[發明專利]基于采樣學習的SAR圖像分割方法

無效

• 申請號: 201210513077.X
• 申請日: 2012-11-30
• 公開（公告）號: CN102968796A
• 公開（公告）日: 2013-03-13
• 發明（設計）人: 張小華;焦李成;郝陽陽;田小林;朱虎明;戴坤鵬;唐中和;馬文萍;馬晶晶
• 申請（專利權）人: 西安電子科技大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06K9/62
• 代理公司: 陜西電子工業專利中心 61205
• 代理人: 王品華;朱紅星

1.一種基于采樣學習的SAR圖像分割方法，實現步驟包括如下：

（1）對待分割的SAR圖像，提取三層小波特征和灰度共生特征，得到規模為26×N的數據集Y，N為圖像中所有像素點的個數；

（2）對數據集Y進行M次隨機采樣，每次選擇規模為26×n的樣本數據集Y^P作為樣本，n<<N，p=1,2,…,M；

（3）采用譜聚類算法對每次隨機采樣的樣本數據集Y^P進行聚類，得到K個子數據集，并且再從每一個子數據集中選取一些靠近該子數據集聚類中心的數據，K為所要分割的類數；

（4）將M次樣本聚類后屬于同一類的數據合在一起，對每一類集合在一起的數據構成該類的新數據集Y_k，利用KSVD算法對新數據集Y_k訓練一個字典D_k，k=1,2,3,…,K；

（5）利用正交匹配追蹤OMP算法求解測試樣本S在字典D=[D₁，...,D_K]上的稀疏編碼，得到稀疏向量α＝[(α¹）^T,...,(α^K)^T]^T，[]^T表示矩陣的轉置；

（6）根據子字典D_k和稀疏子向量α^k計算測試樣本S在字典D_k上的重構誤差：

Rk(S)=||S-Dkαk||22,]]>表示l₂范數；

（7）利用重構誤差R_k(S)，求解測試樣本S的標簽l(S)＝argmin_{k＝1，...,K}?R_k(S)，arg?min為求最小值的函數，得到每個測試樣本的標簽，進而得到最終的分割結果。