[發(fā)明專利]高電子遷移率晶體管有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210526107.0 | 申請日: | 2012-12-07 |
| 公開(公告)號: | CN103151374B | 公開(公告)日: | 2017-12-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 黃仁俊;吳在浚;李在垣;崔孝枝;河種奉 | 申請(專利權(quán))人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | H01L29/778 | 分類號: | H01L29/778;H01L29/423 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所11105 | 代理人: | 張波 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電子 遷移率 晶體管 | ||
1.一種高電子遷移率晶體管,包括:
襯底;
形成在所述襯底上的第一半導(dǎo)體層;
形成在所述第一半導(dǎo)體層上的第二半導(dǎo)體層;
形成在所述第一半導(dǎo)體層或所述第二半導(dǎo)體層上的源極和漏極;以及
形成在所述源極和所述漏極之間的柵結(jié)構(gòu),
其中所述柵結(jié)構(gòu)包括反二極管柵結(jié)構(gòu)和柵電極,以及
其中所述反二極管柵結(jié)構(gòu)包括第一層和在所述第一層上的第二層,所述第二層用p型摻雜劑以比所述第一層中的p型摻雜劑的濃度低的濃度摻雜。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高電子遷移率晶體管,其中所述第一層由p型III族氮化物半導(dǎo)體形成。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高電子遷移率晶體管,其中所述第一層由從由用p型摻雜劑摻雜的GaN、InGaN、AlGaN、AlInN和AlGaInN組成的組選出的材料形成。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高電子遷移率晶體管,其中所述第二層是用p型摻雜劑摻雜的III族氮化物半導(dǎo)體。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的高電子遷移率晶體管,其中所述第二層由從由GaN、InGaN、AlGaN、AlInN和AlGaInN組成的組選出的材料形成。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高電子遷移率晶體管,其中所述柵電極具有肖特基柵結(jié)構(gòu)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的高電子遷移率晶體管,其中所述柵電極由W、Hf或Al形成。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高電子遷移率晶體管,還包括形成在所述第二半導(dǎo)體層和所述反二極管柵結(jié)構(gòu)之間的中間層。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的高電子遷移率晶體管,其中所述中間層由III族氮化物半導(dǎo)體形成。
10.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高電子遷移率晶體管,其中所述第一層被形成為直接接觸所述源極。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高電子遷移率晶體管,其中所述第一半導(dǎo)體層和第二半導(dǎo)體層由具有彼此不同的帶隙能量的半導(dǎo)體材料形成。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的高電子遷移率晶體管,其中所述第二半導(dǎo)體層由帶隙能量比用于形成所述第一半導(dǎo)體層的材料的帶隙能量大的材料形成。
13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高電子遷移率晶體管,其中所述第一半導(dǎo)體層和第二半導(dǎo)體層由具有彼此不同的晶格常數(shù)的材料形成,2維電子氣區(qū)域形成在所述第一半導(dǎo)體層和第二半導(dǎo)體層之間的界面上。
14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高電子遷移率晶體管,還包括:在所述第二半導(dǎo)體層的上表面上的凹陷。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的高電子遷移率晶體管,其中所述柵結(jié)構(gòu)形成在所述第二半導(dǎo)體層的所述上表面的形成所述凹陷的區(qū)域上。
16.根據(jù)權(quán)利要求2、3和4至5中的任一項(xiàng)所述的高電子遷移率晶體管,其中所述柵電極包括具有小于4.5的功函數(shù)的金屬。
17.一種高電子遷移率晶體管,包括:
襯底;
形成在所述襯底上的第一半導(dǎo)體層;
形成在所述第一半導(dǎo)體層上的第二半導(dǎo)體層;
形成在所述第一半導(dǎo)體層或所述第二半導(dǎo)體層上的源極和漏極;以及
形成在所述源極和所述漏極之間的柵結(jié)構(gòu),
其中所述柵結(jié)構(gòu)包括耗盡層和柵電極,所述耗盡層連接到所述源極且未連接到所述漏極。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的高電子遷移率晶體管,其中所述耗盡層由氮化物半導(dǎo)體形成。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的高電子遷移率晶體管,其中所述氮化物半導(dǎo)體是GaN、InGaN、AlGaN、AlInN或AlGaInN。
20.根據(jù)權(quán)利要求18所述的高電子遷移率晶體管,其中所述耗盡層被p型摻雜。
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