[發明專利]制備超飽和硫系元素摻雜硅的方法無效
| 申請號: | 201210484770.9 | 申請日: | 2012-11-23 |
| 公開(公告)號: | CN102938435A | 公開(公告)日: | 2013-02-20 |
| 發明(設計)人: | 王科范;劉孔;曲勝春;王占國 | 申請(專利權)人: | 中國科學院半導體研究所 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0224 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 湯保平 |
| 地址: | 100083 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 制備 飽和 元素 摻雜 方法 | ||
1.一種制備超飽和硫系元素摻雜硅的方法,包括如下步驟:
步驟1:選擇一襯底;
步驟2:對襯底表面進行制絨;
步驟3:對制絨后的襯底進行超飽和硫系元素離子注入;
步驟4:對硫系元素離子注入后的襯底進行激光退火,消除離子注入產生的晶格缺陷,完成制備。
2.根據權利要求1所述的制備超飽和硫系元素摻雜硅的方法,其中襯底的材料為硅單晶片。
3.根據權利要求1所述的制備超飽和硫系元素摻雜硅的方法,其中離子注入后硫系元素在襯底中的原子濃度為5×1019cm-3-1×1021cm-3。
4.根據權利要求1所述的制備超飽和硫系元素摻雜硅的方法,其中硫系元素包括硫、硒或碲。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





