[發明專利]一種電容式觸摸屏的測試方法、系統及電子設備

有效

• 申請號: 201210501337.1
• 申請日: 2012-11-30
• 公開（公告）號: CN103018594A
• 公開（公告）日: 2013-04-03
• 發明（設計）人: 申聰;喬勝強
• 申請（專利權）人: 深圳市匯頂科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 深圳市恒申知識產權事務所(普通合伙) 44312
• 代理人: 王海兵

1.一種電容式觸摸屏的測試方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：

獲取電容式觸摸屏上各節點電容分別對應的采樣信號；

將所述采樣信號轉換成可處理的觸摸數據后，根據預存的標準值對所述觸摸數據進行分析，輸出分析結果。

2.如權利要求1所述的電容式觸摸屏的測試方法，其特征在于，所述采樣信號是所述電容式觸摸屏上的所述電容節點在受到外部觸發后發出的相應電脈沖信號，和/或從所述電容式觸摸屏的觸摸屏驅動芯片中直接獲取的、表征被觸發電容節點所在位置的原始觸摸位置數據，和/或從所述電容式觸摸屏的觸摸屏的驅動芯片中直接獲取的、表征所有電容節點的所有原始數據。

3.如權利要求1所述的電容式觸摸屏的測試方法，其特征在于，所述標準值包括一最大值，所述根據預存的標準值對所述觸摸數據進行分析，輸出分析結果的步驟具體為：

判斷所述觸摸數據是否超過所述最大值，并將超過所述最大值的觸摸數據對應的節點電容的位置坐標作為所述分析結果輸出。

4.如權利要求1所述的電容式觸摸屏的測試方法，其特征在于，所述標準值包括一最小值，所述根據預存的標準值對所述觸摸數據進行分析，輸出分析結果的步驟具體為：

判斷所述觸摸數據是否達到所述最小值，并將未達到所述最小值的觸摸數據對應的節點電容的位置坐標作為所述分析結果輸出。

5.如權利要求1所述的電容式觸摸屏的測試方法，其特征在于，所述標準值包括一相鄰偏差標準值，所述根據預存的標準值對所述觸摸數據進行分析，輸出分析結果的步驟包括以下步驟：

計算當前節點電容的觸摸數據與各個相鄰節點電容的觸摸數據之間差值的絕對值，并將每一差值的絕對值除以所述當前節點電容的觸摸數據，得到與所述相鄰節點電容的數目相當的相鄰偏差值；

判斷各個相鄰偏差值是否超過所述相鄰偏差標準值，并將超過所述相鄰偏差標準值的相鄰偏差值對應的當前節點電容的位置坐標作為所述分析結果輸出。

6.如權利要求1所述的電容式觸摸屏的測試方法，其特征在于，所述標準值包括一整屏偏差標準值，所述根據預存的標準值對所述觸摸數據進行分析，輸出分析結果的步驟包括以下步驟：

計算全部節點電容的觸摸數據的平均值，并將當前節點電容的觸摸數據減去所述平均值后，將得到的數據的絕對值除以所述當前節點電容的觸摸數據，得到所述當前節點電容對應的整屏偏差值；

判斷各個整屏偏差值是否超過所述整屏偏差標準值，并將超過所述整屏偏差標準值的整屏偏差值對應的當前節點電容的位置坐標作為所述分析結果輸出。

7.一種電容式觸摸屏的測試系統，其特征在于，所述系統包括：

存儲模塊，用于預存標準值；

獲取模塊，用于獲取電容式觸摸屏上各節點電容分別對應的采樣信號；以及

分析模塊，用于將所述獲取模塊獲取的所述采樣信號轉換成可處理的觸摸數據后，根據所述存儲模塊預存的所述標準值對所述觸摸數據進行分析，輸出分析結果。