[發(fā)明專利]雙光柵共光路寬波段臨邊成像光譜儀系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201210488017.7 | 申請日: | 2012-11-26 |
| 公開(公告)號: | CN102967560A | 公開(公告)日: | 2013-03-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 薛慶生;王淑榮 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所 |
| 主分類號: | G01N21/25 | 分類號: | G01N21/25 |
| 代理公司: | 長春菁華專利商標(biāo)代理事務(wù)所 22210 | 代理人: | 陶尊新 |
| 地址: | 130033 吉*** | 國省代碼: | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光柵 路寬 波段 成像 光譜儀 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及成像光譜技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種雙光柵共光路寬波段臨邊成像光譜儀系統(tǒng)。
背景技術(shù)
大氣痕量氣體探測是監(jiān)測大氣環(huán)境和進(jìn)行氣候研究的重要手段,臨邊成像光譜儀是一種用于大氣痕量氣體探測的新型空間光學(xué)遙感儀器,具有空間覆蓋范圍大和垂直分辨率高的特點(diǎn),受到科學(xué)家的青睞。在紫外波段內(nèi),大氣臨邊光譜輻亮度隨臨邊高度和波長的變化較小,約為102~103量級,因此探測相對容易。但僅在紫外波段,許多大氣成分的探測受到限制,為了更好地實(shí)現(xiàn)地球大氣環(huán)境監(jiān)測的科學(xué)目標(biāo),迫切需要發(fā)展寬波段大氣臨邊探測技術(shù),波段越寬,可探測的大氣痕量氣體的種類就越多。但寬波段大氣臨邊探測比紫外大氣臨邊探測難度大的多,主要難點(diǎn)在于寬波段內(nèi)大氣臨邊光譜輻亮度隨臨邊高度和波長的變化范圍很大,在包含紫外波段的寬波段范圍(例如280~1000nm)內(nèi),臨邊高度0~90km范圍內(nèi),臨邊光譜輻亮度變化達(dá)到106量級,而一般的光電探測器(如CCD探測器和光電二極管探測器)的動(dòng)態(tài)范圍只有103~104,不能滿足探測要求。因此迫切需要解決寬波段大動(dòng)態(tài)范圍大氣臨邊成像光譜探測的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明為解決寬波段大動(dòng)態(tài)范圍臨邊成像光譜探測的問題,本發(fā)明的目的是提供一種雙光柵共光路寬波段臨邊成像光譜儀系統(tǒng),可以有效解決寬波段大動(dòng)態(tài)范圍大氣痕量氣體臨邊成像光譜探測的問題。
雙光柵共光路寬波段臨邊成像光譜儀系統(tǒng),包括第一寬帶濾光片、第二寬帶濾光片、望遠(yuǎn)鏡、入射狹縫、準(zhǔn)直鏡、第一平面光柵、第二平面光柵、成像鏡、平面折轉(zhuǎn)鏡、第一面陣焦平面探測器和第二面陣焦平面探測器;光束經(jīng)第一寬帶濾光片和第二寬帶濾光片后分別對應(yīng)通過第一通道和第二通道,通過第一通道的光束經(jīng)望遠(yuǎn)鏡和入射狹縫后出射至準(zhǔn)直鏡準(zhǔn)直,所述經(jīng)準(zhǔn)直后的光束入射至第一平面光柵,經(jīng)第一平面光柵色散后的光束經(jīng)成像鏡成像在第一面陣焦平面探測器上;通過第二通道光束經(jīng)望遠(yuǎn)鏡和入射狹縫后出射至準(zhǔn)直鏡準(zhǔn)直,經(jīng)準(zhǔn)直的光束入射到第二平面光柵上,經(jīng)第二平面光柵色散后的光束經(jīng)成像鏡和平面折轉(zhuǎn)鏡折疊后入射在第二面陣焦平面探測器上。
本發(fā)明的有益效果:本發(fā)明所述的系統(tǒng)把要探測的寬波段臨邊光譜輻射亮度分成短波和長波兩個(gè)波段,分別對應(yīng)兩個(gè)通道,兩個(gè)通道分別使用第一平面光柵和第二平面光柵,第一平面光柵和第二平面光柵都是閃耀光柵,具有較高的衍射效率,第一平面光柵和第二平面光柵共用望遠(yuǎn)鏡、入射狹縫、準(zhǔn)直鏡和成像鏡,這種雙光柵共光路的結(jié)構(gòu)減小了寬波段臨邊成像光譜儀的體積和重量,特別適合空間遙感應(yīng)用。
附圖說明
圖1為本發(fā)明所述的雙光柵共光路寬波段臨邊成像光譜儀系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中,1、第一寬帶濾光片,2、第二寬帶濾光片,3、第一通道,4、第二通道,5、望遠(yuǎn)鏡,6、入射狹縫,7、第一平面光柵,8、第二平面光柵,9、準(zhǔn)直鏡,10、成像鏡,11、第一面陣焦平面探測器,12、第二面陣焦平面探測器,13、平面折轉(zhuǎn)鏡。
具體實(shí)施方式
具體實(shí)施方式一、結(jié)合圖1說明本實(shí)施方式,雙光柵共光路寬波段臨邊成像光譜儀系統(tǒng),利用雙光柵共光路分成第一通道3和第二通道4兩個(gè)通道實(shí)現(xiàn)寬波段大動(dòng)態(tài)范圍探測,包括第一寬帶濾光片1、第二寬帶濾光片?2、望遠(yuǎn)鏡5、入射狹縫6、準(zhǔn)直鏡9、第一平面光柵7、第二平面光柵?8、成像鏡10、平面折轉(zhuǎn)鏡13、第一面陣焦平面探測器11和第二面陣焦平面探測器12;所述第一寬帶濾光片1、第二寬帶濾光片2對應(yīng)第一通道3、第二通道4,第一通道1和第二通道2的光經(jīng)望遠(yuǎn)鏡5成像在入射狹縫6上,從入射狹縫6出射的光經(jīng)準(zhǔn)直鏡9準(zhǔn)直后入射到第一平面光柵7、第二平面光柵8上,經(jīng)光柵色散后入射到成像鏡10上,第一通道3的光經(jīng)成像鏡10成像到第一面陣焦平面探測器11上,第二通道4的光經(jīng)成像鏡10成像再經(jīng)平面折轉(zhuǎn)鏡13折疊后入射在第二面陣焦平面探測器12上。
本實(shí)施方式所述的第一通道3和第二通道4的探測波段分別由第一寬帶濾光片1和第二寬帶濾光片2的透射波段決定,第一通道3的探測波段為短波,光信號弱,第二通道4的探測波段為長波,光信號強(qiáng)。例如第一通道3的探測波段為280~510nm,第二通道4的探測波段為505~1000nm。為了平衡第一通道3和第二通道4的光信號,第一通道3的口徑大于第二通道4的口徑,例如第一通道3的口徑為8.8mm,第二通道4的口徑為4.6mm。達(dá)到增強(qiáng)弱信號的目的。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
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