[發明專利]OLED顯示裝置及感測像素驅動電路的特性參數的方法

有效

• 申請號: 201210532295.8
• 申請日: 2012-12-11
• 公開（公告）號: CN103177685A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發明（設計）人: 尹重先;金承泰;姜芝賢;李志恩
• 申請（專利權）人: 樂金顯示有限公司
• 主分類號: G09G3/32
• 分類號: G09G3/32
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 徐金國;鐘強

本申請要求2011年12月26日提交的韓國專利申請No.10-2011-0142040的優先權，在此援引該專利申請作為參考，如同在這里完全闡述一樣。

技術領域

本發明涉及一種有機發光二極管（OLED）顯示裝置，尤其涉及一種能夠通過對特性參數的簡單快速感測來修正亮度不均勻性的OLED顯示裝置及感測像素驅動電路的特性參數的方法。

背景技術

有源矩陣有機發光二極管（AMOLED）顯示裝置是有機發光層通過電子和空穴的再組合而發光的自發光裝置。因為AMOLED顯示裝置表現出較高的亮度，并使用低驅動電壓，同時具有超薄結構，所以AMOLED有望成為下一代顯示裝置。

這種AMOLED顯示裝置包括多個像素和用于獨立驅動OLED的像素驅動電路，其中每個像素都包括由陽極、陰極和夾在陽極與陰極之間的有機發光層組成的有機發光二極管（OLED）。像素驅動電路主要包括開關薄膜晶體管（之后稱作“TFT”）、電容器和驅動TFT。開關TFT響應于掃描脈沖利用對應于數據信號的電壓向電容器充電。驅動TFT根據電容器中所充的電壓的電平來控制提供給OLED的電流量，以調整從OLED發射的光量。從OLED發射的光量與從驅動TFT提供給OLED的電流量成正比。

然而，在這種AMOLED顯示裝置中，由于工藝容差，諸如驅動TFT閾值電壓Vth和工藝容差因素（遷移率、寄生電容和溝道寬度/長度）這樣的TFT特性在像素之間是不一致的。由于此原因，在AMOLED顯示裝置中會產生亮度的不均勻性。為解決此問題，使用數據補償方法。根據該數據補償方法，測量每個像素驅動電路中的驅動TFT的特性參數，并根據感測結果調整輸入數據。

可通過感測在不同電壓時流過相應像素的電流量來測量驅動TFT的特性。然而，對于尺寸增加的AMOLED顯示裝置來說，很難快速測量流過多個像素的電流量。例如，U.S.專利No.7,834,825公開了在逐個啟動像素的同時感測流過OLED面板的電源線（VDD或VSS線）的電流量的方法。然而，該方法具有下述問題，即因為電流感測時間由于并行存在于電源線上的用于提高分辨率的寄生電容器而被延遲，所以很難獲得快速的感測。

此外，在一般情形中，用于感測驅動TFT的特性的系統很復雜。由于此原因，在出貨（shipment）之后，很難測量并補償驅動TFT的特性。

發明內容

因此，本發明旨在提供一種基本上克服了由于現有技術的限制和缺點而導致的一個或多個問題的OLED顯示裝置及感測有機發光二極管顯示裝置中的像素驅動電路的特性參數的方法。

本發明的一個目的是提供一種能夠通過對特性參數的簡單快速感測來修正亮度不均勻性的OLED顯示裝置及感測像素驅動電路的特性參數的方法。

在下面的描述中將部分列出本發明的其它優點、目的和特點，部分優點、目的和特點從下面的描述對于所屬領域普通技術人員來說是顯而易見的，或者可從本發明的實施領會到。通過說明書、權利要求書以及附圖中具體指出的結構可實現和獲得本發明的這些目的和其他優點。

為了實現這些和其他優點，根據本發明的用途，如在此具體化和概括描述的，一種OLED顯示裝置包括：包括多個像素的顯示面板，每個像素包括發光元件和用于獨立驅動所述發光元件的像素驅動電路；和用于感測每個像素中的像素驅動電路的特性參數的特性參數檢測單元，所述特性參數感測單元用于：驅動所述多個像素中的作為感測像素的一個像素的像素驅動電路；在與所述多個像素的各個像素驅動電路連接的數據線中，在與所述感測像素的像素驅動電路連接的數據線上，感測根據所述感測像素的像素驅動電路中的驅動薄膜晶體管（TFT）的特性而放電的電壓；以及使用測量的電壓來檢測所述驅動薄膜晶體管的閾值電壓（Vth）和所述驅動薄膜晶體管的工藝特性參數（k參數）的偏差。

所述特性參數感測單元可包括：數據驅動器，所述數據驅動器用于驅動所述數據線、感測所述數據線上的電壓、并輸出測量的電壓；和時序控制器，所述時序控制器用于：根據來自所述數據驅動器的測量的電壓，檢測所述閾值電壓（Vth）和k參數偏差；計算用于補償所檢測到的閾值電壓（Vth）的偏移值和用于補償所檢測到的k參數偏差的增益值；存儲計算的偏移值和計算的增益值；通過使用存儲的偏移值和存儲的增益值來補償輸入數據；并向所述數據驅動器提供補償后的輸入數據。

所述時序控制器可通過計算來自所述數據驅動器的測量的電壓與提供給所述感測像素的像素驅動電路的基準電壓之間的電壓差，檢測所述閾值電壓（Vth）。