[發明專利]確定輻射敏感器件抗輻射性能指標的方法

在審

• 申請號: 201210483971.7
• 申請日: 2012-11-23
• 公開（公告）號: CN103838945A
• 公開（公告）日: 2014-06-04
• 發明（設計）人: 王群勇;陳冬梅;陽輝;白樺;陳宇;鐘征宇
• 申請（專利權）人: 北京圣濤平試驗工程技術研究院有限責任公司
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

技術領域

本發明涉及輻射敏感器件抗輻射性能指標確定技術領域，特別涉及一種采用器件分類判據(PCC)方法確定輻射敏感器件抗輻射性能指標RDM。?

背景技術

為保證衛星空間輻射環境的可靠性而建立空間輻射環境可靠性指標體系，其中輻射敏感器件抗輻射性能指標(RDM)是可靠性的一個重要評定指標，指器件抗輻射性能本征指標與任務要求的抗輻射性能之比，即RDM＝R_MF/R_SPEC，而輻射設計裕量RDM的確定可以依據理論進行相應的計算獲得。?

目前，對于輻射敏感器件抗輻射性能指標評價方法有批允許不合格品率(LTPD)方法、參數設計裕量方法(PDM)、過試驗(overtesting)方法等，現有的這些方法容易受到器件本身對輻射響應的不一致，以及批次性差異等因素的影響，指標的確定不準確。?

發明內容

(一)所要解決的技術問題?

本發明提供一種確定RDM指標的方法——器件分類判據(PCC)方法。該方法適用于關鍵器件的抗輻射要求，關鍵器件的RDM一般在10～100之間。該方法克服了指標容易受到器件本身對輻射響應的不一致，以及批次性差異等因素的影響，使RDM的確定更準確。?

(二)技術方案?

本發明提供一種確定輻射敏感器件抗輻射性能指標的方法，該方法包括：?

S1、通過試驗獲取多個樣本器件的輻射失效水平，并計算輻射失?效水平的對數對數平均值和標準差

S2、建立樣本數n、置信度c和生存概率p的單邊置信區間K_TL(c，n，p)，并獲取單邊置信區間值；?

S3、根據式子計算器件分類判據值；PCC值即為輻射敏感器件抗輻射性能指標。?

優選的，獲取單邊置信區間值具體包括：?

利用R語言構造單邊置信區間函數：?

＞K_TL＝function(c，n，p){qt(c，n-1，sqrt(n)*qnorm(p))/sqrt(n)}；計算單邊置信區間值。?

優選的，所述單邊置信區間值通過查表獲取。?

(三)有益效果?

本發明通過提供器件分類判據方法確定輻射敏感器件抗輻射性能指標，對器件輻射響應不一致導致的評估不確定性進行更為精確的評價，并為型號任務的順利完成提供保障。?

附圖說明

圖1為本發明所提供方法的步驟流程圖。?

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施例對本發明做進一步詳細說明。?

一種確定輻射敏感器件抗輻射性能指標的方法，如圖1所示，該方法包括：?

S1、通過試驗獲取多個樣本器件的輻射失效水平，并計算輻射失效水平的對數對數平均值和標準差

S2、建立樣本數n、置信度c和生存概率p的單邊置信區間K_TL(c，n，p)，并獲取單邊置信區間值；?

由于器件的輻射響應不一致，試驗存在抽樣風險，為了避免這一風險，使用單邊置信區間K_TL(c，n，p)；?

S3、根據式子計算器件分類判據值；PCC?值即為輻射敏感器件抗輻射性能指標；在工程應用中計算更精確的RDM值，這樣精確的任務指標可為器件的評價提供更好的依據。?

獲取單邊置信區間方法具體包括：利用R語言構造單邊置信區間函數：?

＞KTL＝function(c，n，p){qt(c，n-1，sqrt(n)*qnorm(p))/sqrt(n)}；計算單邊置信區間，利用R語言可以很方便的構造K_TL函數。?

所述單邊置信區間值通過查表獲取。?

具體的，該方法為：?

S1、通過試驗獲取多個樣本器件的輻射失效水平，并計算各樣本的輻射失效水平的對數、對數平均值以及標準差；?

其中，任一個樣本器件的輻射失效水平為輻射失效水平的對數平均值為：標準差為?