[發明專利]一種以太網口測試方法及網絡設備有效
| 申請號: | 201210505514.3 | 申請日: | 2012-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN103139012A | 公開(公告)日: | 2013-06-05 |
| 發明(設計)人: | 唐強 | 申請(專利權)人: | 深圳市共進電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H04L12/26 | 分類號: | H04L12/26 |
| 代理公司: | 深圳市凱達知識產權事務所 44256 | 代理人: | 王琦 |
| 地址: | 518067 廣東省深圳市南山區南海*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 以太網 測試 方法 網絡設備 | ||
技術領域
本發明涉及網絡設備生產技術領域,尤其涉及一種以太網口測試方法及網絡設備。
背景技術
企業在生產網絡設備中,由于各種零器件出現次品或者生產操作上出現了疏忽,特別是在批量生產過程中,沒辦法保證產品合格率為100%。通常為了控制質量,企業會加入一些基本的生產測試流程,來檢驗設備是否可用,但效果不理想;為了提高質量,也會使用專業的網絡測試儀器,如SmartBits或者NuStream,來進行打流測試。但由于網絡測試設備昂貴,不能對每一臺網絡產品都進行高強度的打流測試,一是會大幅提高生產成本,二是會降低生產效率。
發明內容
本發明的目的在于提供一種以太網口測試方法及網絡設備,降低生產測試成本,提高生產效率,有效控制產品質量。
本發明的目的是通過以下技術方案實現的:
一種以太網口測試方法,包括步驟:
將網絡設備的每兩個以太網口通過網線連接,形成網絡環路;
開啟網絡設備的電源,讓網絡設備在環路狀態下滿負荷自行收發包測試;同時,定期暫停網絡的收發包,檢查各個以太網口的運行狀態和統計信息,并把檢查結果保存到FLASH中;
收發包測試結束后,拆除網線,讀取網絡設備保存到FLASH中的檢查結果。
其中,所述讓網絡設備在環路狀態下滿負荷自行收發包的方法為:先構造廣播報文,向各個以太網口發送所述廣播報文;各以太網口在收到廣播報文后,再將該廣播報文重復廣播到其他以太網口上,循環下去,網絡設備短時間內即能達到滿負荷運行的狀態。
其中,還包括:在收發包測試開始之前,關閉網絡設備的廣播抑制功能。
其中,若所述網絡設備的交換芯片支持自動適應網線類型,則使用直通網線或者交叉網線來連接兩個以太網口;若所述網絡設備的交換芯片不支持自動適應網線類型,則使用交叉網線來連接兩個以太網口。
其中,若所述網絡設備的以太網口的個數為奇數,則選擇不測試以太網口中的上聯口或者采取兩臺網絡設備的上聯口互接的方式。
其中,所述運行狀態包括以太網口協商速率、半/全雙工模式;所述統計信息包括數據收發字節數及收發包數。
其中,將所述檢查結果保存到所述網絡設備的當前FLASH中新劃分的分區,或者外接的新的FLASH中。
一種網絡設備,包括相連的交換芯片和CPU,還包括與CPU連接的發包控制模塊;
所述交換芯片包括至少兩個以太網口,在收發包測試過程中每兩個以太網口相連形成網絡環路;
所述發包控制模塊,用于在所述網絡環路上發送廣播報文,使網絡設備在環路狀態下滿負荷自行收發包測試;同時,定期暫停網絡的收發包,檢查各個以太網口的運行狀態和統計信息,并把檢查結果保存到FLASH中。
其中,所述發包控制模塊進一步包括:發包控制單元和檢查記錄單元;
所述發包控制單元,用于構造廣播報文,在收發包測試過程中在所述網絡環路上發送廣播報文;
所述檢查記錄單元,用于在收發包測試過程中,定期檢查各個以太網口的工作狀態和統計信息,并將檢查結果按預定的統一格式寫入本地FLASH新劃分的分區中或者外接的FLASH中。
其中,所述發包控制模塊還包括:產品狀態檢查單元、環路狀態檢測單元和/或查詢接口;
所述產品狀態檢查單元,用于檢查網絡設備的當前狀態,若是生產狀態,則控制發包控制模塊繼續運行,否則終止發包控制模塊的運行;
所述環路狀態檢測單元,用于在收發包測試過程中,周期性地檢查本網絡設備當前是否處于環路狀態,若不是,則關閉發包控制單元和檢查記錄單元的功能;
所述查詢接口,用于讀取所述FLASH中保存的檢查結果。
本發明實施例中先將每兩個以太網口為一組相連形成外部環路環境,再通過內置于網絡設備中的發包控制模塊來進行收發包控制、各網口工作狀態及統計信息的檢查、檢查結果的記錄等,根據記錄信息即可判定產品質量,因而與現有技術相比,具有以下有益效果:
1)測試所需的空間場地不大,產品測試時按照立體柜式多層次擺放,更能節省空間;
2)不需要大批量采購專業的網絡測試儀器來對產品進行壓力測試;
3)企業可根據網絡產品的目標客戶及質量要求,自行控制測試時間強度,且與高溫老化測試配合起來效果更好;企業生產完畢后,發包測試模塊的運行會被切斷,不會對用戶的使用造成影響。
總之,本發明能極大地降低生產測試成本,產品質量控制更加有效。
附圖說明
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