[發(fā)明專利]一種陣列基板、顯示裝置及陣列基板的制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201210530472.9 | 申請(qǐng)日: | 2012-12-10 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103022083A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-04-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐利燕;張春兵 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;北京京東方顯示技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/04 | 分類號(hào): | H01L29/04;H01L29/786;H01L21/336;H01L27/32;H01L51/56 |
| 代理公司: | 北京同達(dá)信恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11291 | 代理人: | 杜秀科 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 陣列 顯示裝置 制備 方法 | ||
1.一種陣列基板,包括薄膜晶體管器件,所述薄膜晶體管包括半導(dǎo)體有源層,其特征在于,所述薄膜晶體管器件的半導(dǎo)體有源層的材質(zhì)為微晶硅。
2.如權(quán)利要求1所述的陣列基板,其特征在于,所述薄膜晶體管器件的源漏電極的材質(zhì)為銅鉬合金。
3.如權(quán)利要求2所述的陣列基板,其特征在于,所述薄膜晶體管器件的半導(dǎo)體有源層和源漏電極之間設(shè)置有歐姆接觸層,所述歐姆接觸層的材質(zhì)為摻雜微晶硅。
4.如權(quán)利要求1所述的陣列基板,其特征在于,所述薄膜晶體管器件的柵電極的材質(zhì)為銅。
5.如權(quán)利要求1所述的陣列基板,其特征在于,所述陣列基板還包括與漏電極電連接的像素電極,所述像素電極材質(zhì)為氧化銦錫或銦鎵鋅氧化物。
6.一種顯示裝置,其特征在于,包括如權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的陣列基板。
7.一種陣列基板的制備方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:
在半導(dǎo)體有源層上形成源漏金屬層,所述源漏金屬層的材質(zhì)為銅鉬合金;
在源漏金屬層上形成金屬鉬層;
對(duì)基板進(jìn)行激光退火;
激光退火后,去除金屬鉬層,采用構(gòu)圖工藝形成源漏電極。
8.如權(quán)利要求7所述陣列基板的制備方法,其特征在于,所述在半導(dǎo)體有源層上形成源漏金屬層,具體為:
采用磁控濺射在半導(dǎo)體有源層上形成源漏金屬層。
9.如權(quán)利要求7所述陣列基板的制備方法,其特征在于,所述在半導(dǎo)體有源層上形成源漏金屬層之前還包括:
在襯底基板上形成柵電極;
在形成柵電極的基板上形成覆蓋柵電極和基板的柵絕緣層;
在形成柵絕緣層的基板上形成位于柵電極上方的半導(dǎo)體有源層,以及位于半導(dǎo)體有源層之上的歐姆接觸層。
10.如權(quán)利要求7所述陣列基板的制備方法,其特征在于,采用構(gòu)圖工藝形成源漏電極之后還包括:
形成位于源漏電極之上并覆蓋基板的鈍化層;
形成位于鈍化層之上且與漏電極電連接的像素電極。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專門適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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