[發明專利]多陣列天線輻射方向圖一致性的獲取方法與裝置有效
| 申請號: | 201210519500.7 | 申請日: | 2012-12-06 |
| 公開(公告)號: | CN103856252B | 公開(公告)日: | 2017-10-20 |
| 發明(設計)人: | 楊濤;畢奇;謝偉良 | 申請(專利權)人: | 中國電信股份有限公司 |
| 主分類號: | H04B7/04 | 分類號: | H04B7/04;H04W16/18;H04W16/24 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所11038 | 代理人: | 曹蓓 |
| 地址: | 100033 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 陣列 天線 輻射 方向 一致性 獲取 方法 裝置 | ||
1.一種多陣列天線輻射方向圖一致性的獲取方法,其特征在于,包括:
根據多陣列天線的輻射方向圖數據,分別獲取在所述多陣列天線的法線方向±60°輻射角內,多陣列天線的各輻射方向圖在每個角度上的輻射場強的最大差值;所述多陣列天線的輻射方向圖數據包括所述多陣列天線的輻射電磁場在不同距離、不同角坐標上的輻射場強信息;
比較獲取到的多陣列天線的各輻射方向圖在每個角度上的輻射場強的最大差值,獲取在多陣列天線法線方向±60°輻射角內輻射場強的最大差值;
獲取在多陣列天線法線方向±60°輻射角內輻射場強的最大差值獲取對應的最大增益差值,作為所述多陣列天線的增益偏差;
根據所述多陣列天線的增益偏差獲取所述多陣列天線輻射方向圖的一致性;
識別所述多陣列天線的增益偏差是否小于預設增益偏差值;
若所述多陣列天線的增益偏差小于預設增益偏差值,確定所述多陣列天線輻射方向圖的一致性符合性能要求;
否則,若所述多陣列天線的增益偏差不小于預設增益偏差值,確定所述多陣列天線輻射方向圖的一致性不符合性能要求。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述多陣列天線具有兩個以上端口。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,根據所述多陣列天線的增益偏差獲取所述多陣列天線輻射方向圖的一致性包括:
所述多陣列天線的增益偏差越小,所述多陣列天線輻射方向圖的一致性越好;
所述多陣列天線的增益偏差越大,所述多陣列天線輻射方向圖的一致性越差。
4.根據權利要求1~3任意一項所述的方法,其特征在于,所述預設增益偏差值具體為2dB。
5.一種多陣列天線輻射方向圖一致性的獲取裝置,其特征在于,包括:
存儲單元,用于存儲多陣列天線的輻射方向圖數據,所述多陣列天線的輻射方向圖數據包括所述多陣列天線的輻射電磁場在不同距離、不同角坐標上的輻射場強信息;
第一獲取單元,用于根據存儲單元中多陣列天線的輻射方向圖數據,分別獲取在所述多陣列天線的法線方向±60°輻射角內,多陣列天線的各輻射方向圖在每個角度上的輻射場強的最大差值;
比較單元,用于比較獲取到的多陣列天線的各輻射方向圖在每個角度上的輻射場強的最大差值,獲取在多陣列天線法線方向±60°輻射角內輻射場強的最大差值;
第二獲取單元,用于獲取在多陣列天線法線方向±60°輻射角內輻射場強的最大差值獲取對應的最大增益差值,作為所述多陣列天線的增益偏差;
第三獲取單元,用于根據所述多陣列天線的增益偏差獲取所述多陣列天線輻射方向圖的一致性;
識別單元,用于識別所述多陣列天線的增益偏差是否小于預設增益偏差值;若所述多陣列天線的增益偏差小于預設增益偏差值,確定所述多陣列天線輻射方向圖的一致性符合性能要求;否則,若所述多陣列天線的增益偏差不小于預設增益偏差值,確定所述多陣列天線輻射方向圖的一致性不符合性能要求。
6.根據權利要求5所述的裝置,其特征在于,所述多陣列天線具有兩個以上端口。
7.根據權利要求6所述的裝置,其特征在于,所述多陣列天線的增益偏差越小,所述多陣列天線輻射方向圖的一致性越好;
所述多陣列天線的增益偏差越大,所述多陣列天線輻射方向圖的一致性越差。
8.根據權利要求5~7任意一項所述的裝置,其特征在于,所述預設增益偏差值具體為2dB。
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