[發(fā)明專利]半導(dǎo)體發(fā)光元件、其制造方法及半導(dǎo)體發(fā)光元件制造系統(tǒng)無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210505781.0 | 申請日: | 2012-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN103137802A | 公開(公告)日: | 2013-06-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 海原竜 | 申請(專利權(quán))人: | 夏普株式會社 |
| 主分類號: | H01L33/02 | 分類號: | H01L33/02;H01L33/06;H01L21/205 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務(wù)所 11105 | 代理人: | 岳雪蘭 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 發(fā)光 元件 制造 方法 系統(tǒng) | ||
該非臨時申請要求2011年11月30提交日本的專利申請No.2011-262698在35U.S.C.§119(a)下的優(yōu)先權(quán),其全部內(nèi)容通過引用結(jié)合于此。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及諸如綠、藍或紫外區(qū)域的氮化物化合物半導(dǎo)體發(fā)光元件的半導(dǎo)體發(fā)光元件及其制造方法,以及在該半導(dǎo)體發(fā)光元件的制造方法中采用的半導(dǎo)體發(fā)光元件的制造系統(tǒng)。
背景技術(shù)
傳統(tǒng)上,在該類型的傳統(tǒng)氮化物半導(dǎo)體發(fā)光元件中,氮化物化合物半導(dǎo)體發(fā)光元件廣泛地用作綠、藍或紫外區(qū)域的半導(dǎo)體發(fā)光元件。然而,除了發(fā)光強度外,還存在進一步改善氮化物化合物半導(dǎo)體發(fā)光元件的各種特性上的空間。具體而言,在靜電放電的閾值電壓方面,期望氮化物化合物半導(dǎo)體發(fā)光元件比鎵或砷基半導(dǎo)體發(fā)光元件或銦或磷基半導(dǎo)體發(fā)光元件明顯更便宜且在靜電放電閾值電壓上有較大改善。
這里,為了改善傳統(tǒng)氮化物半導(dǎo)體發(fā)光元件的發(fā)光輸出,下面引用的參考文獻1和2中描述了有關(guān)有源層(發(fā)光層)摻雜的各種結(jié)構(gòu)的建議。
專利文獻1描述了有源層通過順序?qū)盈B非摻雜InGaN量子阱層和摻雜有n型雜質(zhì)的GaN勢壘層形成。此外,描述了摻雜有n型雜質(zhì)的該GaN勢壘層在與上述InGaN量子阱層相接觸的表面上提供有防擴散膜。描述了該防擴散膜包括濃度低于GaN勢壘層的n型雜質(zhì)。
圖5是示出專利文獻1公開的傳統(tǒng)半導(dǎo)體發(fā)光二極管的截面?zhèn)纫晥D。
如圖5所示,傳統(tǒng)的GaN半導(dǎo)體發(fā)光二極管100在藍寶石基板101上提供有由n型GaN構(gòu)成的第一氮化物半導(dǎo)體層102、具有多量子阱結(jié)構(gòu)的有源層103和由p型AlGaN或p型GaN構(gòu)成的第二氮化物半導(dǎo)體層104。在第一氮化物半導(dǎo)體層102的臺面蝕刻的頂表面上形成n型電極106a,在第二氮化物半導(dǎo)體層104的頂表面上形成透明電極層105,并且p型電極106b形成在透明電極層105上。
具有多量子阱結(jié)構(gòu)的有源層103示出有交替層疊的四個未摻雜的GaN量子勢壘層103a和五個摻雜有n型雜質(zhì)的InGaN量子阱層103b。然而,不限制量子勢壘層103a和量子阱層103b的材料或數(shù)量。例如,在氮化物半導(dǎo)體元件中,量子阱勢壘層103a可為了使用從Alx1Iny1Ga1-x1-y1N(x1+y1=1,0≤x1≤1,0≤y1≤1)中適當選擇,并且量子阱層103b可為了使用從Alx2Iny2Ga1-x2-y2N(x2+y2=1,0≤x2≤1,0≤y2≤1)中適當選擇,作為能量帶隙小于量子阱勢壘層103a的材料。
另一方面,專利文獻2描述了有源層包括n型雜質(zhì),并且有源層中的n型雜質(zhì)在n層側(cè)的濃度高于p層側(cè)的濃度。
圖6是示出專利文獻2中公開的傳統(tǒng)氮化物半導(dǎo)體發(fā)光元件的截面?zhèn)纫晥D。
在圖6中,傳統(tǒng)氮化物半導(dǎo)體發(fā)光元件200包括基板201,其層疊有緩沖層202、未摻雜GaN層203、由摻雜有Si的GaN構(gòu)成的n型接觸層204、n型第一多層膜層205、n型第二多層膜層206、具有由InGaN/GaN構(gòu)成的多量子阱結(jié)構(gòu)的有源層207、p型多層膜層208和由摻雜有Mg的GaN構(gòu)成的p型接觸層209。構(gòu)成n型多層膜層206和p型多層膜層208的氮化物半導(dǎo)體的成分和/或?qū)訑?shù)對于各自的n型和p型是不同的。
具有多量子阱結(jié)構(gòu)的有源層207具有含多層膜結(jié)構(gòu)的多量子阱結(jié)構(gòu),其中阱層和勢壘層按順序交替層疊。為了實現(xiàn)多量子阱結(jié)構(gòu)的最小層疊結(jié)構(gòu),考慮由一個勢壘層和勢壘層的兩側(cè)上提供的兩個阱層構(gòu)成的三層結(jié)構(gòu)或者由一個阱層和其兩側(cè)上提供的兩個勢壘層構(gòu)成的三層結(jié)構(gòu)。在多量子阱結(jié)構(gòu)中,兩側(cè)上的兩個最外層用阱層或勢壘層構(gòu)成。此外,它可構(gòu)造為使最外層之一是阱層,而另一個最外層是勢壘層。此外,在多量子阱結(jié)構(gòu)中,p層側(cè)可用勢壘層或阱層結(jié)束。
[引用列表]
[專利文獻]
專利文獻1:日本提前公開No.2005-109425
專利文獻2:日本提前公開No.2005-057308
發(fā)明內(nèi)容
[技術(shù)問題]
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