[發明專利]雜化顆粒、聚合物基復合材料及其制備方法與應用有效
| 申請號: | 201210499155.5 | 申請日: | 2012-11-29 |
| 公開(公告)號: | CN103849008B | 公開(公告)日: | 2018-04-13 |
| 發明(設計)人: | 于淑會;羅遂斌;孫蓉;梁先文;賴茂柏;萬杰;郭慧子 | 申請(專利權)人: | 深圳先進技術研究院 |
| 主分類號: | C08K9/12 | 分類號: | C08K9/12;C08L63/00;C08L79/08;C08L67/00;C08L61/06;C08L101/00 |
| 代理公司: | 深圳中一專利商標事務所44237 | 代理人: | 張全文 |
| 地址: | 518055 廣東省深圳*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 顆粒 聚合物 復合材料 及其 制備 方法 應用 | ||
1.一種雜化顆粒,由絕緣陶瓷顆粒和負載在所述絕緣陶瓷顆粒表面的導電微粒組成;所述導電微粒在所述絕緣顆粒表面上呈顆粒狀離散分布;
所述導電微粒為導電或半導體金屬氧化物微粒、導電聚合物微粒中的至少一種,且所述導電微粒在絕緣陶瓷顆粒表面的負載率為5%~85%。
2.如權利要求1所述的雜化顆粒,其特征在于:所述導電微粒的尺寸等于或小于所述絕緣陶瓷顆粒。
3.如權利要求2所述的雜化顆粒,其特征在于:所述導電微粒的粒徑為1nm~100nm。
4.如權利要求2所述的雜化顆粒,其特征在于:所述絕緣陶瓷顆粒尺寸為50nm~1μm。
5.如權利要求1所述的雜化顆粒,其特征在于:所述導電微粒與絕緣陶瓷顆粒之間的界面連接為物理吸附或/和化學鍵結合。
6.如權利要求1所述的雜化顆粒,其特征在于:所述導電或半導體金屬氧化物微粒為氧化銀、氧化鋅、氧化亞銅、氧化銅、氧化錳、氧化鐵、氧化鈦中的至少一種。
7.如權利要求1所述的雜化顆粒,其特征在于:所述導電聚合物微粒為聚乙炔、聚噻吩、聚吡咯、聚苯胺、聚苯撐、聚苯撐乙烯和聚雙炔中的至少一種。
8.如權利要求1~5任一項所述的雜化顆粒,其特征在于:所述絕緣陶瓷顆粒為鈦酸鋇、鈦酸鍶鋇、鈦酸鉛、鈦酸銅鈣、氮化硼、氮化鋁、氧化鋁、二氧化硅、二氧化鈦、鈦酸鈣、硫酸鈣中的至少一種。
9.如權利要求1~8任一項所述的雜化顆粒的制備方法,包括如下步驟:
將所述絕緣陶瓷顆粒、導電微粒與溶劑、表面活性劑、pH調節劑進行球磨處理,得到所述雜化顆粒;其中,所述表面活性劑的添加量為絕緣陶瓷顆粒和導電微粒總質量的0.5~5%,pH調節劑添加量保證球磨溶液的pH值為2~12。
10.如權利要求1~8任一項所述的雜化顆粒的制備方法,包括如下步驟:
將所述絕緣陶瓷顆粒分散于含有導電微粒的前驅物的溶膠體系中,經凝膠化后在溫度為80~300℃下進行熱處理,得到所述雜化顆粒;
其中,所述導電微粒為導電或半導體金屬氧化物微粒,所述導電微粒的前驅物為導電金屬的有機鹽或無機鹽。
11.如權利要求1~8任一項所述的雜化顆粒的制備方法,包括如下步驟:
將所述絕緣陶瓷顆粒分散于導電微粒的前驅物的溶液中,在30~150℃和pH值為1~12下發生聚合反應,洗滌,得到所述雜化顆粒;
其中,所述導電微粒為導電聚合物微粒,所述導電微粒的前驅物為導電聚合物的單體。
12.如權利要求11所述的雜化顆粒的制備方法,其特征在于:所述導電聚合物的單體為乙炔、吡咯、苯胺、噻吩、對苯撐二烯、對苯中的至少一種。
13.一種聚合物基復合材料,包括聚合物和填充于所述聚合物中的如權利要求1~8任一項所述的雜化顆粒;所述雜化顆粒占所述聚合物基復合材料總重量的20%~80%。
14.如權利要求13所述的聚合物基復合材料,其特征在于:在1kHz頻率下,所述復合材料的介電常數至少為20。
15.如權利要求13或14所述的聚合物基復合材料,其特征在于:所述聚合物為環氧、塑料、聚酰亞胺、聚酯、酚醛樹脂、雙馬來亞酰胺樹脂中的至少一種。
16.如權利要求13~15任一項所述的聚合物基復合材料的制備方法,包括如下步驟:
將權利要求1~8任一項所述的雜化顆粒分散于溶解有聚合物的溶液中,干燥處理或者進行涂膜工藝,經過120℃~250℃的熱處理得到所述聚合物基復合材料。
17.如權利要求16所述的聚合物基復合材料的制備方法,其特征在于:在所述溶解有聚合物的溶液中還含有0.5~5wt%的分散劑和/或促進劑。
18.如權利要求13~15任一項所述的聚合物基復合材料在印制電路板、電子元件中的應用。
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