[發(fā)明專利]多相流體飽和度分布測量油藏滲流實驗模型和測量方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210490675.X | 申請日: | 2012-11-28 |
| 公開(公告)號: | CN102967609A | 公開(公告)日: | 2013-03-13 |
| 發(fā)明(設計)人: | 裴柏林;曾鳴;陳欽雷;霍鵬飛 | 申請(專利權)人: | 中國石油大學(北京) |
| 主分類號: | G01N23/02 | 分類號: | G01N23/02 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 102249*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 多相 流體 飽和度 分布 測量 油藏 滲流 實驗 模型 測量方法 | ||
技術領域
本發(fā)明涉及一種滲流過程中多相流體飽和度分布測量的方法研究,屬于油氣田開發(fā)工程的油藏室內模擬領域。
背景技術
在油氣田開發(fā)過程中,要研究油、氣、水多相滲流規(guī)律。一般通過室內多井網大模型的滲流試驗來模擬油氣水的運移和剩余油的分布,因此必須要測定油藏滲流實驗模型的多相流體滲流過程中飽和度分布曲線圖。
γ射線衰減法是目前精度最高的測試油藏模型中油氣水飽和度分布的方法。
γ射線衰減法測定原理是:不同流體對γ射線吸收率不同,流體飽和度不同時模型對射線衰減的程度不同。這樣可根據已穿透模型的射線的強度的變化量,得出每種流體飽和度。
這種測試方法只適用于容器壁薄(1-3cm)的模型。對于大厚、高壓油藏模型,需要厚的可密閉容器,如油藏模型尺寸直徑40cm,外壓需要16MPa,可密閉容器壁厚可達10cm,這將會影響測試精度,而且測試耗時過長。
發(fā)明內容
本發(fā)明需要解決的技術問題就在于克服現(xiàn)有技術的缺陷,提供一種多相流體飽和度分布測量油藏滲流實驗模型和測量方法,它應用于測量大厚模型飽和度分布曲線,是一種新的可用γ射線衰減法對大厚、高壓油藏模型的油氣水飽和度分布進行測量的系統(tǒng)和方法,并且此方法具有很高的精度,大大縮短了測試時間,耗時相當于以前測試時間的1/300,提高了測量精度。
為解決上述問題,本發(fā)明采用如下技術方案:
本發(fā)明提供了一種多相流體飽和度分布測量油藏滲流實驗模型,所述實驗模型包括位于實驗模型中央位置的可密閉容器,放置于可密閉容器內的油藏模型,可密閉容器設置有頂蓋和底板,可密閉容器下方放置射線源,可密閉容器上方放置射線探測器,射線源與射線探測器共同安置在移動機架上。
所述可密閉容器為金屬容器,可密閉容器頂蓋和底板上均勻設置有多個均勻分布的盲孔,盲孔不通的一側為容器內壁一側,可密閉容器頂蓋和底板上的盲孔大小相等、位置一一對應,相互對應的一對盲孔在同一中心軸線上。
盲孔的形狀是等直徑的圓孔,盲孔之間的軸線相互平行。
射線源與射線探測器在同一軸線上。
移動機架為數控移動機架。
本發(fā)明同時公開了一種利用所述的多相流體飽和度分布測量油藏滲流實驗模型測量多相流體飽和度分布的測量方法,在測試過程中保持射線源與射線探測器同步移動,通過移動機架來同步移動射線源與射線探測器,對裝有油藏模型的可密閉容器頂部和可密閉容器底部上一定數目的測量點依次進行測量。在測試點處測量時保證與對應盲孔處的中心主軸線重合,所述射線源在測試點停留一定的時間,如50s,保證射線探測器獲得足夠的光子采集量。
具體的,所述方法包括下列步驟:
第一步,將射線源與射線探測器移動到測定點處的盲孔位置;保證射線源發(fā)射的射線與射線探測器以及盲孔處的軸線重合;
第二步,射線源產生射線,依次穿透可密閉容器底板、油藏模型、可密閉容器頂蓋,被射線探測器接收;在此處停留,保證射線探測器獲得足夠的光子采集量;
第三步,第二步測試點完成測定后,射線源與射線探測器隨著移動機架移動到下一個測定點,依次進行測定,得到多個盲孔對應位置的射線強度;
第四步,根據在多個盲孔對應位置處得到的射線強度,計算出多個盲孔對應位置處的多相流體飽和度分布,繪制出整個飽和度分布圖。
本發(fā)明使用點陣測量代替常規(guī)的面積測量、逐行掃描的方法來進行多相流體飽和度分布的測量,避免了對于大厚、高壓模型測試耗時長、測量精度不高、輻射量大的缺陷。金屬外殼頂蓋和底板開設多個盲孔的設置,進一步縮短測試時間,提高了測試精度。
本發(fā)明與現(xiàn)有的技術比較有以下有益效果:
(1)本發(fā)明使用點陣測量代替常規(guī)的面積測量、逐行掃描的方法來進行多相流體飽和度分布的測量,避免了對于大厚、高壓模型測試耗時長,測量精度不高,需要射線源輻射量大的缺陷。
(2)盲孔的設置使射線通過高壓油藏模型的衰減量大幅降低,保證了測試點處數據的精度。
附圖說明
圖1為本發(fā)明結構示意圖。
圖2為本發(fā)明所述的盲孔平面布置示意圖。
圖3為本發(fā)明所述的盲孔剖面結構示意圖。
具體實施方式
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國石油大學(北京),未經中國石油大學(北京)許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201210490675.X/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





