[發(fā)明專(zhuān)利]一種生長(zhǎng)在Si襯底上的GaN薄膜及其制備方法和應(yīng)用有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210535097.7 | 申請(qǐng)日: | 2012-12-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103035496A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-04-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李國(guó)強(qiáng) | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 廣州市眾拓光電科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/205 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/205;H01L33/32;H01L31/0352 |
| 代理公司: | 廣州市越秀區(qū)哲力專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 湯喜友 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 生長(zhǎng) si 襯底 gan 薄膜 及其 制備 方法 應(yīng)用 | ||
1.一種生長(zhǎng)在Si襯底上的GaN薄膜,其特征在于:包括Si襯底層、生長(zhǎng)在Si襯底層上的Al2O3保護(hù)層、生長(zhǎng)在Al2O3保護(hù)層上的GaN薄膜層。
2.如權(quán)利要求1所述的生長(zhǎng)在Si襯底上的GaN薄膜,其特征在于:所述Al2O3保護(hù)層的厚度為3-5nm。
3.一種生長(zhǎng)在Si襯底上的GaN薄膜的制備方法,其特征在于:選取Si襯底;選取Si襯底的(111)晶面鍍上一層Al層,然后通入氧等離子體至形成Al2O3保護(hù)層;再在Al2O3保護(hù)層上生長(zhǎng)GaN薄膜層。
4.如權(quán)利要求3所述的生長(zhǎng)在Si襯底上的GaN薄膜的制備,其特征在于:采用分子束外延生長(zhǎng)法在Si(111)晶面上鍍厚度為3-5nm的Al層,Si襯底為800-900℃時(shí)通入氧等離子體至形成Al2O3保護(hù)層,保溫。
5.如權(quán)利要求3所述的生長(zhǎng)在Si襯底上的GaN薄膜的制備方法,其特征在于:采用脈沖激光沉積生長(zhǎng)法在Al2O3保護(hù)層上生長(zhǎng)GaN薄膜層,襯底溫度為600-700℃,反應(yīng)室壓力為3-4×10-10mTorr、Ⅴ/Ⅲ比為30-40、生長(zhǎng)速度為0.8-1.1ML/s,GaN薄膜層生長(zhǎng)后,保溫25-35分鐘,溫度為650-750℃。
6.如權(quán)利要求3所述的生長(zhǎng)在Si襯底上的GaN薄膜的制備方法,其特征在于:在鍍上Al層之前,先對(duì)Si襯底依次進(jìn)行拋光處理、表面清潔處理、退火處理。
7.如權(quán)利要求6所述的生長(zhǎng)在Si襯底上的GaN薄膜的制備方法,其特征在于:拋光處理是用金剛石對(duì)Si襯底表面進(jìn)行拋光,用光學(xué)顯微鏡觀察Si襯底表面沒(méi)有劃痕后,再采用現(xiàn)有技術(shù)的化學(xué)機(jī)械拋光方法對(duì)Si襯底進(jìn)行拋光。
8.如權(quán)利要求6所述的生長(zhǎng)在Si襯底上的GaN薄膜的制備方法,其特征在于,所述表面清潔處理方法為:將Si襯底放入丙酮溶液中超聲處理,然后用去離子水清洗;接著在異丙酮溶液中超聲處理;再在氫氟酸溶液中浸泡;然后放入去離子水中浸泡;最后在硫酸和雙氧水的混合溶液中浸泡,再經(jīng)氫氟酸浸泡,然后用去離子水沖洗,氮?dú)獯蹈?,存放于氮?dú)夤裰小?/p>
9.如權(quán)利要求6所述的生長(zhǎng)在Si襯底上的GaN薄膜的制備方法,其特征在于:退火處理是將Si襯底放在壓強(qiáng)為2×10-10Torr的超高真空的生長(zhǎng)室內(nèi),在900-1000℃下高溫烘烤3-5?h以除去Si襯底表面的污染物,然后空冷至室溫。
10.權(quán)利要求1至9任意一項(xiàng)所述的生長(zhǎng)在Si襯底上的GaN薄膜應(yīng)用于LED器件中或太陽(yáng)能電池中。
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H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





