[發(fā)明專利]用于確定定子心中短路的方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201210513005.5
• 申請日: 2012-12-04
• 公開（公告）號: CN103149490A
• 公開（公告）日: 2013-06-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: H·格拉夫
• 申請（專利權(quán)）人: 阿爾斯通技術(shù)有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 王永建

技術(shù)領(lǐng)域

本公開涉及一種用于確定定子心中短路的方法。

背景技術(shù)

旋轉(zhuǎn)電機具有定子心，該定子心具有容納轉(zhuǎn)子的孔。

定子心通常具有層疊結(jié)構(gòu)，該層疊結(jié)構(gòu)包括金屬疊片，相鄰疊片之間插入有絕緣材料。該結(jié)構(gòu)在操作期間防止渦流循環(huán)流過定子心。

當絕緣失效并且兩個或者更多疊片短路時，渦流可能循環(huán)；這些渦流可能會產(chǎn)生能夠使疊片熔化的高溫點。

為此，必須檢測短路以消除短路。

為了檢測疊片之間的短路，已知以低磁通量（標定通量的幾個百分比）操作定子心，以使得渦流在短路的疊片之間循環(huán)（這通常利用輔助的繞組實現(xiàn)）；這些渦流產(chǎn)生能夠利用探測器（例如線圈）檢測到的額外的磁通量，該磁通量能夠掃過定子心。

該傳統(tǒng)方法允許短路的區(qū)域被檢測到，但是不允許短路的疊片被識別而將所需的對策僅應用于所需位置。

此外，在小短路的情況下（即，僅當兩個或者幾個疊片短路時），該方法不會完全檢測到短路。

發(fā)明內(nèi)容

本公開的一方面包括提供一種能夠精確地識別短路的疊片的方法。

本公開的另一方面包括提供一種檢測小短路（即，關(guān)于幾個疊片或者僅兩個疊片的短路）的方法。

通過提供根據(jù)所附權(quán)利要求的方法來獲得這些和進一步的方面。

附圖說明

通過附圖中的非限制性示例示出的本發(fā)明的優(yōu)選但非排他性實施例的描述可知，另外的特征和優(yōu)點將更加清楚，其中：

圖1是定子心的示意性透視圖；

圖2至圖4是無損壞（圖2）、損壞（圖3）、修復（圖4）的定子心的縱向截面圖；

圖5至圖8顯示了測量的電壓。

具體實施方式

該方法優(yōu)選在制造期間實施，當定子沒有容納轉(zhuǎn)子并且通常在定子上具有測試纏繞而非最終纏繞時實施。由于在測試期間給測試纏繞減小的供應電流以及通過定子的磁通量，所以使用測試纏繞沒有麻煩。

另外，該方法還可以在電機的維護期間使用。

通常定子心在疊片之間更容易受短路影響的部分是定子孔；例如短路將會由在制造或者維護期間落入定子孔中的工具以及絕緣的損壞引起。為此，該方法優(yōu)選在定子孔中實施。

圖1顯示了典型地具有限定定子孔2的環(huán)形結(jié)構(gòu)的定子心1。在定子孔2中，插入有轉(zhuǎn)子；轉(zhuǎn)子沒有顯示，這是因為當實施該方法時通常沒有提供轉(zhuǎn)子。

定子心1包括疊片3以及在每對疊片3之間的絕緣材料4。

如圖2所示（其為定子心1的一部分的縱向截面圖），定子孔2的內(nèi)表面具有梳子狀的結(jié)構(gòu)，疊片突出到定子孔2中，交替地疊片不突出到定子孔2中；在圖2中，參考表號3a指示突出的疊片，參考表號3b指示不突出的疊片。在不同的實施例中，替代梳子狀的結(jié)構(gòu)，疊片可具有相同的尺寸并且限定定子孔的直的縱向輪廓，或者也可具有不同的構(gòu)造。

為了使疊片彼此之間絕緣，絕緣材料4覆蓋突出的疊片的整個表面（即，也覆蓋其突出部分）。

圖3顯示了在疊片3之間絕緣材料損壞的實例，該損壞由例如在制造或者維護期間落下的工具引起；總之清楚的是，也可以由其他原因使得絕緣材料損壞。特別地，圖3顯示了通過損壞的疊片和/或絕緣材料的金屬的去除和/或彎曲和/或變形引起的損壞的疊片3d、3e、3f以及相鄰疊片之間的金屬橋6。

在這種情況下，為了確定短路，測量疊片的電壓并且基于測量的電壓確定短路的存在。

為了測量電壓，可以用到多種可能的方法。

例如，將被測試的區(qū)域的所有疊片3的電壓可以一起測量；這可以參照外部參考電壓進行。

優(yōu)選地，測量疊片3的電壓包括測量兩個疊片3之間的電壓。

在這方面，疊片3c可以用作參考疊片，并且其他疊片3d-g的電壓可以參照其進行測量。

在這種情況下，在圖5中示出用于非損壞的定子心1的參考疊片3c和其他疊片3d-g之間的電壓，在圖6中示出用于損壞的定子心1的參考疊片3c和其他疊片3d-g之間的電壓。

或者，也可以測量相鄰疊片之間的電壓，因此參照圖3，可以在疊片3c/3d、3d/3e、3e/3f、3f/3g之間測量電壓。

在這種情況下，在圖7中示出用于非損壞的定子心1的疊片3c-g之間的電壓，在圖8中示出用于損壞的定子心1的疊片3c-g之間的電壓。

本發(fā)明優(yōu)選地用于定子心的選定的區(qū)域。

為此，在測量疊片3的電壓之前檢測定子心1以選擇一個或者多個進一步測試的區(qū)域7是有用的，這是因為他們顯得麻煩。因此，測量疊片3的電壓可僅在選定的區(qū)域7處實施。