[發明專利]LED測試裝置、系統及方法有效
| 申請號: | 201210483639.0 | 申請日: | 2012-11-23 |
| 公開(公告)號: | CN102944826A | 公開(公告)日: | 2013-02-27 |
| 發明(設計)人: | 劉巖;李永光;胡益民;曹廣忠;敬剛;楊永剛;劉文斌;湯皎寧;張志甜;高文杰;袁文龍;張超;朱惠忠;梁榮;陸兆隆 | 申請(專利權)人: | 深圳清華大學研究院 |
| 主分類號: | G01R31/26 | 分類號: | G01R31/26;G01M11/02 |
| 代理公司: | 深圳市維邦知識產權事務所 44269 | 代理人: | 王昌花 |
| 地址: | 518000 廣*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | led 測試 裝置 系統 方法 | ||
1.一種LED測試裝置,包括連接并為待測LED試件供電的供電單元,其特征在于,LED測試裝置還包括:
用于承載LED試件的承載體;
用于帶動承載體及其上的LED試件振動的振動發生器;
底面設有通孔的遮光罩,所述承載體穿過所述通孔置于遮光罩中以使遮光罩罩住所述LED試件;以及
安裝于遮光罩上并采集遮光罩內的漫反射光線以對LED試件的光學參數進行測量的測光儀。
2.如權利要求1所述的LED測試裝置,其特征在于,測光儀包括取光單元和通過光纖連接于取光單元的測光單元,遮光罩的頂壁上設有取光單元,遮光罩內還設有用于遮擋由LED試件直射向取光單元的直射光的遮光板。
3.如權利要求1所述的LED測試裝置,其特征在于,所述遮光罩由一支架支撐,且支架的高度與振動發生器的高度相匹配,以使遮光罩罩住所述LED試件。
4.如權利要求1所述的LED測試裝置,其特征在于,所述承載體剛性固定在振動發生器的振動臺面上。
5.如權利要求1所述的LED測試裝置,其特征在于,所述振動發生器為振動頻率、振動幅度及振動時間受控可調的電動式、電磁式、機械式、液壓式或氣動式的振動發生器。
6.如權利要求1所述的LED測試裝置,其特征在于,所述遮光罩為積分球、溫控箱或濕熱試驗箱。
7.一種LED測試系統,其特征在于,所述LED測試系統包括:
如權利要求1至6中任一項所述的LED測試裝置;以及
連接于并控制所述振動發生器、測光儀及供電單元協調工作的控制器。
8.一種LED測試方法,其特征在于,所述方法包括:
準備步驟:裝配LED測試系統,并設置本次測試的振動參數;
振動步驟:根據所述振動參數帶動LED試件振動;及
取光測量步驟:實時采集LED試件對應的漫反射光線并對LED試件的光學參數進行測量。
9.如權利要求8所述的LED測試方法,其特征在于,
所述準備步驟還包括界限設置子步驟:設置本次測試的衰減界限參數。
10.如權利要求9所述的LED測試方法,其特征在于,所述取光測量步驟之后還包括:
判斷步驟:判斷當前被測LED試件是否超出所設衰減界限參數,若是則結束本次測試。
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