[發(fā)明專利]污穢絕緣子外絕緣強度監(jiān)測裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210492633.X | 申請日: | 2012-11-27 |
| 公開(公告)號: | CN102937694A | 公開(公告)日: | 2013-02-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 易滿成;舒乃秋;黃慧紅;葉建斌;李自品;陳俊;方健;彭輝;汪游胤;李智寧 | 申請(專利權(quán))人: | 廣州供電局有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/12 | 分類號: | G01R31/12 |
| 代理公司: | 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224 | 代理人: | 王茹;曾旻輝 |
| 地址: | 510620 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 污穢 絕緣子 絕緣 強度 監(jiān)測 裝置 | ||
1.一種污穢絕緣子外絕緣強度監(jiān)測裝置,其特征在于,包括:低頻聲傳感器、特征提取模塊以及分類識別模塊;
所述低頻聲傳感器,用于接收絕緣子污穢放電發(fā)射的低頻聲信號;
所述特征提取模塊,用于提取所述低頻聲信號的特征量;
所述分類識別模塊,用于根據(jù)所述特征量識別出對應(yīng)污穢絕緣子的外絕緣強度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的污穢絕緣子外絕緣強度監(jiān)測裝置,其特征在于,所述特征提取模塊還用于:將所述提取的特征量從低維的狀態(tài)空間非線性地映射到高維核空間。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的污穢絕緣子外絕緣強度監(jiān)測裝置,其特征在于,所述特征提取模塊采用核主成分分析法將所述特征量從低維的狀態(tài)空間非線性地映射到高維核空間。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的污穢絕緣子外絕緣強度監(jiān)測裝置,其特征在于,所述分類識別模塊進(jìn)一步用于:
在核空間采用隨機森林方法訓(xùn)練得到分類器群,根據(jù)所述分類器群對每個特征量進(jìn)行投票表決,根據(jù)所述投票表決的分類結(jié)果確定污穢絕緣子的外絕緣強度。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的污穢絕緣子外絕緣強度監(jiān)測裝置,其特征在于,所述特征量包括能量特征量和頻譜特征量。
6.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項所述的污穢絕緣子外絕緣強度監(jiān)測裝置,其特征在于,還包括在所述特征提取模塊前的信號預(yù)處理模塊,用于對所述低頻聲信號進(jìn)行放大,并濾除或抑制所述低頻聲信號中的環(huán)境噪聲。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的污穢絕緣子外絕緣強度監(jiān)測裝置,其特征在于,所述信號預(yù)處理模塊采用基于小波變換的方式濾除或抑制所述低頻聲信號中的環(huán)境噪聲。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項所述的污穢絕緣子外絕緣強度監(jiān)測裝置,其特征在于,還包括連接在所述低頻聲傳感器和特征提取模塊之間的信號采樣電路,用于對所述低頻聲信號進(jìn)行數(shù)據(jù)采樣及數(shù)字化處理獲得數(shù)字電壓信號。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至5任一項所述的污穢絕緣子外絕緣強度監(jiān)測裝置,其特征在于,還包括:
污閃預(yù)警信息發(fā)布模塊,用于根據(jù)污穢絕緣子的外絕緣強度發(fā)布污閃預(yù)警信息。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的污穢絕緣子外絕緣強度監(jiān)測裝置,其特征在于,所述低頻聲傳感器的晶片振蕩頻率為20Hz~20kHz。
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