對本發明的限制，本領域普通技術人員根據這些實施方式所作的功能、方法、或者結構上的等效變換或替代，均屬于本發明的保護范圍之內。