[發明專利]導軌的安裝校正工具

無效

• 申請號: 201210524532.6
• 申請日: 2012-12-06
• 公開（公告）號: CN102944186A
• 公開（公告）日: 2013-02-27
• 發明（設計）人: 魏明棟;郭志海;張文俊;杜永聰;鄭松鶴
• 申請（專利權）人: 日立電梯（中國）有限公司
• 主分類號: G01B11/16
• 分類號: G01B11/16;G01C15/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 謝偉;曾旻輝

1.一種導軌的安裝校正工具，其特征在于，其包括有固定在已安裝導軌上的射線發射裝置以及固定在待安裝導軌上的定位檢測裝置，所述的射線發射裝置包括有第一發射器，所述的定位檢測裝置包括有第二發射器、第一測量量具及第二測量量具，所述的第一測量量具與所述的第一發射器相配合，第一發射器所發出的射線能投影在第一測量量具上，所述的第二測量量具設在所述的第二發射器上。

2.根據權利要求1所述的導軌的安裝校正工具，其特征在于，所述的射線發射裝置還包括有第一固定座，第一發射器固定在所述的第一固定座上，所述的定位檢測裝置還包括有第二固定座，第二固定座設有導軌安裝面，所述的第二發射器和第一測量量具均固定在所述的第二固定座上且第二發射器背向所述的導軌安裝面。

3.根據權利要求2所述的導軌的安裝校正工具，其特征在于，所述的第一固定座和第二固定座均設有底面和頂面，所述的第一發射器固定在第一固定座的頂面上并背向第一固定座的底面，所述的第二發射器固定在所述第二固定座上且背向所述的導軌安裝面，所述的第一測量量具固定在第二固定座的底面上并背向第二固定座的頂面。

4.根據權利要求1所述的導軌的安裝校正工具，其特征在于，所述第一發射器與第二發射器正面均設有射線發射孔，所述的第一測量量具上設有定位參考孔和偏差比較刻度線。

5.根據權利要求1所述的導軌的安裝校正工具，其特征在于，所述第二測量量具設于第二發射器的正面，該第二測量量具上設有對向比較刻度線。

6.根據權利要求5所述的導軌的安裝校正工具，其特征在于，所述的對向比較刻度線直接設在所述第二發射器的正面。

7.根據權利要求2所述的導軌的安裝校正工具，其特征在于，所述的第一固定座和第二固定座均設有鎖緊裝置以及與導軌相配合的安裝槽口，該第一固定座和第二固定座通過所述的鎖緊裝置固定安裝在導軌上。