[發明專利]一種非接觸式的氣體溫度測量方法

無效

• 申請號: 201210486761.3
• 申請日: 2012-11-26
• 公開（公告）號: CN102944314A
• 公開（公告）日: 2013-02-27
• 發明（設計）人: 于星光
• 申請（專利權）人: 昆山北極光電子科技有限公司
• 主分類號: G01K5/32
• 分類號: G01K5/32
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明屬于化工行業氣體溫度測量領域，特別涉及一種非接觸式的氣體溫度測量方法方法。

背景技術

在化工行業中，一些氣體存在有害物質，不能被人接觸，密封在氣體室中，對于這類氣體室中氣體溫度的測量，無法用溫度計直接測量，需要有用間接測量的方式來獲取氣體溫度，因此，需要一種非接觸式的氣體溫度測量方法。

發明內容

本發明的目在于提供一種非接觸式的氣體溫度測量方法。

實現上述目的的技術方案是：一種非接觸式的氣體溫度測量方法，包括大氣體室、小氣體室和氣體隔離板,其中，大氣體室和小氣體室之間安裝所述氣體隔離板。

上述的一種非接觸式的氣體溫度測量方法，其中，所述氣體隔離板保證兩側氣體的隔離，同時兩側承受的氣體壓力完全相等。

上述的一種非接觸式的氣體溫度測量方法，其中，所述大氣體室體積為V1，溫度為T1，壓力為P1,氣體物質的量為n1，根據氣體方程得公式1：P1×V1=n1×R×T1，所述小氣體室體積為V2，溫度為T2，壓力為P2,氣體物質的量為n2，根據氣體方程得公式2：P2×V2=n2×R×T2，將公式1代入公式2可得，：P1×V1/n1/T1=P2×V2/n2/T2，由于P1=P2可得，T1=V1×n2×T2/V2/n1，在大氣體室體積V1、氣體物質的量n1和小氣體室體積V2、氣體物質的量n2已知的情況下，通過測量小氣體室溫度T2可計算所述大氣體室溫度T1。

本發明的有益效果是：本發明可以通過非接觸的方式測量氣體室的溫度，實現了化工行業一些不可接觸氣體溫度的測量。

附圖說明

圖1是本發明的結構示意圖。

具體實施方式

下面將結合附圖對本發明作進一步說明。

請參閱圖1，圖中給出了一種非接觸式的氣體溫度測量方法，包括大氣體室、小氣體室和氣體隔離板，其中，大氣體室和小氣體室之間安裝所述氣體隔離板，氣體隔離板保證兩側氣體的隔離，同時兩側承受的氣體壓力完全相等。

大氣體室體積為V1=100m³，溫度為T1，壓力為P1,氣體物質的量n1=100mol，根據氣體方程得公式1：P1×V1=n1×R×T1，所述小體積室體積為V2=1m³，溫度為T2，壓力為P2，氣體物質的量為1.2mol，根據氣體方程得公式2：P2×V2=n2×R×T2，將公式1代入公式2可得，：P1×V1/n1/T1=P2×V2/n2/T2，由于P1=P2可得，T1=V1×n2×T2/V2/n1，測得小氣體室溫度T2為25℃，計算可得大氣室溫度T2為30℃。

以上結合附圖實施例對本發明進行了詳細說明，本領域中普通技術人員可根據上述說明對本發明做出種種變化例。因而，實施例中的某些細節不應構成對本發明的限定，本發明將以所附權利要求書界定的范圍作為本發明的保護范圍。