[發明專利]用于監視工業過程的質量的方法及其系統

有效

• 申請號: 201210510711.4
• 申請日: 2012-12-04
• 公開（公告）號: CN103246241A
• 公開（公告）日: 2013-08-14
• 發明（設計）人: G.丹格洛;G.帕斯奎塔茨
• 申請（專利權）人: C.R.F.阿西安尼顧問公司
• 主分類號: G05B19/418
• 分類號: G05B19/418
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 馬永利;李浩

1.一種用于監視工業工作過程的質量的方法，其包括標識所述工作過程的缺陷，其類型，包括以下步驟：

從所述工業工作過程（10）獲取（100）具有多個頻率分量的信號（x（t）），

評估（200、300、400）從所述工業工作過程（10）獲取的具有多個頻率分量的所述信號（x(t)）以指示是否有所述缺陷和對具有多個頻率分量的所述信號（x(t)）執行缺陷分析步驟（500），所述評估是在不將從所述工業工作過程獲取的具有多個頻率分量的所述信號（x(t)）與存儲的基準信號相比較的情況下執行的，

其特征在于其還包括操作：

將具有多個頻率分量的所述至少一個信號（x(t)）分解（200）為具有單個頻率分量（IMF₁...IMF_n-1，?OIMF₁...OIMF_n-1）的信號，

計算（300）針對具有單個頻率分量（IMF₁...IMF_n-1，?OIMF₁...OIMF_n-1）的每個信號的信息量（var₁...var_n-1），

分析（400）針對具有單個頻率分量（IMF₁...IMF_n-1，?OIMF₁...OIMF_n-1）的每個信號的信息量（var₁...var_n-1），以及

如果最低單個頻率分量（IMF_n-1，?OIMF_n-1）處的信號的信息量（var_n-1）的值不表示整個獲取信號（x(t)）的信息量的主百分比（K，K1，K2），則具有多個頻率分量的所述獲取信號（x(t)）被評估為指示包括缺陷的工作過程，并且對具有多個頻率分量的所述信號（x(t)）執行缺陷分析步驟（500）。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于所述分析（400）針對具有單個頻率分量（IMF₁...IMF_n-1，?OIMF₁...OIMF_n-1）的每個信號的信息量（var₁...var_n-1）包括如果所述最低單個頻率分量（IMF_n-1，?OIMF_n-1）處的信號的信息量（var_n-1）的值不表示所述整個獲取信號的信息量的給定主百分比（K1），則將具有多個頻率分量的所獲取信號（x(t)）評估為指示具有缺陷的工作過程，以及

如果所述最低單個頻率分量（IMF_n-1，?OIMF_n-1）處的信號具有最高信息量值以及

其他頻率分量（IMF₁...IMF_n-2，OIMF₁...OIMF_n-2）中單獨地沒有一個具有表示多于第二給定百分比（K2）、低于信息量的所述主百分比的值。

3.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于由具有單個頻率分量（IMF₁...IMF_n-1，?OIMF₁...OIMF_n-1）的所述信號的方差來表示所述信息量。

4.如權利要求1或2所述的方法，其特征在于由熵或由具有單個頻率分量（IMF₁...IMF_n-1，?OIMF₁...OIMF_n-1）的所述信號的自相關來表示所述信息量。

5.如前述權利要求中的任一項所述的方法，其特征在于將具有多個頻率分量的所述至少一個信號（x(t)）分解（200）為具有單個頻率分量（IMF₁...IMF_n-1，?OIMF₁...OIMF_n-1）的信號包括執行EMD（經驗模態分解）。