[發明專利]電梯門鎖開關智能測試儀及其測試方法

有效

• 申請號: 201210514790.6
• 申請日: 2012-12-05
• 公開（公告）號: CN103064014A
• 公開（公告）日: 2013-04-24
• 發明（設計）人: 林國希;米亭生;王桂棠;王正華;林鋒;何挺
• 申請（專利權）人: 林國希
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327;G01M13/00
• 代理公司: 廣州中浚雄杰知識產權代理有限責任公司 44254
• 代理人: 張少君

技術領域

本發明涉及開關測試，尤其是一種電梯門鎖開關智能測試儀及測試方法。

背景技術

電梯門鎖開關安裝于電梯的層門系統中，對電梯層門起鎖緊作用；同時通過電梯開門中的電梯門鎖上鉤與電梯門鎖下鉤的配合來實現層門的開啟或關閉，是一種重要的電梯安全部件。電梯門鎖開關對于電梯系統來說是常用的活動部件，電梯門鎖開關的上鉤和下鉤的每次閉合都會產生碰撞，鎖盒中的觸片會流過電流，這些都會影響到電梯門鎖開關機械部件或電氣部件的壽命。出于安全考慮，電梯門鎖開關在出廠前需要進行相關測試，例如鎖盒中的觸片在通過電流情況下接觸導通次數的測試，門鎖上鉤與下鉤疲勞度的測試等。目前電梯門鎖開關的相關測試設備和方法幾乎空白，或者存在某些靜態測試設備，但是這些靜態測試設備完全不能模擬電梯門鎖實際運行環境并且測試的次數有限，因此其測試出來的數據存在較大誤差。

發明內容

本發明所要解決的技術問題之一是提供一種電梯門鎖開關智能測試儀，能夠自動反復模擬電梯門鎖開關實際運行環境，使其測試結果更真實。

本發明所要解決的技術問題之二是提供一種電梯門鎖開關智能測試方法，能夠自動反復模擬電梯門鎖開關實際運行環境，使其測試結果更真實。

為解決上述技術問題之一，本發明的技術方案是：一種電梯門鎖開關智能測試儀，包括電氣控制部分和機械控制部分；所述機械控制部分包括機架，機架上為工作平臺，所述工作平臺上設有固定承載平臺，所述固定承載平臺上設有電梯門鎖開關的鎖盒，所述鎖盒內設有兩觸片和設于觸片下方的電梯門鎖下鉤，所述觸片與所述電氣控制部分連接；所述工作平臺上設有支架臺，所述支架臺上設有導向桿，所述導向桿上套有滑套，所述滑套與活動承載平臺連接，所述活動承載平臺上設有電梯門鎖上鉤組件，所述電梯門鎖上鉤組件包括與活動承載平臺固定連接的安裝板、與電梯門鎖下鉤配合的電梯門鎖上鉤和使鎖盒內兩觸片接通的接觸塊，所述電梯門鎖上鉤與安裝板鉸接；所述工作平臺下方驅動電梯門鎖上鉤上下運動的頂升機構和驅動活動承載平臺左右往復運動的搖擺機構，所述頂升機構包括伺服電機、與伺服電機輸出軸連接的上下凸輪、頂升組件和頂升桿，所述上下凸輪通過所述頂升組件驅動所述頂升桿上下運動，所述頂升桿位于所述電梯門鎖下鉤下方；所述搖擺機構包括所述伺服電機、與伺服電機輸出軸連接的左右凸輪和搖桿，所述搖桿一端與所述活動承載平臺鉸接，另一端與機架鉸接，所述搖桿上設有凸出部，所述左右凸輪通過凸出部驅動所述搖桿，所述左右凸輪通過搖桿驅動活動承載平臺左右運動；所述電氣控制部分設有變壓系統、負載系統和控制系統，所述控制系統通過變壓系統和負載系統控制流過所述鎖盒中兩觸片的電流大小。模擬電梯門鎖開關關閉測試時，搖擺機構驅動活動承載平臺帶著電梯門鎖上鉤向鎖盒方向運動，電梯門鎖上鉤會與鎖盒中的電梯門鎖下鉤碰撞，然后電梯門鎖上鉤會與電梯門鎖下鉤扣合，充分模擬電梯門鎖開關機械運行環境；電梯門鎖上鉤與下鉤扣合后，電梯門鎖上鉤上的接觸塊會與鎖盒中的兩觸片接觸，并使兩觸片電性導通；由于電氣控制部分存在變壓系統和負載系統，使兩觸片形成的回路具有電流流過，能夠充分模擬電梯門鎖實際用電運行環境。模擬電梯門鎖開關打開測試時，搖擺機構驅動活動承載平臺帶著電梯門鎖上鉤背離鎖盒方向運動，搖擺機構運動前，頂升機構將電梯門鎖上鉤往上托起，使電梯門鎖下鉤與電梯門鎖上鉤相互脫離約束；電梯門鎖上鉤通過搖擺機構復位；此后搖擺機構和頂升機構共同作用在電梯門鎖上鉤使其能夠重復的模擬電梯門鎖開關實際運行的環境。

作為改進，所述工作平臺上設有直線軸承，所述固定承載平臺底部設有直線軸，所述直線軸與所述直線軸承配合，且固定承載平臺與工作平臺之間設有彈簧，所述彈簧套在直線軸承和直線軸上；所述固定承載平臺與工作平臺之間設有調節螺桿，所述調節螺桿一端與固定承載平臺固定連接，另一端與工作平臺螺紋連接。

作為改進，所述鎖盒與固定承載平臺之間設有前后調整裝置，用于調整鎖盒與電梯門鎖上鉤組件之間的距離，確保鎖盒內的電梯門鎖下鉤與電梯門鎖上鉤能夠配合得起來。

作為改進，所述安裝板通過高度調整裝置與固定在所述活動承載平臺上。高度調整裝置用于調整電梯門鎖上鉤的高度，確保鎖盒內的電梯門鎖下鉤與電梯門鎖上鉤能夠配合得起來。