[發明專利]一種電磁流量計中勵磁線圈絕緣性檢測方法

無效

• 申請號: 201210508126.0
• 申請日: 2012-12-03
• 公開（公告）號: CN103792457A
• 公開（公告）日: 2014-05-14
• 發明（設計）人: 趙小勇;胡玉礦
• 申請（專利權）人: 開封開德流量儀表有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;G01R19/25;G01F1/58
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種電流流量計，特別是涉及一種電磁流量計中勵磁線圈絕緣性檢測方法。?

背景技術

電磁流量計中的勵磁線圈很容易受到被測量液體的腐蝕，輕微腐蝕的勵磁線圈在現場測量中仍然可以檢測出流量信號，但測量精度將無法保證。腐蝕后的勵磁線圈將會在線圈到地之間形成泄露通路，部分勵磁電流將通過該泄露通路直接返回到電流源。泄露的這部分電流將不會產生測量流量信號所需的磁場，造成勵磁信號產生的磁場偏低，進而造成流量測量值偏低。電磁流量計的長期使用也會造成勵磁線圈的老化，導致勵磁線圈到地的絕緣性降低，這也會造成流量測量值偏低，影響測量精度。電磁流量計中勵磁驅動部分一般采用電流源，這就造成僅僅檢測回到電流源的電流大小是無法檢測出泄露電流的。電流源僅僅能保證經過整個勵磁回路的電流恒定，無法檢測出真正流入勵磁線圈的電流大小。?

發明內容

本發明公布了一種電磁流量計中勵磁線圈絕緣性檢測方法，為了克服勵磁線圈老化或勵磁線圈腐蝕等原因造成絕緣性降低對流量測量精度的影響，本發明提供了一種泄露電流檢測電路的方法。通過控制開關管S1、開關管S2、開關管S3、開關管S4的導通狀態，產生泄露電流檢測信號I，該泄露電流流過檢測電阻R?將會在其兩端產生電壓V=R*I，AD轉換器將該電壓值轉換為數字信號后送入微處理器進行處理；微處理器根據檢測出的電壓大小進行流量補償或輸出報警信息。

本發明的目的是這樣實現的：

當電磁流量計正常工作情況下的勵磁驅動為正向勵磁時，開關管S1、開關管S3閉合，開關管S2、開關管S4斷開，電流方向為正向；為反向勵磁時，開關管S1、開關管S3斷開，開關管S2、開關管S4閉合,電流方向為反向。

電磁流量計在檢測模式下的勵磁驅動正常時，其中開關管S1閉合，開關管S2、開關管S3?、開關管S4斷開，若勵磁線圈受到腐蝕，則將會產生泄露電阻RL，在電流源的驅動下，將會有泄露電流I流過電阻RL，此時可以測量檢測電阻R兩端之間的電壓值，該電壓值通過AD轉換器轉換為數字信號后送入微處理器進行處理，若該電壓值超過門限值1，則判定勵磁線圈對地產生泄露；然后判定該電壓值是否超過門限值2，若該電壓值未超過門限值2，則表明勵磁線圈對地的泄露電流在可以校正的范圍內，采用校正算法對流量測量值進行補償；若超過門限值2，則表明勵磁線圈對地泄露電流過大，將無法通過補償算法進行校正，此時系統輸出報警信息。

系統開機啟動后做系統初始化，設定開關導通模塊將系統勵磁驅動狀態設定為檢測模式，開關管S1閉合，開關管S2、開關管S3、開關管S4斷開，施加勵磁電流模塊產生勵磁驅動電流源，將會有泄露電流流過檢測電阻R，檢測泄露電流I?模塊通過測量檢測電阻R之間的電壓值間接計算出泄露電流?I?=?V/R，門限比較單元首先判斷泄露電流?I是否大于門限值1，若I小于門限值1，則表明泄露電流非常小，系統工作正常；若I大于門限值1，則需要進一步判斷I是否大于門限值2，若I大于門限值2，則表明系統的泄露電流過大，勵磁線圈老化或腐蝕嚴重，需要更換線圈，系統將輸出報警信息；若I小于門限值2，則表明系統有泄露電流，可以采用流量補償算法對流量測量信號進行補償。

本發明的有益效果：

本發明解決了勵磁線圈泄露電流對流量測量精度造成的影響，在泄露電流較小的情況下，可以采用補償算法用微處理器對流量信號進行補償，延長電磁流量計的使用壽命，可以估計出勵磁線圈的老化或腐蝕程度，進而估算出電流量流量計的使用壽命，對現場測量提供參考。

本發明不需要添加額外的復雜電路，僅僅利用了微處理器已有的一個AD轉換器和一個檢測電阻，對現有測量系統不會造成影響，所有的補償和處理算法均采用軟件方式實現，便于現場檢測和處理。

附圖說明：

1、附圖?1為正向勵磁驅動示意圖；

2、附圖?2為反向勵磁驅動示意圖；

3、附圖?3為檢測模式下勵磁驅動示意圖；

4、附圖?4為泄露電流檢測流程圖。

具體實施方式：