[發明專利]空間光學姿態敏感器雜散光保護角的測量方法及裝置有效
| 申請號： | 201210498491.8 | 申請日： | 2012-11-29 |
| 公開（公告）號： | CN103852078B | 公開（公告）日： | 2018-05-25 |
| 發明（設計）人： | 陳龍江;梁為升;鄭循江;孫少勇;吳迪;董時;杜偉峰 | 申請（專利權）人： | 上海航天控制工程研究所 |
| 主分類號： | G01C21/02 | 分類號： | G01C21/02;G01C1/00 |
| 代理公司： | 上海航天局專利中心 31107 | 代理人： | 馮和純 |
| 地址： | 200233 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 姿態敏感器 保護角 雜散光 太陽模擬器 二維轉臺 工裝夾具 測試計算機 測量裝置 輔助參數 空間光學 主參數 灰度 測量方法及裝置 模擬器 光軸重合 計算模型 連接安裝 設備檢測 出射光 太陽光 發射 成像 光軸 夾持 測試 | ||
1.一種空間光學姿態敏感器雜散光保護角的測量裝置，其特征在于：該測量裝置包括二維轉臺、安裝于二維轉臺且用于夾持待測光學姿態敏感器的工裝夾具、向所述待測光學姿態敏感器發射太陽光的太陽模擬器、向所述待測光學姿態敏感器發射雜散光的雜散光模擬器和測試計算機，所述太陽模擬器的光軸與待測光學姿態敏感器的光軸重合，所述測試計算機連接安裝于工裝夾具上的待測光學姿態敏感器和二維轉臺，獲取工裝夾具上的待測光學姿態敏感器對太陽模擬器的出射光進行成像而獲得的灰度值、主參數和輔助參數，基于保護角的計算模型對灰度值、主參數和輔助參數進行計算而獲得保護角。
2.一種用權利要求1所述的測量裝置測量保護角的方法，其特征在于：該方法包括如下步驟：
（A）、將待測光學姿態敏感器安裝于工裝夾具上，并根據保護角的定義調整雜散光模擬光源、待測光學姿態敏感器和二維轉臺之間的位置關系，以太陽模擬器的出射中心點為坐標原點建立基準坐標系、以光學姿態敏感器的入瞳中心為坐標原點建立被測坐標系、二維轉臺的回轉軸為坐標原點建立轉臺坐標系和以光學姿態敏感器的光學中心為坐標原點建立待測光學姿態敏感器坐標系；
（B）、獲取工裝夾具上的待測光學姿態敏感器對太陽模擬器的出射光進行成像而獲得的灰度值、主參數和輔助參數，所述測試計算機基于保護角的計算模型對灰度值、主參數和輔助數據進行計算而獲得保護角。
3.根據權利要求2所述的測量保護角的方法，其特征在于：所述步驟（A）具體包括：
（A1）、調整二維轉臺到零位位置，使得太陽模擬器光軸與待測光學姿態敏感器的光軸重合；
（A2）、建立基準坐標系、被測坐標系和轉臺坐標系的步驟如下：以太陽模擬器的出射中心點為坐標原點O
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