[發明專利]PCB板推塊兩段式測試結構

有效

• 申請號: 201210487501.8
• 申請日: 2012-11-26
• 公開（公告）號: CN103837817A
• 公開（公告）日: 2014-06-04
• 發明（設計）人: 肖秋生;鄭建生
• 申請（專利權）人: 昆山威典電子有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R1/04;G01R1/067
• 代理公司: 昆山四方專利事務所 32212
• 代理人: 盛建德

1.一種PCB板推塊兩段式測試結構，其特征在于：包括沿厚度方向上順序設置的載板（1）、限位板（2）和針板（3），所述載板和所述限位板之間具有供真空吸合的間隙（4），所述載板背向所述限位板的一側用于放置待測PCB板（5），對應待測PCB板上多次測試時始終需要探針接觸的待測試針點，所述針板厚度方向上穿設有長探針（6），對應待測PCB板上多次測試時不需要探針始終接觸的待測試針點，所述針板厚度方向上設有短探針（7），對應每一個探針，所述載板和所述限位板上設有相匹配的探針通孔，真空吸合時，所述限位板能夠使所述長探針和所述短探針同時穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點和僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點。

2.根據權利要求1所述的PCB板推塊兩段式測試結構，其特征在于：真空吸合時，所述限位板能夠使所述長探針和所述短探針同時穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點和僅使所述長探針穿過所述探針通孔觸及所述待測試針點的結構是：所述載板朝向所述限位板的一側固設有若干個限位柱（11），對應每一個限位柱，所述限位板上設有與所述限位柱匹配的限位通孔（21），所述針板上設有與所述限位柱匹配的限位槽（31），另設有若干個驅動機構，所述驅動機構能夠擇一驅動所述限位板沿所述針板長度和寬度方向上運動，使所述限位柱、限位通孔和限位槽位于同一線上和不在同一線上。

3.根據權利要求1所述的PCB板推塊兩段式測試結構，其特征在于：設有兩個所述驅動機構，所述驅動機構為氣缸。