[發明專利]基于圖像重疊的選擇性平面照射顯微成像偽影去除方法

無效

• 申請號: 201210526194.X
• 申請日: 2012-12-07
• 公開（公告）號: CN102982521A
• 公開（公告）日: 2013-03-20
• 發明（設計）人: 田捷;董迪;楊鑫;郭進
• 申請（專利權）人: 中國科學院自動化研究所
• 主分類號: G06T5/50
• 分類號: G06T5/50
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 戎志敏

1.一種基于圖像重疊的選擇性平面照射顯微成像偽影去除方法，包括：

針對焦平面上同一位置圖像，豎直提升樣本，對樣本同一位置進行多次成像；

將所述同一位置的多幅圖像，通過加權平均減少噪聲，得到樣本的整體圖像。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于所述豎直提升樣本包括：

將樣本的最上端置于探測器成像區域的最下端，豎直提升樣本，直到樣本的最下端移出探測器的成像區域。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于豎直提升樣本的距離遠小于探測器成像區域的高度。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于所述樣本豎直移動次數為樣本高度與每次移動步進值的比值。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于樣本每次移動的步進值為圖像像素大小的整數倍。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于所述樣本每個局部位置被采集的重復次數為成像區域高度與步進值的比值。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于采用平頂金字塔模型對多幅圖像進行加權平均。

8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于所述平頂金字塔模型的最大權重為30。

9.根據權利要求7所述的方法，其特征在于所述平頂金字塔模型的分辨率與所述圖像相同。