[發明專利]內窺鏡、內窺鏡檢測系統及超導腔內表面檢測系統

有效

• 申請號: 201210519346.3
• 申請日: 2012-12-06
• 公開（公告）號: CN103048336A
• 公開（公告）日: 2013-04-17
• 發明（設計）人: 劉振超;高杰;李中泉
• 申請（專利權）人: 中國科學院高能物理研究所
• 主分類號: G01N21/954
• 分類號: G01N21/954;G02B23/24
• 代理公司: 北京市惠誠律師事務所 11353
• 代理人: 雷志剛;潘士霖

技術領域

本發明涉及超導腔檢測技術，特別涉及一種內窺鏡、內窺鏡檢測系統及超導腔內表面檢測系統。

背景技術

超導腔內表面的平整性是超導腔的重要性能之一。超導腔內表面的檢測方法，通常是將內窺鏡伸入超導腔內，采用成像系統觀察超導腔內表面的微觀結構，如觀察超導腔內表面是否存在裂痕、氣泡坑（俗稱貓眼）等表面缺陷。現有技術為了達到較高的觀測精度，往往需要采用精密的光學系統，造價昂貴，成本高。

發明內容

在下文中給出關于本發明的簡要概述，以便提供關于本發明的某些方面的基本理解。應當理解，這個概述并不是關于本發明的窮舉性概述。它并不是意圖確定本發明的關鍵或重要部分，也不是意圖限定本發明的范圍。其目的僅僅是以簡化的形式給出某些概念，以此作為稍后論述的更詳細描述的前序。

本發明提供一種內窺鏡、內窺鏡檢測系統及超導腔內表面檢測系統，有利于提高觀測精度，簡化結構，降低成本。

一方面，本發明提供了一種內窺鏡，包括：支承桿，所述支承桿上設置有照明組件和用于反射所述照明組件出射的光的光反射部，所述支承桿的一端套有吸光罩，所述吸光罩的中心部位開設有透光區域。

另一方面，本發明還提供了一種內窺鏡檢測系統，包括上述內窺鏡，所述透光區域的中心軸線延伸方向上設置有成像系統。

又一方面，本發明還提供了一種超導腔內表面檢測系統，包括超導腔和上述內窺鏡檢測系統，所述內窺鏡檢測系統用于檢測所述超導腔的內表面。

本發明提供的內窺鏡、內窺鏡檢測系統及超導腔內表面檢測系統，提高了成像系統拍攝圖像的分辨率和如超導腔別內表面等設備內部微觀結構的觀測精度，且具有結構簡單、成本低等優點。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發明實施例一提供的內窺鏡的原理示意圖；

圖2為本發明實施例二提供的內窺鏡檢測系統的原理示意圖；

圖3為本發明實施例三提供的超導腔內表面檢測系統的原理示意圖。

附圖標記：

內窺鏡-1；???????支承桿-11；????照明組件-12；

光反射部-13；????吸光罩-14；????透光區域-15；

漫反射罩-16；????成像系統-2；???相機-21；

鏡頭-22；????????近攝鏡-23；????超導腔-3；

支撐平臺-4；?????導向部-41；????內窺鏡調節裝置5；

顯示系統6。

具體實施方式

為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。在本發明的一個附圖或一種實施方式中描述的元素和特征可以與一個或更多個其它附圖或實施方式中示出的元素和特征相結合。應當注意，為了清楚的目的，附圖和說明中省略了與本發明無關的、本領域普通技術人員已知的部件和處理的表示和描述。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有付出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。

圖1為本發明實施例一提供的內窺鏡的原理示意圖。如圖1所示，本實施例提供的內窺鏡1包括：支承桿11，支承桿11上設置有照明組件12和用于反射照明組件12發射的光的光反射部13，支承桿13的一端套有吸光罩14，吸光罩14的中心部位開設有透光區域15。

本實施例提供的內窺鏡具有結構簡單、成本低等優點。采用本實施例提供的內窺鏡進行設備內部如超導腔內表面微觀結構的檢測時，可將支撐桿設有照明組件和光反射部的部分伸入設備內部。照明組件提供設備內部的照明。光反射鏡一方面將照明組件發出的光線反射至設備內部表面，另一方面將從設備內部表面反射回來的光線，經吸光罩中心部位開設的透光區域導出設備外部，以便設置在設備外部的成像裝置進行成像觀測。自設備內部向吸光罩除透光區域外的其他部位投射的光線（通常包括照明組件的雜光），被吸光罩有效吸收，避免了如照明組件的雜光等非有效光線進入設備外部的成像系統，提高了成像系統拍攝圖像的分辨率和觀測精度。