[發明專利]光纖數字OTDR檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201210531731.X
• 申請日: 2012-12-11
• 公開（公告）號: CN103873141A
• 公開（公告）日: 2014-06-18
• 發明（設計）人: 吳旭
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04B10/071
• 分類號: H04B10/071
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

技術領域

本發明涉及光纖通信技術領域，尤其涉及一種光纖數字OTDR檢測方法及裝置。

背景技術

目前光網絡例如GPON、EPON的光網已大力普及，因此對所鋪設的光纖的質量檢測則成為一個很重要的問題。

目前很多光纖檢測的方法都是在現有設備外部添加OTDR（Optical?Time?Domain?Reflectometer，光時域反射儀）設備。傳統OTDR是利用光線在光纖中傳輸時的瑞利散射和菲涅爾反射所產生的背向散射而制成的精密光電一體化儀表，它被廣泛應用于光纜線路的維護、施工之中，可進行光纖長度、光纖的傳輸衰減、接頭衰減和故障定位等的測量。但是，現有的這種OTDR設備比較昂貴，操作起來也不方便，增加運行維護成本。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種成本低且操作方便的光纖數字OTDR檢測方法及裝置。

為了達到上述目的，本發明提出一種光纖數字OTDR檢測裝置，設置在光網主控芯片上，包括：接收模塊、發送模塊、配置模塊及內存模塊，其中：

所述配置模塊用于為所述接收模塊配置接收控制參數，為所述發送模塊配置發送控制參數；

所述接收模塊用于接收來自外部的光接收及A/D轉換模塊發送的并行數據并緩存，根據所述接收控制參數，對所述并行數據進行采樣，并將采樣數據保存至所述內存模塊；

所述發送模塊用于根據所述發送控制參數，從配置模塊中獲取配置數據進行并串轉換、奇偶控制及通路選擇，以發送序列發送至外部的光發送模塊。

優選地，所述發送模塊還用于根據所述發送控制參數選擇的內部還回通路，將所述發送序列發送至所述接收模塊。

優選地，所述配置模塊設有用戶訪問接口，所述配置模塊還用于通過所述用戶訪問接口接收用戶輸入信息進行參數配置。

優選地，所述接收控制參數至少包括：接收RAM深度、接收延遲點及軟復位配置信息；所述發送控制參數至少包括：發送起始點、發送序列內容、發送序列長度、發送序列速率、內外部通路及發送奇偶配置信息。

優選地，所述接收模塊還用于在所述發送模塊啟動發送時開始計數，在計數值達到接收延遲點配置的數值時打開采樣窗口進行數據采樣。

優選地，所述接收模塊還用于當寫RAM地址小于接收RAM深度配置的數值時，向內存模塊的接收RAM保存數據；當寫RAM地址等于接收RAM深度配置的數值時停止保存數據，并輸出保存完成的信號供用戶查詢。

本發明還提出一種光纖數字OTDR檢測方法，包括：

接收來自外部的光接收及A/D轉換模塊發送的并行數據并緩存，根據配置的接收控制參數，對所述并行數據進行采樣，并將采樣數據保存至內存模塊；

根據所述配置的發送控制參數，從配置模塊中獲取配置參數進行并串轉換、奇偶控制及通路選擇，以發送序列發送至外部的光發送模塊。

優選地，該方法還包括：

根據所述發送控制參數選擇的內部還回通路，將所述發送序列發送至所述接收模塊。

優選地，所述接收來自外部的光接收及A/D轉換模塊發送的并行數據并緩存的步驟之前還包括：

通過所述用戶訪問接口接收用戶輸入信息進行參數配置。

優選地，所述接收控制參數至少包括：接收RAM深度、接收延遲點及軟復位配置信息；所述發送控制參數至少包括：發送起始點、發送序列內容、發送序列長度、發送序列速率、內外部通路及發送奇偶配置信息。

優選地，所述對并行數據進行采樣的步驟包括：在啟動發送數據時開始計數，在計數值達到接收延遲點配置的數值時打開采樣窗口進行數據采樣。

優選地，所述將采樣數據保存至內存模塊的步驟包括：

當寫RAM地址小于接收RAM深度配置的數值時，向內存模塊的接收RAM保存數據；當寫RAM地址等于接收RAM深度配置的數值時停止保存數據，并輸出保存完成的信號供用戶查詢。

本發明提出的一種光纖數字OTDR檢測方法及裝置，以數字模塊的方式，在光網絡的主控芯片上即可實現OTDR的功能，無需要外部傳統光纖檢測裝置，不僅操作簡便，且滿足了日益快速發展的光網絡的建設需求；相比現有技術，取得了在數字模塊設計方面的進步，達到了靈活多變滿足客戶定制的效果，節省了光纖檢測裝置開發的時間及成本，提高了光纖檢測裝置的靈活度、準確度等。

附圖說明

圖1是本發明光纖數字OTDR檢測裝置一實施例的結構示意圖；

圖2是本發明光纖數字OTDR檢測方法一實施例的流程示意圖。

具體實施方式