[發明專利]基于溫度變化動態調整時序的方法、裝置及網絡設備

有效

• 申請號: 201210524511.4
• 申請日: 2012-12-07
• 公開（公告）號: CN103019302A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 李明緯
• 申請（專利權）人: 北京星網銳捷網絡技術有限公司
• 主分類號: G06F1/12
• 分類號: G06F1/12
• 代理公司: 北京同達信恒知識產權代理有限公司 11291
• 代理人: 黃志華

技術領域

本發明涉及計算機技術領域，尤指一種基于溫度變化動態調整同步接口時序的方法、裝置及網絡設備。

背景技術

對于同步接口來說，信號的建立時間（Set?Up?Time，Tsu）與保持時間（HoldTime，Th）是兩個重要的參數。Tsu是指在時鐘沿到來之前數據從不穩定到穩定所需的時間，如果Tsu不滿足要求，那么數據將不能在這個時鐘沿被穩定的打入觸發器；Th是指數據穩定后保持的時間，如果Th不滿足要求，數據也不能被穩定的打入觸發器。Tsu與Th之間的關系如圖1所示，數據信號上升沿的80％處到時鐘信號上升沿的80％處之間的時間長度為Tsu，時鐘信號上升沿的80％處到數據信號下降沿的80％處之間的時間長度為Th，其中，數據信號相對時鐘信號的Tsu、Th為同步接口的時序。

雙倍速率同步動態隨機存儲器（Dual?Date?Rate?Synchronous?DynamicRandomAccess?Memory，DDR?SDRAM）是一類較為典型的同步接口，簡稱為DDR，DDR在時鐘信號上升沿與下降沿各傳輸一次數據，這使得DDR的數據傳輸速率為傳統SDRAM的兩倍。DDR的發展經歷了DDR—>DDR2—>DDR3的飛速變化，DDR的工作頻率越來越高，時序越來越小，通常只有幾百皮秒（ps）。例如DDR3-1600工作電壓為1.5V時，Tsu最小值為170ps，Th最小值為120ps。

由于半導體中載流子的濃度及遷移率會隨著環境溫度的改變而發生變化，那么信號的上升下降時間以及信號的抖動也會隨著環境溫度改變而發生變化，這些變化直接導致不同溫度下時序發生變化，這種因溫度改變導致的時序變化一般在ps級。低速同步接口時序的裕量大，例如，頻率100M的同步接口，Tsu、Th一般要求在納秒級，因此溫度變化對時序的影響基本可以忽略。但是從DDR的發展歷程來看，高速同步接口的工作頻率越來越高，時序的裕量也越來越小，Tsu、Th已經達到ps級，因此溫度變化對時序的影響就不能忽略。而現有的高速同步接口的時序都是預先設定的且不能改變，當應用高速同步接口的網絡設備工作環境溫度變化時，高速同步接口的時序受到影響，由于預先設定的時序不能改變，這時就會出現讀寫錯誤、報文傳輸循環冗余校驗碼（Cyclic?Redundancy?Check，CRC）錯誤等等，過多的錯誤會直接導致網絡設備重啟，降低網絡設備的穩定性。而目前尚不存在能夠基于溫度變化動態調整同步接口時序的方法。

發明內容

本發明實施例提供一種基于溫度變化動態調整時序的方法、裝置及網絡設備，用以實現基于溫度變化動態調整同步接口的時序來提高網絡設備的穩定性。

一種基于溫度變化動態調整時序的方法，包括：

A、啟動針對同步接口的時序調整，獲取當前最優時序，并記錄所述當前最優時序對應的溫度區間，其中，所述溫度區間是根據所述同步接口的工作溫度范圍確定的；

B、以設定的時間周期輪詢環境溫度，并確定輪詢到的環境溫度對應的溫度區間；

C、判斷所述當前最優時序對應的溫度區間與輪詢到的環境溫度對應的溫度區間是否有交集，若是，執行步驟B；否則，執行步驟A。

一種基于溫度變化動態調整時序的裝置，包括：

獲取單元，用于啟動針對同步接口的時序調整，獲取當前最優時序，并記錄所述當前最優時序對應的溫度區間，其中，所述溫度區間是根據所述同步接口的工作溫度范圍確定的；

確定單元，用于以設定的時間周期輪詢環境溫度，并確定輪詢到的環境溫度對應的溫度區間；

判定單元，用于判斷所述當前最優時序對應的溫度區間與輪詢到的環境溫度對應的溫度區間是否有交集，若是，轉向所述確定單元；否則，轉向所述獲取單元。

一種網絡設備，包括上述基于溫度變化動態調整時序的裝置。

本發明有益效果如下：