[發明專利]一種基于數字微鏡器件的微流控芯片加工與檢測實驗裝置

有效

• 申請號: 201210517515.X
• 申請日: 2012-12-06
• 公開（公告）號: CN102967556A
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發明（設計）人: 丁翔宇;任煜軒;盧榮德
• 申請（專利權）人: 中國科學技術大學
• 主分類號: G01N21/17
• 分類號: G01N21/17;G01N21/64;B81C1/00
• 代理公司: 北京科迪生專利代理有限責任公司 11251
• 代理人: 成金玉

1.一種基于數字微鏡器件的微流控芯片加工與檢測實驗裝置，其特征在于包括：紫外LED光源(1)、第一雙凸透鏡(2)、第一反射鏡(3)、DMD器件(4)、雙色鏡(5)、第一顯微鏡物鏡(6)、三維電動平臺(7)、第二顯微鏡物鏡(8)、第二雙凸透鏡(9)、白光LED光源(10)、第二反射鏡(11)、濾色片(12)、第三雙凸透鏡(13)、CCD相機(14)和計算機(15)；其中：

紫外LED光源(1)、第一雙凸透鏡(2)、第一反射鏡(3)、DMD器件(4)、雙色鏡(5)、第一顯微鏡物鏡(6)、三維電動平臺(7)和計算機(15)構成微流控芯片軟光刻曝光光路；

白光LED光源(10)、第二雙凸透鏡(9)、第二顯微鏡物鏡(8)、三維電動平臺(7)、第一顯微鏡物鏡(6)、雙色鏡(5)、第二反射鏡(11)、濾色片(12)、第三雙凸透鏡(13)、CCD相機(14)和計算機(15)構成微流控芯片中微量樣品的可見光實時檢測光路；

紫外LED光源(1)、第一雙凸透鏡(2)、第一反射鏡(3)、DMD器件(4)、雙色鏡(5)、第一顯微鏡物鏡(6)、三維電動平臺(7)、第二反射鏡(11)、濾色鏡(12)、第三雙凸透鏡(13)、CCD相機(14)和計算機(15)構成微流控芯片中微量樣品的紫外熒光實時檢測光路；

樣品池放置在三維電動平臺(7)上，在計算機(15)控制下，樣品隨著三維電動平臺(7)進行三維移動；所述計算機(15)的輸入端通過信號線分別與所述紫外LED光源(1)、DMD器件(4)、白光LED光源(10)、三維電動平臺(7)和CCD相機(14)相連；

所述計算機(15)中將微流道設計圖樣加載到DMD器件(4)上；所述計算機(15)通過信號采集系統采集并存儲CCD相機(14)所產生的時序圖像序列；

微流道圖樣的軟光刻曝光、微流控芯片中微量樣品的可見光和紫外熒光實時檢測，通過計算機控制實現模式的切換。

2.根據權利要求1所述基于數字微鏡器件的微流控芯片加工與檢測實驗裝置，其特征在于：所述微流道圖樣的軟光刻曝光加工光路的切換通過計算機(15)移動三維電動平臺(7)至合適位置，關閉白光LED光源(10)，關閉CCD相機(14)，加載微流控圖樣到DMD(4)器件，打開紫外LED光源(1)，并投射光線到DMD器件(4)上，此時該裝置工作在軟光刻曝光模式。

3.根據權利要求1所述基于數字微鏡器件的微流控芯片加工與檢測實驗裝置，其特征在于：所述微流控芯片中微量樣品的可見光和紫外熒光實時檢測光路切換通過計算機啟動三維電動平臺(7)并將三維電動平臺(7)移動到合適位置，打開CCD相機(14)，加載圖形信號到DMD(4)器件，控制紫外LED光源(1)和白光LED光源(10)的開閉實現兩種檢測模式的切換：當關閉白光LED光源(10)，打開紫外LED光源(1)，控制DMD(4)輸出全亮圖樣時，該裝置工作在紫外熒光實時檢測模式；當關閉紫外LED光源(1)，關閉DMD(4)輸出，打開白光LED光源(10)時，該裝置工作在可見光實時檢測模式。

4.根據權利要求1所述的基于數字微鏡器件的微流控芯片加工與檢測實驗裝置，其特征在于：采用實時可控的DMD器件替代了傳統工藝中的掩膜板，具有修改便捷等優點。