[發明專利]超聲診斷設備的探頭自動矯正方法及系統有效
| 申請號: | 201210484929.7 | 申請日: | 2012-11-26 |
| 公開(公告)號: | CN103829972A | 公開(公告)日: | 2014-06-04 |
| 發明(設計)人: | 陳惠人 | 申請(專利權)人: | 飛依諾科技(蘇州)有限公司 |
| 主分類號: | A61B8/00 | 分類號: | A61B8/00 |
| 代理公司: | 蘇州威世朋知識產權代理事務所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 楊林潔 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市蘇州工*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 超聲 診斷 設備 探頭 自動 矯正 方法 系統 | ||
1.一種超聲診斷設備的探頭自動矯正方法,其特征在于,其包括如下步驟:
S1、接收開始掃查的觸發信號,根據當前探頭的基元數N確定掃查次數,其中,所述掃查次數等于所述基元數N;
S2、掃查獲得多條對應于每個基元的回波信號,并對所述回波信號作相應處理,以獲取一對應于所有基元的原始比值數列;
S3、對所述原始比值數列進行篩選以獲取一對應于所有正?;睦硐氡戎禂盗?,并基于所述原始比值數列及理想比值數列,計算得出所述探頭中各基元的特征參數;
S4、根據所述特征參數,相應地調整探頭中的各基元的發射電壓。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟S4具體為:將所述探頭中各基元的發射電壓調整為Vi=?Videal/Ci,其中,1≤i≤N,Videal為第i個基元的理想高壓幅值,Ci為第i個基元的特征參數。
3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟S4具體為:對所述探頭中的各基元的發射電壓作1/Ci的增益補償,其中,1≤i≤N,Ci為第i個基元的特征參數。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟S2具體包括:
去除所獲取的N條回波信號中的經常空白區域、及遠場低回聲;
對剩余的N條回波信號加權處理,并將處理結果分別除以理想電壓,以獲得包括N個數值的原始比值數列。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述步驟S3中獲取“理想比值數列”的步驟具體包括:
計算所述原始比值數列的平均值E、各數值的方差、均方差DataE;
判斷所述原始比值數列中的各個數值是否同時滿足“遠小于所述平均值”、“該數值的方差遠小于均方差”的條件,若是,將該數值出所述原始比值數列中剔除;若否,保留該數值。
6.根據權利要求1或5所述的方法,其特征在于,所述步驟S3中“計算特征參數”的步驟具體包括:
計算所述理想比值的均值,并基于該均值獲取該探頭的理想比值IDealE;
將原始比值數列中的各數值分別除以所述理想比值IDealE,以得出所述探頭中對應于各基元的N個特征參數。
7.一種超聲診斷設備的探頭自動矯正系統,其特征在于,其包括如下單元:
觸發單元、用于接收開始掃查的觸發信號,并根據當前探頭的基元數N確定掃查次數,其中,所述掃查次數等于所述基元數N;
比值數列獲取單元、用于掃查獲得多條對應于每個基元的回波信號,并對所述回波信號作相應處理,以獲取一對應于所有基元的原始比值數列;
特征參數計算單元、用于對所述原始比值數列進行篩選以獲取一對應于所有正常基元的理想比值數列,并基于所述原始比值數列及理想比值數列,計算得出所述探頭中各基元的特征參數;
矯正單元、用于根據所述特征參數相應調整探頭中的各基元的發射電壓。
8.根據權利要求7所述的系統,其特征在于,所述矯正單元包括第一電壓調整單元和/或第二電壓調整單元,所述第一電壓調整單元具體用于將所述探頭中各基元的發射電壓調整為Vi=?Videal/Ci;所述第二電壓調整單元具體用于對所述探頭中的各基元的發射電壓作1/Ci的增益補償;其中,1≤i≤N,Videal為第i個基元的理想高壓幅值,Ci為第i個基元的特征參數。
9.根據權利要求7所述的系統,其特征在于,所述比值數列獲取單元具體包括:
信號提取單元、用于去除所獲取的N條回波信號中的經??瞻讌^域、及遠場低回聲;
第一計算單元、用于對剩余的N條回波信號加權處理,并將處理結果分別除以理想電壓,以獲得包括N個數值的原始比值數列。
10.根據權利要求7所述的系統,其特征在于,所述特征參數計算單元具體包括:
第二計算單元、用于計算所述原始比值數列的平均值E、各數值的方差、均方差DataE;
比值篩選單元、用于判斷所述原始比值數列中的各個數值是否同時滿足“遠小于所述平均值”、“該數值的方差遠小于均方差”的條件,若是,將該數值出所述原始比值數列中剔除;若否,保留該數值;
第三計算單元、用于計算所述理想比值數列的均值,基于該均值獲取該探頭的理想比值IDealE,并將原始比值數列中的各數值分別除以所述理想比值IDealE,以得出所述探頭中對應于各基元的N個特征參數。
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