[發明專利]一種Spacewire電路單粒子功能中斷測試方法

有效

• 申請號: 201210512499.5
• 申請日: 2012-11-30
• 公開（公告）號: CN103076557A
• 公開（公告）日: 2013-05-01
• 發明（設計）人: 陳莉明;董攀;鄭宏超;飛海東;王興友;祝長民;范隆;岳素格;杜守剛;馬建華;王煌偉;陳茂鑫;文圣泉;畢瀟
• 申請（專利權）人: 北京時代民芯科技有限公司;北京微電子技術研究所
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 安麗

1.一種Spacewire電路單粒子功能中斷測試方法，其特征在于步驟如下：

(1)將SPARC?V8的軟核燒寫入FPGA內部，形成硬件SPARC?V8微處理器；

(2)利用SPARC?V8處理器A和Spacewire電路A建立通訊聯系構成測試系統A，利用SPARC?V8處理器B和Spacewire電路B建立通訊聯系構成測試系統B，Spacewire電路A和Spacewire電路B建立通訊聯系構成測試系統A和測試系統B的數據傳輸通道；

(3)在兩個測試系統內部，分別利用各自的SPARC?V8處理器初始化各自Spacewire電路的寄存器以及通訊通道；

(4)將Spacewire電路B置于粒子輻照環境中；

(5)設定數據傳輸路徑為測試系統A向測試系統B發送數據，測試系統B接收到數據后將接收到的數據再次轉發給測試系統A；數據傳輸開始后，如果測試系統A無法向測試系統B發送數據或者測試系統A無法從測試系統B獲取轉發數據，則判斷Spacewire電路B發生單粒子功能中斷，進入下一步；

(6)測試系統A回讀Spacewire電路B的寄存器的信息，如果測試系統A能夠成功回讀Spacewire電路B的寄存器的信息，則判定Spacewire電路B的寄存器發生了功能中斷，根據回讀的Spacewire電路B的控制寄存器的數據分析造成功能中斷的原因；如果測試系統A無法回讀Spacewire電路B的控制寄存器的信息，則判定Spacewire電路B的仲裁器發生了功能中斷。

2.根據權利要求1所述的一種Spacewire電路單粒子功能中斷測試方法，其特征在于：所述步驟(6)中根據回讀的Spacewire電路B的控制寄存器的數據分析造成功能中斷的原因的方法為：如果在輻照過程中發生數據傳輸功能中斷、大量的數據包丟失或者大量的數據包傳輸錯誤，則判斷Spacewire電路B的編號為1～8以及11～255的控制寄存器發生了單粒子翻轉；如果在數據包傳輸的過程中發現數據包無法被接收或者無法向Spacewire電路B發送命令，則判斷Spacewire電路B的編號為9或者10的控制寄存器發生了單粒子翻轉；如果在輻照過程中發生數據傳輸功能中斷且Spacewire電路B的編號為0～255的控制寄存器未發現異常，則判斷Spacewire電路B的編號為256～265的控制寄存器發生了單粒子翻轉。