[發明專利]一種電路測試控制方法及裝置

有效

• 申請號: 201210513748.2
• 申請日: 2012-12-05
• 公開（公告）號: CN103018657A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 滕虓宇;張煒;馬文波;于立波
• 申請（專利權）人: 北京華大信安科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/317
• 代理公司: 北京弘權知識產權代理事務所(普通合伙) 11363
• 代理人: 郭放;許偉群

1.一種電路測試控制方法，其特征在于，包括：

在進入測試模式后，接收第一測試口令，以及與所述第一測試口令對應的第一測試模式信號；

將所述第一測試口令與預設口令進行匹配，如果匹配成功，將所述第一測試模式信號輸入片上系統SOC芯片，以便于對所述SOC芯片上所述第一測試模式信號對應的第一測試項進行測試。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，當接收到的第一測試口令為不同的多條第一測試口令時，

所述將第一測試口令與預設口令進行匹配，如果匹配成功，將所述第一測試模式信號輸入所述片上系統SOC芯片具體為：

將所述不同的多條第一測試口令分別與預設口令進行匹配，如果全部匹配成功，將所述第一測試模式信號輸入所述片上系統SOC芯片。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在對所述第一測試項測試結束后，所述方法還包括：

接收第二測試口令，以及與所述第二測試口令對應的第二測試模式信號；

將所述第二測試口令與所述預設口令進行匹配，如果匹配成功，將所述第二測試模式信號輸入所述SOC芯片，以便于對所述SOC芯片上所述第二測試模式信號對應的第二測試項進行測試。

4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，當接收到的第二測試口令為不同的多條第二測試口令時，

所述將第二測試口令與預設口令進行匹配，如果匹配成功，將所述第二測試模式信號輸入所述片上系統SOC芯片具體為：

將所述不同的多條第二測試口令分別與預設口令進行匹配，如果全部匹配成功，將所述第二測試模式信號輸入所述片上系統SOC芯片。

5.如權利要求1至4任一項所述的方法，其特征在于，在測試結束后，所述方法還包括：將所述測試模式切換為正常應用模式。

6.如權利要求5所述的方法，其特征在于，所述將測試模式切換為正常應用模式具體包括：通過控制所述SOC芯片上的保護鏈路的斷開，將所述測試模式切換為正常應用模式。

7.一種電路測試控制方法，其特征在于，包括：

在進入測試模式后，接收多條測試口令，以及與所述多條測試口令對應的多個測試模式信號；

將所述多條測試口令中的每條測試口令分別與預設口令進行匹配，并將匹配成功的多條測試口令對應的多個測試模式信號并行輸入到片上系統SOC芯片，以便于對所述SOC芯片上對應的多個測試項進行并行測試。

8.一種電路測試控制裝置，其特征在于，包括：

第一接收單元：用于接收第一測試口令；

第二接收單元：用于接收與所述第一測試口令對應的第一測試模式信號；

匹配單元：用于將所述第一測試口令與預設口令進行匹配；

輸入單元：用于在所述第一測試口令與預設口令匹配成功后，將所述第一測試模式信號輸入所述片上系統SOC芯片，以便于對所述SOC芯片上所述第一測試模式信號對應的第一測試項進行測試。

9.如權利要求8所述的電路測試控制裝置，其特征在于，所述第一接收單元接收到的第一測試口令為不同的多條第一測試口令時，

所述匹配單元，還用于將所述不同的多條第一測試口令分別與預設口令進行匹配；

所述輸入單元：還用于在所述匹配單元將所述不同的多條第一測試口令分別與預設口令全部匹配成功時，將所述第一測試模式信號輸入所述片上系統SOC芯片。

10.如權利要求8所述的電路測試控制裝置，其特征在于，

所述第一接收單元：還用于接收第二測試口令；

所述第二接收單元：還用于接收與所述第二測試口令對應的第二測試模式信號；

所述匹配單元：還用于將所述第二測試口令與預設口令進行匹配；

所述輸入單元：還用于在所述第二測試口令與預設口令匹配成功后，將所述第二測試模式信號輸入所述SOC芯片，以便于對所述SOC芯片上所述第二測試模式信號對應的第二測試項進行測試。