[發(fā)明專利]絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)、絕緣狀態(tài)檢測方法及螢光顯微鏡系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210518547.1 | 申請日： | 2012-12-05 |
| 公開（公告）號： | CN103823161A | 公開（公告）日： | 2014-05-28 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 李義政;施文暉;龔智詮 | 申請（專利權(quán)）人： | 緯創(chuàng)資通股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/12 | 分類號： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人： | 史新宏 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 絕緣 狀態(tài) 檢測 系統(tǒng) 方法 螢光 顯微鏡 | ||
1.一種絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，用以檢測一待測裝置內(nèi)部的絕緣狀態(tài)，該待測裝置包括一發(fā)光二極管元件、一散熱模塊及一金屬基座，該發(fā)光二極管元件及該散熱模塊之間具有一第一絕緣層，該散熱模塊及該金屬基座之間具有一第二絕緣層；該絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)包括：
一控制模塊，具有一電壓輸出端及一電壓檢測端；以及
一檢測回路，電性連接于該電壓輸出端、該電壓檢測端及該散熱模塊，該控制模塊由該電壓輸出端輸出一測試電壓訊號以經(jīng)由該檢測回路傳輸至該散熱模塊，并自該電壓檢測端接收一回傳電壓訊號；其中該控制模塊判斷該回傳電壓訊號的電壓值是否與該測試電壓訊號的電壓值相同；若是，則該控制模塊判斷該第一絕緣層及該第二絕緣層的狀態(tài)正常。
2.如權(quán)利要求1所述的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，其中該控制模塊還包括一電源控制端，用以電性連接至一電源供應(yīng)模塊，該電源供應(yīng)模塊供應(yīng)一電源訊號至該發(fā)光二極管元件；其中若該控制模塊判斷該第一絕緣層及該第二絕緣層的狀態(tài)正常，則利用該電源控制端產(chǎn)生一電源控制訊號至該電源供應(yīng)模塊，以控制該電源供應(yīng)模塊傳輸該電源訊號至該發(fā)光二極管元件。
3.如權(quán)利要求1所述的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，其中若該回傳電壓訊號的電壓值介于該測試電壓訊號的電壓值與零之間，則該控制模塊判斷該第一絕緣層的狀態(tài)異常。
4.如權(quán)利要求1所述的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，其中若該回傳電壓訊號的電壓值等于零，則該控制模塊判斷該第二絕緣層的狀態(tài)異常。
5.如權(quán)利要求1所述的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，其中該測試電壓訊號的電壓值為3.3伏特。
6.如權(quán)利要求1至5的任一權(quán)利要求所述的絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，其中該絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)用于檢測一螢光發(fā)光裝置的絕緣狀態(tài)。
7.一種絕緣狀態(tài)檢測的方法，用于檢測一待測裝置的絕緣狀態(tài)，該待測裝置包括一發(fā)光二極管元件、一散熱模塊及一金屬基座，該發(fā)光二極管元件及該散熱模塊之間具有一第一絕緣層，該散熱模塊及該金屬基座之間具有一第二絕緣層；該方法包括以下步驟：
自一電壓輸出端以經(jīng)由一檢測回路傳輸一測試電壓訊號至該散熱模塊；
自該散熱模塊接收一回傳電壓訊號；
判斷該回傳電壓訊號的電壓值是否與該測試電壓訊號的電壓值相同；以及
若是，則判斷該第一絕緣層及該第二絕緣層的狀態(tài)正常。
8.如權(quán)利要求7所述的絕緣狀態(tài)檢測的方法，其中若該第一絕緣層及該第二絕緣層的狀態(tài)正常，則進(jìn)一步執(zhí)行傳輸一電源訊號至該發(fā)光二極管元件的步驟。
9.如權(quán)利要求7所述的絕緣狀態(tài)檢測的方法，還包括以下步驟：
其中若該回傳電壓訊號的電壓值介于該測試電壓訊號的電壓值與零之間，判斷該第一絕緣層的狀態(tài)異常。
10.如權(quán)利要求7所述的絕緣狀態(tài)檢測的方法，還包括以下步驟：其中若該回傳電壓訊號的電壓值等于零，判斷該第二絕緣層的狀態(tài)異常。
11.一種螢光顯微鏡系統(tǒng)，包括：
一螢光發(fā)光裝置，該螢光發(fā)光裝置包括：
一發(fā)光二極管元件，用以發(fā)出一螢光光源訊號；
一散熱模塊，用以讓該發(fā)光二極管元件散熱；
一金屬基座，用以支撐該散熱模塊；
一第一絕緣層，設(shè)置于該發(fā)光二極管元件及該散熱模塊之間；以及
一第二絕緣層，設(shè)置于該散熱模塊及該金屬基座之間；以及
一絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)，電性連接于該螢光發(fā)光裝置，該絕緣狀態(tài)檢測系統(tǒng)包括：
一控制模塊，具有一電壓輸出端及一電壓檢測端；以及
一檢測回路，電性連接于該電壓輸出端、該電壓檢測端及該散熱模塊，該控制模塊由該電壓輸出端輸出一測試電壓訊號以經(jīng)由該檢測回路傳輸至該散熱模塊，并自該電壓檢測端接收一回傳電壓訊號；其中該控制模塊判斷該回傳電壓訊號的電壓值是否與該測試電壓訊號的電壓值相同；若是，則該控制模塊判斷該第一絕緣層及該第二絕緣層的狀態(tài)正常。
12.如權(quán)利要求11所述的螢光顯微鏡系統(tǒng)，其中該控制模塊還包括一電源控制端，用以電性連接至一電源供應(yīng)模塊，該電源供應(yīng)模塊供應(yīng)一電源訊號至該發(fā)光二極管元件；其中若該控制模塊判斷該第一絕緣層及該第二絕緣層狀態(tài)正常，則利用該電源控制端產(chǎn)生一電源控制訊號至該電源供應(yīng)模塊，以控制該電源供應(yīng)模塊傳輸該電源訊號至該發(fā)光二極管元件。
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