[發(fā)明專(zhuān)利]電子元件檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210536022.0
• 申請(qǐng)日: 2012-12-11
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN103018605A
• 公開(kāi)（公告）日: 2013-04-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王曉晗;王祖文;陳波;蔣勁剛;農(nóng)冠勇
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 工業(yè)和信息化部電子第五研究所
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/00
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/00;G01K7/18;H04N7/18
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 王茹;曾旻輝

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及監(jiān)控技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及電子元件檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控系統(tǒng)。

背景技術(shù)

在電子元器件鑒定檢驗(yàn)過(guò)程中，對(duì)于長(zhǎng)時(shí)間的現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)督檢驗(yàn)項(xiàng)目，如集成電路一般有1000h的穩(wěn)態(tài)工作壽命電子元件檢測(cè)試驗(yàn)及240h的耐濕電子元件檢測(cè)試驗(yàn)，這類(lèi)電子元件檢測(cè)試驗(yàn)時(shí)間長(zhǎng)，現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)督人員難以對(duì)其電子元件檢測(cè)試驗(yàn)全過(guò)程進(jìn)行監(jiān)督。

目前的做法是采用起始和終點(diǎn)檢測(cè)，電子元件檢測(cè)試驗(yàn)期間進(jìn)行抽查的方式進(jìn)行。這種做法具有一定局限性，不能實(shí)現(xiàn)監(jiān)督檢驗(yàn)的閉環(huán)控制。

為保證鑒定檢驗(yàn)的科學(xué)、準(zhǔn)確、客觀(guān)和公正，需要借助一種行之有效的方法，對(duì)電子元件檢測(cè)試驗(yàn)過(guò)程進(jìn)行全面監(jiān)控，在監(jiān)督人員不在現(xiàn)場(chǎng)的時(shí)候，能起到現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)督的作用，從而達(dá)到監(jiān)督檢驗(yàn)的閉環(huán)控制。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對(duì)現(xiàn)有電子元件檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控系統(tǒng)無(wú)法對(duì)電子元件檢測(cè)試驗(yàn)過(guò)程進(jìn)行全面監(jiān)控的問(wèn)題，提供一種電子元件檢測(cè)試驗(yàn)自動(dòng)監(jiān)控系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)對(duì)整個(gè)電子元件檢測(cè)試驗(yàn)過(guò)程的全面監(jiān)控。

一種電子元件檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控系統(tǒng)，包括：數(shù)據(jù)采集模塊和數(shù)據(jù)處理模塊，所述數(shù)據(jù)采集模塊與所述數(shù)據(jù)處理模塊相連，所述數(shù)據(jù)采集模塊用于采集所述電子元件檢測(cè)試驗(yàn)的監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)，所述數(shù)據(jù)處理模塊用于處理采集到的所述電子元件檢測(cè)試驗(yàn)的監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)，得出所述電子元件檢測(cè)試驗(yàn)的監(jiān)控結(jié)果；

所述數(shù)據(jù)采集模塊包括試驗(yàn)參數(shù)采集模塊和試驗(yàn)條件采集模塊，所述試驗(yàn)參數(shù)采集模塊用于采集試驗(yàn)參數(shù)，所述試驗(yàn)參數(shù)包括電參數(shù)，所述試驗(yàn)條件采集模塊用于采集試驗(yàn)條件數(shù)據(jù)，所述試驗(yàn)條件數(shù)據(jù)包括環(huán)境數(shù)據(jù)和視頻數(shù)據(jù)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述試驗(yàn)參數(shù)采集模塊包括電壓采集單元和電流采集單元，所述電壓采集單元用于采集所述電子元件檢測(cè)試驗(yàn)的電壓，所述電壓采集單元包括ADC采樣芯片和過(guò)壓保護(hù)電路，所述電流采集單元用于采集所述電子元件檢測(cè)試驗(yàn)的電流，所述電流采集模塊包括電流測(cè)量傳感器，所述電流測(cè)量傳感器為霍爾傳感器。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述試驗(yàn)條件采集模塊包括環(huán)境數(shù)據(jù)采集單元和視頻數(shù)據(jù)采集單元，所述環(huán)境數(shù)據(jù)采集單元用于采集所述電子元件檢測(cè)試驗(yàn)的環(huán)境數(shù)據(jù)，所述環(huán)境數(shù)據(jù)包括溫度，所述視頻數(shù)據(jù)采集單元用于采集所述電子元件檢測(cè)試驗(yàn)視頻數(shù)據(jù)，所述視頻數(shù)據(jù)采集單元包括桌面型攝像機(jī)和存儲(chǔ)硬盤(pán)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述數(shù)據(jù)采集模塊還包括開(kāi)關(guān)次數(shù)采集模塊，所述開(kāi)關(guān)次數(shù)采集模塊用于采集所述電子元件檢測(cè)試驗(yàn)中開(kāi)關(guān)的動(dòng)作次數(shù)。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述數(shù)據(jù)處理模塊包括MCU單元和計(jì)算機(jī)單元，所述MCU單元用于管理所述數(shù)據(jù)處理模塊接收到的數(shù)據(jù)，以及與所述計(jì)算機(jī)單元進(jìn)行通信；所述計(jì)算機(jī)單元用于實(shí)現(xiàn)所述電子元件檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控系統(tǒng)的用戶(hù)接口、數(shù)據(jù)記錄存儲(chǔ)和視頻數(shù)據(jù)的管理。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述電子元件檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控系統(tǒng)還包括電源模塊，所述電源模塊與所述數(shù)據(jù)采集模塊以及所述數(shù)據(jù)處理模塊連接，所述電源模塊用于為所述電子元件檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控系統(tǒng)提供電力。

在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述電源模塊包括市電單元和蓄電池單元，所述市電單元用于將接入所述電子元件檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控系統(tǒng)的市電轉(zhuǎn)換成直流電，供所述電子元件檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控系統(tǒng)使用和為所述蓄電池單元充電；所述蓄電池單元用于當(dāng)無(wú)所述市電接入時(shí)為所述電子元件檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控系統(tǒng)提供直流電。

本發(fā)明電子元件檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控系統(tǒng)工作，試驗(yàn)條件采集模塊采集整個(gè)檢測(cè)試驗(yàn)過(guò)程的視頻數(shù)據(jù)和環(huán)境數(shù)據(jù)，參數(shù)采集模塊采集整個(gè)檢測(cè)試驗(yàn)過(guò)程的電參數(shù)，數(shù)據(jù)處理模塊處理所述數(shù)據(jù)采集模塊采集到的數(shù)據(jù)，得出檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控結(jié)果。同時(shí)監(jiān)控整個(gè)檢測(cè)試驗(yàn)過(guò)程中的電參數(shù)、環(huán)境數(shù)據(jù)和視頻數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)整個(gè)電子元件檢測(cè)試驗(yàn)全面監(jiān)控，這種全面監(jiān)控能真實(shí)反映現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)的細(xì)節(jié)，使監(jiān)控更加符合實(shí)際。

附圖說(shuō)明

圖1為本發(fā)明電子元件檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控系統(tǒng)其中一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本發(fā)明電子元件檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控系統(tǒng)其中一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下根據(jù)附圖及實(shí)施例，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施僅僅用以解釋本發(fā)明，并不限定本發(fā)明。

如圖1所示，一種電子元件檢測(cè)試驗(yàn)監(jiān)控系統(tǒng)，包括：數(shù)據(jù)采集模塊100和數(shù)據(jù)處理模塊200，數(shù)據(jù)采集模塊100與數(shù)據(jù)處理模塊200相連，數(shù)據(jù)采集模塊100用于采集電子元件檢測(cè)試驗(yàn)的監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)，數(shù)據(jù)處理模塊200用于處理采集到的電子元件檢測(cè)試驗(yàn)的監(jiān)控?cái)?shù)據(jù)，得出電子元件檢測(cè)試驗(yàn)的監(jiān)控結(jié)果；