[發明專利]開關壽命測試裝置

無效

• 申請號: 201210510870.4
• 申請日: 2012-11-29
• 公開（公告）號: CN103852720A
• 公開（公告）日: 2014-06-11
• 發明（設計）人: 周明杰;胡波
• 申請（專利權）人: 海洋王（東莞）照明科技有限公司;海洋王照明科技股份有限公司;深圳市海洋王照明技術有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 何平

1.一種開關壽命測試裝置，其特征在于，包括開關測試工裝和開關壽命測試監控電路，所述開關測試工裝用于自動對待測開關進行閉合和斷開操作，所述開關壽命測試監控電路包括供電模塊、控制模塊、多對待測開關接入點及與待測開關接入點對數量相等的發光二極管；

所述供電模塊的輸出端與所述控制模塊連接，所述供電模塊用于接入外部電源并由所述供電模塊的輸出端輸出直流電為所述控制模塊供電；

每對所述待測開關接入點固定于所述開關測試工裝上，用于接入所述待測開關；

每個所述發光二極管與一對所述待測開關接入點串聯，并由所述控制模塊提供工作電流；

所述控制模塊包括控制芯片、吸收電感、補償電容、第一下拉電阻和第二下拉電阻；所述控制芯片的電源電壓輸入端和信號電壓輸入端與所述供電模塊的輸出端連接，所述多對待測開關接入點并聯且一端連接所述控制芯片的輸出端，另一端各接入控制芯片的一個低功率恒流控制端；所述吸收電感一端與所述控制芯片的第一開關節點端連接，另一端與所述控制芯片的第二開關節點端連接；所述控制芯片的補償端通過所述補償電容接地；所述控制芯片的高功率編程端通過所述第一下拉電阻接地；所述控制芯片的低功率編程端通過所述第二下拉電阻接地；所述控制芯片的第一信號接地端、第二信號接地端、功率接地端及散熱接地端均接地。

2.根據權利要求1所述的開關壽命測試裝置，其特征在于，所述低功率恒流控制端、發光二極管及待測開關接入點對數量均為5個。

3.根據權利要求1或2所述的開關壽命測試裝置，其特征在于，所述開關壽命測試監控電路還包括數量與所述發光二極管相等的限流電阻，每個所述限流電阻與一個發光二極管串聯。

4.根據權利要求1所述的開關壽命測試裝置，其特征在于，所述供電模塊包括用于對輸入的交流電進行降壓的變壓器和對降壓后的交流電進行整流的整流橋，所述變壓器包括初級線圈和次級線圈，所述初級線圈用于輸入所述交流電，所述次級線圈兩端分別與所述整流橋的第一輸入端和第二輸入端連接，所述整流橋的輸出端為所述供電模塊的輸出端。

5.根據權利要求4所述的開關壽命測試裝置，其特征在于，所述供電模塊包括第一濾波電容，所述第一濾波電容一端與所述整流橋的輸出端連接，另一端接地。

6.根據權利要求4所述的開關壽命測試裝置，其特征在于，所述供電模塊包括穩壓芯片，所述穩壓芯片的輸入端與所述整流橋的輸出端連接，輸出端與所述控制模塊連接，所述穩壓芯片的接地端接地。

7.根據權利要求6所述的開關壽命測試裝置，其特征在于，所述供電模塊包括第二濾波電容，所述第二濾波電容一端與所述穩壓芯片的輸出端連接，另一端接地。