[發(fā)明專利]面向裝配的微零件對稱邊緣亞微米精度特征識別方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210532305.8 | 申請日: | 2012-12-11 |
| 公開(公告)號: | CN103034845B | 公開(公告)日: | 2018-06-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張之敬;葉鑫;唐永龍;金鑫;高軍 | 申請(專利權(quán))人: | 北京理工大學(xué) |
| 主分類號: | G06K9/00 | 分類號: | G06K9/00;G06K9/46 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100081 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 裝配 對位 對稱邊緣 感興趣區(qū) 關(guān)鍵特征 基體零件 邊緣過渡區(qū)域 測度 邊緣過渡區(qū) 對稱中心線 邊界區(qū)域 邊緣對稱 對稱基準(zhǔn) 對稱區(qū)域 對位圖像 二維區(qū)域 灰度級別 灰度空間 精度特征 判定目標(biāo) 區(qū)域灰度 梯度算子 統(tǒng)計計算 位置誤差 誤差補償 真實邊緣 補償量 界定 擬合 像素 避開 圖像 檢測 | ||
1.一種面向裝配的微零件對稱邊緣亞微米精度特征識別方法,其特征在于:
所述方法是基于顯微機器視覺的微裝配對位關(guān)鍵特征提取識別方法,識別精度達到亞微米級,通過對稱邊緣的特征預(yù)判斷獲取具有對稱特性的直線類或圓弧類特征目標(biāo)零件和基體零件的精確位置和相對位置,其具體包括下列步驟:
1)首先對相機獲取的目標(biāo)零件和基體零件裝配對位原始圖像進行預(yù)處理:包括圖像灰度化和圖像邊緣增強;
其中,采用黑白相機無需對圖像進行灰度化的轉(zhuǎn)換,圖像灰度化采用的方法是加權(quán)平均法、平均值法和最大值法;
2)確定檢測目標(biāo)微小型結(jié)構(gòu)的加工工藝類型和關(guān)鍵裝配對位邊緣關(guān)鍵特征;
根據(jù)實際零件的不同,其裝配對位關(guān)鍵邊緣特征會有所不同:軸孔類的微小結(jié)構(gòu)件裝配的對位關(guān)鍵特征是圓弧,而平板類方形槽的裝配對位關(guān)鍵特征則是直線段;
3)采用對稱差分的方法對原圖像進行直線類或圓弧類裝配對位關(guān)鍵特征的初檢測,用于判斷目標(biāo)零件和基體零件在裝配對位過程中,在不同方向上的裝配對位關(guān)鍵特征的選取;
通過對裝配對位關(guān)鍵特征的初檢測判斷對原圖像進行了圖像分割得到處理圖像區(qū),即零件局部圖;
4)感興趣區(qū)域選取,對應(yīng)基體零件的感興趣區(qū)和目標(biāo)零件的感興趣區(qū),對于零件裝配對位邊緣關(guān)鍵特征的不同,出現(xiàn)的特征類別不同,感興趣的位置不是規(guī)定的,會根據(jù)具體情況進行相應(yīng)的改變;
提取過渡區(qū)的最佳測度參數(shù):采用計算有效平均梯度EAG和對圖像灰度的剪切操作來確定;
其中,EAG的定義為:
其中,為總梯度和;
其中,為梯度不為零的像素總數(shù);
通過(3)對圖像邊緣過渡區(qū)的計算可以初步的確定感興趣的分布范圍;
根據(jù)(2)獲得目標(biāo)零件和基體零件對稱邊緣信息,來精確選取感興趣區(qū)域;
對稱邊緣過渡區(qū)的提取,在使用有效平均梯度時,需要定義灰度剪切函數(shù):
高端剪切函數(shù)
低端剪切函數(shù)
其中,L為剪切值,其范圍為0~255;根據(jù)剪切值計算出EAGlow(L)和EAGhigh(L)的值;
由公式(1)可知,EAG代表的是圖像中的一個有選擇的統(tǒng)計量,在計算EAG時,只用到了非零梯度的像素,且是圖像中非零像素的平均梯度;
其中,f(i,j)代表在二維空間變化的圖像函數(shù),(i,j)∈S,S表示圖像像素空間坐標(biāo)的整數(shù)集,g(i,j)為圖像的梯度函數(shù);
典型EAG(L)~L曲線為單極值曲線,即EAGlow(L)和EAGhigh(L)均只有一個極值點,并將取得極值點處對應(yīng)的灰度值記為Llow和Lhigh,且Llow=arg{max[EAGlow(L)]},Lhigh=arg{max[EAGhigh(L)]};
這兩個極值點對應(yīng)的灰度值被認為是過渡區(qū)域?qū)?yīng)的邊界灰度值,由這兩個值分出來的圖像區(qū)域就是過渡區(qū),實際的應(yīng)用中,由于顯微圖像邊緣的特塑形,還需要對提取的邊緣區(qū)域進行適當(dāng)?shù)纳炜s;
5)灰度統(tǒng)計分析,采取基于排序統(tǒng)計分析的圖像邊緣增強濾波器OSEEF,設(shè)輸入信號xi,1≤i≤N,經(jīng)過排序后得到序列x(i),滿足
x(1)≤x(2)≤x(3)≤...≤x(N),構(gòu)成點集Xl和Xh,為其兩個子集,劃分如下:
Xl:x(1+k1),...,x(n1)和Xh:x(n2),...x(N-k2);
式中0≤k1≤N-n1,0≤k2≤n2-1;
H(·)為采用平均濾波算子的運算;
定義D為D=H(Xh)-H(Xl);
定義y*為
x*為濾波窗中心樣本點,
定義T為某個閾值,則OSEEF濾波器的輸出為:
6)對稱邊緣擬合,就是根據(jù)前面的計算來擬合具有相似特征的對稱基準(zhǔn)線,目標(biāo)零件和基體零件在相同的加工條件下,其邊緣的感興趣區(qū)的各個像素點的灰度分布具有相似的特征,在此特征的基礎(chǔ)上,通過Hough變換來擬合對稱相似基準(zhǔn)線,根據(jù)實際零件的不同,其裝配對位關(guān)鍵邊緣特征會有所不同;在實際應(yīng)用中圖像中得到的邊緣點(xi,yi)是采用參數(shù)方程;
ρ=xi cosθ+yi sinθ,其中ρ代表直線到原點的垂直距離,θ代表X軸到直線垂線的角度,通過求出ρ,θ就可以得到邊緣的直線或曲線方程;
7)誤差補償計算,通過尋找目標(biāo)零件和基體零件的中心線來計算圖像位置誤差補償量:分別計算目標(biāo)零件和基體零件的中心P0和P0’所在的位置,然后計算P0和P0’之間的位置誤差,并通過坐標(biāo)系轉(zhuǎn)換的方式計算實際的位置誤差補償量,即圖像坐標(biāo)系得到的誤差計算數(shù)值經(jīng)過坐標(biāo)系的轉(zhuǎn)換可以得到實際的微動平臺坐標(biāo)系的誤差位移量,從而實現(xiàn)微小型結(jié)構(gòu)件的無損、高精度裝配。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京理工大學(xué),未經(jīng)北京理工大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210532305.8/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G06K 數(shù)據(jù)識別;數(shù)據(jù)表示;記錄載體;記錄載體的處理
G06K9-00 用于閱讀或識別印刷或書寫字符或者用于識別圖形,例如,指紋的方法或裝置
G06K9-03 .錯誤的檢測或校正,例如,用重復(fù)掃描圖形的方法
G06K9-18 .應(yīng)用具有附加代碼標(biāo)記或含有代碼標(biāo)記的打印字符的,例如,由不同形狀的各個筆畫組成的,而且每個筆畫表示不同的代碼值的字符
G06K9-20 .圖像捕獲
G06K9-36 .圖像預(yù)處理,即無須判定關(guān)于圖像的同一性而進行的圖像信息處理
G06K9-60 .圖像捕獲和多種預(yù)處理作用的組合





