[發(fā)明專利]一種同軸度光學(xué)檢測(cè)方法及裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201210524925.7
• 申請(qǐng)日: 2012-12-10
• 公開（公告）號(hào): CN102997870A
• 公開（公告）日: 2013-03-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 程晉明;錢偉新;祁雙喜;李澤仁;劉冬兵;王婉麗;彭其先
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)工程物理研究院流體物理研究所
• 主分類號(hào): G01B11/27
• 分類號(hào): G01B11/27
• 代理公司: 成都九鼎天元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51214
• 代理人: 徐宏;吳彥峰

1.一種同軸度光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于包括

步驟1：第一光學(xué)檢測(cè)裝置、第二光學(xué)檢測(cè)裝置分別采集基準(zhǔn)圓桿與相向圓桿數(shù)字圖像信號(hào)；

步驟2：處理器接收第一光學(xué)檢測(cè)裝置采集的數(shù)字圖像信號(hào)，獲得基準(zhǔn)圓桿與相向圓桿軸線第一夾角θ1、基準(zhǔn)圓桿與相向圓桿的軸線第一偏移分量y1、由第一光學(xué)檢測(cè)裝置對(duì)基準(zhǔn)圓桿的檢測(cè)直徑值D1；處理器接收第二光學(xué)檢測(cè)裝置采集的數(shù)字圖像信號(hào)，獲得基準(zhǔn)圓桿與相向圓桿軸線第二夾角θ2、基準(zhǔn)圓桿與相向圓桿的軸線第二偏移分量y2、由第二光學(xué)檢測(cè)裝置對(duì)基準(zhǔn)圓桿的檢測(cè)直徑值D2，計(jì)算得到基準(zhǔn)圓桿與相向圓桿的同軸度軸線偏移參數(shù)d、軸線夾角參數(shù)θ。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種同軸度光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于所述第一光學(xué)檢測(cè)裝置光軸與第二光學(xué)檢測(cè)裝置光軸夾角是φ，所述φ范圍是：0°＜φ＜180°，且位于與基準(zhǔn)圓桿垂直同一平面內(nèi)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種同軸度光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于所述

步驟2中基準(zhǔn)圓桿與相向圓桿的同軸度計(jì)算具體過程是：

步驟21：第一光學(xué)測(cè)量裝置采集基準(zhǔn)圓桿與相向圓桿數(shù)字圖像信號(hào)，處理器接收第一光學(xué)測(cè)量裝置輸出的數(shù)字圖像信號(hào)獲得基準(zhǔn)圓桿檢測(cè)直徑值D1、基準(zhǔn)圓桿與相向圓桿軸線夾角θ1、基準(zhǔn)圓桿與相向圓桿的軸線偏移分量y1；處理器根據(jù)公式（1）得到第一光學(xué)測(cè)量裝置的采樣率

???????????????????????????????????????????????（1）

其中D是基準(zhǔn)圓桿實(shí)際直徑，D1是第一光學(xué)測(cè)量裝置獲得的相向圓桿檢測(cè)直徑值；

步驟22：處理器根據(jù)公式（2）計(jì)算第一偏移分量d1：

??????????????????????????????????????????????（2）

其中y1是第一光學(xué)測(cè)量裝置采集的數(shù)字圖像信號(hào)中相向圓桿相對(duì)于基準(zhǔn)圓桿的軸偏移值；

步驟23：第二光學(xué)測(cè)量裝置采集基準(zhǔn)圓桿與相向圓桿數(shù)字圖像信號(hào)，處理器接收第二光學(xué)測(cè)量裝置輸出的數(shù)字圖像信號(hào)獲得基準(zhǔn)圓桿檢測(cè)直徑值D2、基準(zhǔn)圓桿與相向圓桿軸線夾角θ2、基準(zhǔn)圓桿與相向圓桿的軸線偏移分量y2；處理器根據(jù)公式（3）得到第二光學(xué)測(cè)量裝置的采樣率

???????????????????????????????????????????????（3）

其中D2是第二光學(xué)測(cè)量裝置獲得的相向圓桿檢測(cè)直徑值；

步驟24：處理器根據(jù)公式（4）計(jì)算第二偏移分量d2：

??????????????????????????????????????????????（4）

其中y2是第二光學(xué)測(cè)量裝置采集的數(shù)字圖像信號(hào)中相向圓桿相對(duì)于基準(zhǔn)圓桿的軸偏移值；

步驟25：根據(jù)公式（5）得到相向圓桿相對(duì)于基準(zhǔn)圓桿的同軸度軸線偏移參數(shù)d，

???????????????????????????????????（5）??????????????????????????

相向圓桿相對(duì)基準(zhǔn)圓桿的同軸度軸線夾角參數(shù)θ與θ1、θ2、φ滿足公式（6）

??????????????（6）

可得到同軸度軸線夾角參數(shù)θ值。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種同軸度光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于所述

當(dāng)φ=90°時(shí)，分別根據(jù)公式（7）和（8）

????????????????????????????????????????????（7）

????????????????????????????（8）

得到基準(zhǔn)圓桿與相向圓桿的同軸度軸線偏移參數(shù)d和軸線夾角參數(shù)θ值。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種同軸度光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于所述處理器獲取到第一光學(xué)測(cè)量裝置或第二光學(xué)測(cè)量裝置的數(shù)字圖像信號(hào)時(shí)首先依次進(jìn)行噪聲抑制處理、圖像梯度處理、邊緣檢測(cè)處理。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種同軸度光學(xué)檢測(cè)方法，其特征在于所述第一光學(xué)檢測(cè)裝置或第二光學(xué)檢測(cè)裝置是ICCD攝像機(jī)。