[發明專利]二次電源單粒子效應測試方法

有效

• 申請號: 201210483969.X
• 申請日: 2012-11-23
• 公開（公告）號: CN103837839A
• 公開（公告）日: 2014-06-04
• 發明（設計）人: 王群勇;陽輝;陳宇;鐘征宇;白樺;陳冬梅
• 申請（專利權）人: 北京圣濤平試驗工程技術研究院有限責任公司
• 主分類號: G01R31/40
• 分類號: G01R31/40
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩

1.一種二次電源單粒子效應測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1、DSP處理模塊在接收到控制信號之后，啟動A/D轉換模塊和FPGA模塊工作；

S2、A/D轉換模塊采集被測二次電源所輸入的電壓信號，并將采集到的電壓信號進行模數轉換后輸入FPGA模塊；所述被測二次電源所輸入的電壓信號由單粒子照射所觸發；

S3、所述FPGA模塊將接收到的電壓信號進行處理，并根據處理后得到的信號判斷被測二次電源所輸入的電壓信號是否有波動，若是，則將接收到的電壓信號輸入到DSP處理模塊；

S4、DSP處理模塊對接收到的信號進行處理之后發送給上位機進行顯示。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在步驟S3中，若判斷被測二次電源所輸入的電壓信號沒有波動，則FPGA模塊將接收到的電壓信號進行阻斷，不發送給DSP處理模塊。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，在步驟S3中，所述FPGA模塊將接收到的電壓信號進行處理，并根據處理后得到的信號判斷被測二次電源所輸入的電壓信號是否有波動的步驟具體為：所述FPGA模塊將接收到的電壓信號通過編程轉化為相應的整型數字信號，將所述整型數字信號與預設的電壓值相比較，如果超過預設的電壓值，則判定被測二次電源所輸入的電壓信號有波動。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，步驟S4具體為：DSP處理模塊將接收到的信號進行降速處理，并利用FIR濾波器對信號的噪聲進行處理，然后發送給所述上位機，所述上位機通過編程將數據通過圖形顯示出來。

5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，在步驟S4中，DSP處理模塊利用FIR濾波器對信號的噪聲進行處理后先輸入到DSP處理模塊的USB接口的緩沖區，在USB接口的緩沖區被數據填滿后觸發發送信號中斷，然后再將處理后的信號向上位機的傳送。

6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，在步驟S4之后還包括：上位機發送結束信號給DSP處理模塊，DSP處理模塊接收到結束信號后，將控制關閉的信號輸入到FPGA模塊和A/D轉換模塊中，使FPGA模塊和A/D轉換模塊結束工作，等待更換被測二次電源，待被測二次電源換完畢后，通過上位機對DSP處理模塊重新發送控制信號，返回步驟S1。

7.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述DSP處理模塊為TMS320C5535A10芯片。

8.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述FPGA模塊為PS1SGX10C芯片。

9.如權利要求1~8中任一項所述的方法，其特征在于，所述A/D轉換模塊為ADC081000芯片。